X선 검사장치와 이를 이용한 검사방법
    31.
    发明授权
    X선 검사장치와 이를 이용한 검사방법 有权
    使用X射线检查装置和检查方法

    公开(公告)号:KR100625641B1

    公开(公告)日:2006-09-20

    申请号:KR1020040030417

    申请日:2004-04-30

    Applicant: (주)펨트론

    Inventor: 유영웅 최영진

    Abstract: 본 발명은 X선 검사장치에 관한 것으로서, 대상물체가 안착되며 판면에 수직인 축을 회전축으로 하여 회전하는 테이블과, 상기 대상물체에 X선을 조사하는 X선 발생기와, 상기 X선 발생기가 상기 테이블의 회전평면과 소정의 각도를 이루는 평면상에서 이동하도록 형성된 X선 발생기 안내부와, 상기 대상물체를 통과한 X선을 검출하는 검출기와, 상기 검출기가 상기 테이블을 사이에 두고 상기 X선 발생기와 대향되게 동기 이동하도록 형성된 검출기 안내부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 인쇄회로 기판 상의 납땜부 등의 불량여부를 검사하기 위한 X선 검사장치를 간단하게 구성할 수 있다.

    X선 검사장치와 이를 이용한 검사방법
    32.
    发明公开
    X선 검사장치와 이를 이용한 검사방법 有权
    使用X射线检查装置和检查方法

    公开(公告)号:KR1020050104947A

    公开(公告)日:2005-11-03

    申请号:KR1020040030417

    申请日:2004-04-30

    Applicant: (주)펨트론

    Inventor: 유영웅 최영진

    CPC classification number: G01N23/043 H05K3/341 H05K13/08

    Abstract: 본 발명은 X선 검사장치에 관한 것으로서, 대상물체가 안착되며 판면에 수직인 축을 회전축으로 하여 회전하는 테이블과, 상기 대상물체에 X선을 조사하는 X선 발생기와, 상기 X선 발생기가 상기 테이블의 회전평면과 소정의 각도를 이루는 평면상에서 이동하도록 형성된 X선 발생기 안내부와, 상기 대상물체를 통과한 X선을 검출하는 검출기와, 상기 검출기가 상기 테이블을 사이에 두고 상기 X선 발생기와 대향되게 동기 이동하도록 형성된 검출기 안내부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 인쇄회로 기판 상의 납땜부 등의 불량여부를 검사하기 위한 X선 검사장치를 간단하게 구성할 수 있다.

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