DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UNE OUVERTURE OU D'UNE TENTATIVE D'OUVERTURE D'UN RÉCIPIENT FERMÉ

    公开(公告)号:WO2020099747A1

    公开(公告)日:2020-05-22

    申请号:PCT/FR2019/052521

    申请日:2019-10-23

    Abstract: Dispositif et procédé de détection d'une ouverture ou d'une tentative d'ouverture d'un récipient fermé Système, comprenant un récipient fermé (RCP), et un dispositif (DSD) de détection d'une ouverture ou d'une tentative d'ouverture du récipient, le dispositif de détection (DSD) comprenant un transpondeur passif sans contact (TG) configuré pour communiquer avec un lecteur (RD) via une antenne (ANT) en utilisant un signal de porteuse, le transpondeur (TG) comportant un circuit intégré (IC) possédant deux bornes d'antenne (AC0, AC1) connectées à l'antenne et une première et une deuxièmes bornes supplémentaires (TDO, TDI) reliées par un premier fil électriquement conducteur (FL1) ayant une partie sectionnable (FL10) et agencé pour être sectionné au niveau de sa partie sectionnable en cas d'ouverture ou de tentative d'ouverture du récipient, et un moyen de court-circuit (MP, PLT, FL2) configuré pour court-circuiter la première borne supplémentaire (TDO) avec une autre borne (AC1) du circuit intégré en cas de sectionnement de la partie sectionnable (FL10) et reconstitution d'une connexion électrique entre les première et deuxième bornes supplémentaires (TDO, TDI).

    ASSISTANCE AU POSITIONNEMENT D'UN TRANSPONDEUR
    32.
    发明申请
    ASSISTANCE AU POSITIONNEMENT D'UN TRANSPONDEUR 审中-公开
    TRANSPONDER定位辅助

    公开(公告)号:WO2012164178A1

    公开(公告)日:2012-12-06

    申请号:PCT/FR2012/050842

    申请日:2012-04-18

    Inventor: WUIDART, Luc

    CPC classification number: H04B5/00 G06K7/0008 G06K7/10128 G06K7/10386

    Abstract: L'invention concerne un procédé d'assistance au positionnement d'un transpondeur électromagnétique vis-à-vis d'un terminal par un utilisateur, dans lequel : une première valeur (li) du courant dans un circuit oscillant du terminal est périodiquement mesurée; une deuxième valeur d'un rapport entre une valeur à vide (Iv) de ce courant, mémorisée lorsqu'aucun transpondeur n'est dans le champ du terminal, et la première valeur est calculée; et des éléments d'information à destination de l'utilisateur sont commandés en fonction de ladite deuxième valeur.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于帮助用户相对于终端定位电磁应答器的方法,其中:周期性地测量终端的振荡电路中的电流的第一值(Ii); 计算当在终端的场中没有应答器时存储的该当前的空值(Iv)与第一值之间的比率的第二值; 并且针对用户的信息元素被控制为所述第二值的函数。

    PROCEDE ET DISPOSITIF DE CARACTERISATION OU DE MESURE D'UNE CAPACITE FLOTTANTE
    34.
    发明申请
    PROCEDE ET DISPOSITIF DE CARACTERISATION OU DE MESURE D'UNE CAPACITE FLOTTANTE 审中-公开
    用于表征或测量浮动电容器的方法和装置

    公开(公告)号:WO2011138530A1

    公开(公告)日:2011-11-10

    申请号:PCT/FR2011/050579

    申请日:2011-03-21

    CPC classification number: G01R27/2605 G06F3/0416 G06F3/044

    Abstract: L'invention comprend des étapes consistant à : relier une première borne (A) de la capacité au point milieu (N1) d'un premier pont diviseur de tension (L1), appliquer une première tension (V1) à une seconde borne (B) de la capacité, maintenir une tension (V1) d'un point milieu (N1) du premier pont diviseur au voisinage d'une tension de référence (Vref), et décharger un point milieu(N2) d'un second pont diviseur (L2) avec un courant constant (I). Lorsqu'une tension (V2) du point milieu (N2) du second pont atteint un premier seuil (Vref), appliquer une seconde tension (GND) à la seconde borne (B) de la capacité, et mesurer le temps nécessaire à ce que la tension (V2) atteigne un second seuil (Vref').

    Abstract translation: 本发明涉及以下步骤:将电容器的第一端子(A)连接到第一分压桥(L1)的中点(N1); 向所述电容器的第二端子(B)施加第一电压(V1); 从第一分隔桥的中点(N1)保持电压(V1)接近参考电压(Vref); 通过恒定电流(I)释放第二分隔桥(L2)的中点(N2); 当来自第二桥的中点(N2)的电压(V2)达到第一阈值(Vref)时,向电容器的第二端子(B)施加第二电压(GND); 并测量电压(V2)达到第二阈值(Vref')所需的时间。

    PROCEDE ET DISPOSITIF DE CARACTERISATION OU DE MESURE D'UNE CAPACITE
    35.
    发明申请
    PROCEDE ET DISPOSITIF DE CARACTERISATION OU DE MESURE D'UNE CAPACITE 审中-公开
    用于表征或测量电容器的方法和装置

    公开(公告)号:WO2011138529A1

    公开(公告)日:2011-11-10

    申请号:PCT/FR2011/050578

    申请日:2011-03-21

    CPC classification number: G01R27/2605 G06F3/0416 G06F3/044

    Abstract: L'invention concerne un procédé pour caractériser ou mesurer une capacité (Cc), comprenant les étapes consistant à : relier la capacité (Cc) à un premier point milieu (N1) d'un premier pont diviseur capacitif (L1), appliquer au pont diviseur une tension de polarisation (V3), maintenir la tension (V1) du premier point milieu (N1) au voisinage d'une tension de référence (Vref), décharger un second point milieu (N2) d'un second pont diviseur (L2) en parallèle avec le premier (L1) au moyen d'un courant constant (I), et mesurer le temps nécessaire à ce qu'une tension (V2) du second point milieu devienne égale à la tension (V1) du premier point milieu (N1). Application notamment au contrôle d'un afficheur à écran tactile.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于表征或测量电容器(Cc)的方法,所述方法包括以下步骤:将电容器(Cc)连接到第一电容分压桥(L1)的第一中点(N1); 向分隔桥施加偏置电压(V3); 保持第一中点(N1)的电压(V1)接近参考电压(Vref); 通过恒定电流(I)与第一分隔桥(L1)平行地释放第二分隔桥(L2)的第二中点(N2); 并且测量从第二中点起的电压(V2)变得等于从第一中点(N1)的电压(V1)所需的时间。 本发明可以特别用于监视触摸屏显示器。

    GESTION DE PUISSANCE DANS UN TRANSPONDEUR ELECTROMAGNETIQUE
    36.
    发明申请
    GESTION DE PUISSANCE DANS UN TRANSPONDEUR ELECTROMAGNETIQUE 审中-公开
    电磁传感器的电源管理

    公开(公告)号:WO2010146278A1

    公开(公告)日:2010-12-23

    申请号:PCT/FR2010/051091

    申请日:2010-06-03

    Inventor: WUIDART, Luc

    Abstract: L'invention concerne un procédé de gestion de la puissance dans un transpondeur électromagnétique dans le champ d'un terminal, comportant les étapes suivantes : évaluer (40) la consommation des circuits du transpondeur; et si cette consommation est inférieure à un seuil, évaluer le facteur de couplage courant (k) entre le transpondeur et le terminal et, en fonction du couplage courant : provoquer (52) une augmentation de la consommation du transpondeur ou provoquer (50) un désaccord d'un circuit oscillant du transpondeur.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于控制终端领域的电磁应答器的功率的方法,所述方法包括以下步骤:评估应答器的电路的消耗; 如果该消耗低于某个阈值,则评估应答器与终端之间的当前耦合因子(k) 并且根据当前的耦合,应答器的消耗增加(52)或发生应答器的振荡电路的不一致。

    TRANSMISSION SUR BUS I2C
    37.
    发明申请
    TRANSMISSION SUR BUS I2C 审中-公开
    I2C总线传输

    公开(公告)号:WO2010076455A1

    公开(公告)日:2010-07-08

    申请号:PCT/FR2009/052480

    申请日:2009-12-10

    CPC classification number: G06F13/4291

    Abstract: L'invention concerne un procédé et système de transmission multi-canal sur un bus bifilaire comportant un signal de données (SDA) et un signal de synchronisation (SCL), des données d'un premier canal étant transmise par un codage d'état du signal de données pendant une période incluant un premier état du signal de synchronisation, des données d'un deuxième canal étant transmises par codage impulsionnel hors de ladite période.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于通过包括数据信号(SDA)和时钟信号(SCL)的双线总线进行多信道传输的方法和系统,通过对数据的状态进行编码而发送的第一信道的数据 在包括时钟信号的第一状态的周期期间发送信号,以及在所述周期之外通过脉冲编码发送的第二信道的数据。

    PROCEDE DE CONTROLE EN TEMPS REEL DE LA FABRICATION DE CIRCUITS INTEGRES A L'AIDE DE STRUCTURES DE CONTROLE LOCALISEES DANS L'ESPACE MODELE OPC
    38.
    发明申请
    PROCEDE DE CONTROLE EN TEMPS REEL DE LA FABRICATION DE CIRCUITS INTEGRES A L'AIDE DE STRUCTURES DE CONTROLE LOCALISEES DANS L'ESPACE MODELE OPC 审中-公开
    通过OPC模型空间中的本地化监控结构实时监测集成电路制造的方法

    公开(公告)号:WO2009138835A1

    公开(公告)日:2009-11-19

    申请号:PCT/IB2009/005487

    申请日:2009-05-01

    CPC classification number: G03F7/70483 G03F1/00 G03F1/36

    Abstract: L'invention concerne un procédé de contrôle de la fabrication de circuits intégrés, comprenant des étapes de détermination de paramètres caractéristiques d'une courbe d'intensité de rayonnement appliqué à une plaquette de semi-conducteur (W) au travers d'un masque (MSK), en des zones critiques de structures à former sur la plaquette, pour chacune des zones critiques, placement d'un point de mesure dans un espace multidimensionnel dont chaque dimension correspond à l'un des paramètres caractéristiques, placement dans l'espace multidimensionnel de points de contrôle répartis autour d'une région délimitée par les points de mesure, de manière à délimiter une enveloppe entourant la région, pour chaque point de contrôle, définition de structures de contrôle (CS) correspondant chacune à un point de contrôle, générer un masque contenant les structures de contrôle, application à une plaquette de semi-conducteur d'un traitement faisant intervenir le masque généré, et analyse des structures de contrôle transférées à la plaquette pour y détecter des défauts éventuels.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于监控集成电路制造的方法,包括以下步骤:确定在晶片上形成的结构的关键区域中跨越掩模(MSK)施加到半导体晶片(W)的辐射强度曲线的参数特性, 每个关键区域; 将测量点放置在多维空间中,其每个维度对应于特征参数之一; 在多维空间中放置分布在由测量点限定的区域周围的监测点,使得为每个监测点定义围绕该区域的壳体; 定义监视结构(CS),每个对应于一个监控点; 生成包含所述监视结构的掩模; 在半导体晶片上实施使用所生成的掩模的处理; 并分析转移到晶片的监测结构,以检测其可能的缺陷。

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