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公开(公告)号：CN105527598B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN108663572A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810155661.X
申请日：2018-02-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开了一种平面波相位多段测量拼接方法，解决现有方法无法在不同尺寸紧缩场测试，且造价昂贵，存储、保管、运输、安装复杂的问题。所述方法，包含以下步骤：在紧缩场静区边缘外固定放置激光发射设备，使激光准直仪发出的激光平面与紧缩场来波方向垂直；通过激光跟踪仪对扫描架初始位置进行定位，并保持所述激光发射设备固定不动；在激光平面内，移动探头测量得到紧缩场第一截面的平面波特性；在激光平面内平行移动所述扫描架的位置至待检测位置；在激光平面内，移动探头测量得到所述紧缩场第二截面的平面波特性；将第一截面、第二截面的平面波特性进行拼接，得到所述紧缩场平面波的相位特性。本发明实现了对大静区紧缩场平面波特性的检测。
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公开(公告)号：CN104536812B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201410838583.5
申请日：2014-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F9/46
Abstract: 本发明公开一种基于LabVIEW的动态链接库的调用方法，包括：确定动态链接库DLL文件的位置、函数原型，以及函数的参数及类型；选取函数调用的方式；利用LabVIEW中调用库函数节点CLF提取DLL文件中的函数；基于LabVIEW的规范配置DLL文件中的函数；输入被调用的函数名，得到基于LabVIEW配置完成的函数的形参类型和返回值类型；将CLF中的节点和与其数据类型节点相对应的属性结点连接，完成利用LabVIEW的代码设计。本发明所述技术方案通过LabVIEW中使用CLF来调用其它语言产生的动态链接库函数，从而完成LabVIEW无法胜任的工作，提高了程序开发的效率。
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公开(公告)号：CN103116081B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201210593067.1
申请日：2012-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/02
Abstract: 本发明公开了一种脉冲电流的校准方法，该校准方法包括如下步骤：脉冲电流源(1)输出的脉冲电流经衰减器(2)、示波器(3)、地和匹配电阻(4)形成闭合的电流回路；通过衰减器(2)使示波器(3)的输入电压衰减；通过示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系获得所述脉冲电流的特征参数。通过调节衰减器(2)的衰减比能够调节示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系。所述校准方法能够校准脉冲电流源产生的脉冲电流，获得脉冲电流的脉冲幅度、脉冲上升时间、脉冲下降时间和脉冲宽度等特征参数。
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公开(公告)号：CN104536812A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410838583.5
申请日：2014-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F9/46
Abstract: 本发明公开一种基于LabVIEW的动态链接库的调用方法，包括：确定动态链接库DLL文件的位置、函数原型，以及函数的参数及类型；选取函数调用的方式；利用LabVIEW中调用库函数节点CLF提取DLL文件中的函数；基于LabVIEW的规范配置DLL文件中的函数；输入被调用的函数名，得到基于LabVIEW配置完成的函数的形参类型和返回值类型；将CLF中的节点和与其数据类型节点相对应的属性结点连接，完成利用LabVIEW的代码设计。本发明所述技术方案通过LabVIEW中使用CLF来调用其它语言产生的动态链接库函数，从而完成LabVIEW无法胜任的工作，提高了程序开发的效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119846316A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411918738.6
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请提供一种测量脉冲短路电流参数系统、方法、设备及存储介质，实现对浪涌脉冲短路电流参数的测量。该系统包括：转接器，将浪涌发生器的输出端，转换为适用于同轴电缆的接口，通过同轴电缆与电压电流转换装置的一端相连，其中，浪涌发生器的输出端输出浪涌发生器生成的电流信号；短路器，短路器与电压电流转换装置的另一端相连，用于将浪涌发生器的输出端短路，以生成短路电流信号；电压电流转换装置，电压电流转换装置内固定有电流探头，电流探头用于感应短路电流信号，以及转换短路电流信号为可测量的电压信号，并从电流探头的输出端输出；示波器，示波器的输入端与电流探头的输出端相连，用于显示电流探头的输出端输出的电压信号的波形。
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公开(公告)号：CN119846281A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411918547.X
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请提供一种静电放电模拟器校准使用的法拉第笼装置，用于解决静电放电模拟器校准时的电磁干扰问题，并且具有更好的屏蔽性能、散热性能等优点。该装置包括：箱体和箱门，箱门通过铰链与箱体连接，箱体和箱门的开合处设置有锁扣结构，箱门的左侧安装有门把手；箱体外表面的左侧安装有静电放电靶和接地柱，并且接地柱在静电放电靶的靶心的正下方；箱体内低于静电放电靶的位置安装有隔板；箱体内表面的后侧且高于隔板的位置，设置有连接到箱体外部的同轴法兰；箱体内表面的后侧且低于隔板的位置，设置有电源滤波器。
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公开(公告)号：CN111624425A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010474687.8
申请日：2020-05-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种电磁脉冲信号屏蔽效能的测量系统及方法，该系统由电磁脉冲信号发生器、发射天线、接收天线及电磁脉冲接收设备组成，接收天线至少设有两根，电磁脉冲接收设备与接收天线对应设置，发射天线与电磁脉冲信号发生器连接，接收天线与电磁脉冲接收设备连接。本发明在测量过程中利用两根接收天线，分别获得在自由空间中及金属壳体内的接收信号，将两次测量中两根接收天线获得的接收信号差值进行对比，来表征金属壳体对电磁脉冲辐射信号的减弱程度，有效避免电磁脉冲信号发生器在两次测量过程中的变化而引入的测量误差。
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公开(公告)号：CN104535858B
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN104567764A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410828069.3
申请日：2014-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B21/00
Abstract: 本发明公开一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，该方法包括以暗室中的发射天线作为点源，暗室中的每个面分别作为镜面，将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点；将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线，在每个面上得到连线与该面的交汇区域；将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。本发明所述技术方案，能够准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域，进行减少吸波材料的浪费。
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