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公开(公告)号：CN104659487A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201410812485.4
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01Q3/02
Abstract: 本发明公开一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置，其该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座；筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒，外套筒水平地固设在支架上，内套筒的一端面上设有底座；横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接，并在接触面设置有相匹配的第一燕尾槽；横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动，横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度；纵导轨座通过直线滚珠丝杠与横导轨座连接，并在接触面设置有相匹配的第二燕尾槽，纵导轨座沿第二燕尾槽滑动，纵导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度并与横导轨座的滑动方向相垂直。该调节装置受重力影响小，调节精度高。
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公开(公告)号：CN104569943A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800369.0
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。
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公开(公告)号：CN104569932A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410812458.7
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/40 , G01S7/026 , G01S7/4004
Abstract: 本发明公开一种用于全极化雷达散射截面测量的校准装置，包括支架和椭圆形直角二面角，支架包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；安装平台上设有安装座，二面角支撑臂的一端可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行，椭圆形直角二面角固设在所述二面角支撑臂的另一端；椭圆形直角二面角在横截面的投影为圆形。本发明中的椭圆形直角二面角横截面为圆形，即不同横滚角下椭圆形直角二面角对应雷达散射截面测量系统辐射场的相同部分，具有横滚稳定性；椭圆形直角二面角在横滚角22.5°时其主极化与交叉极化散射场相等，与理想二面角的主极化和交叉极化的定量关系一致。
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公开(公告)号：CN104569931A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410797741.7
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种单站雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定发射接收天线所在位置；以发射接收天线所在位置为圆心，分别以待测目标所在测试区离发射接收天线最近和最远的距离为半径，在暗室中构建两个圆球面；所述两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为所述单站雷达目标特性测量同步散射点区域。该方法可快速找到暗室内与测试区任意位置待测目标信号同时到达发射接收天线的同步散射点区域，通过对这些区域统一添加高性能的吸波材料或想办法移走这些散射原，可以大幅度的降低这些部位的散射信号强度，减小这些部位散射对待测目标散射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN104466345A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410710494.2
申请日：2014-11-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种天线、低噪放及混频器连接机构，所述连接机构包括天线、波导、低噪放、混频器以及支撑系统，所述天线、低噪放和混频器通过波导依次连接；所述支撑系统的第一前档板和第二前档板通过前挡板支撑梁固接在一起，所述第二前档板和连接法兰通过支撑梁固接在一起；压板卡环固装在支撑梁上，压板卡环的径向设有卡槽，混频器压板卡套在压板卡环的卡槽中；混频器托板与混频器固装在一起，混频器托板的一端与混频器压板垂直固定；第一前挡板和第二前挡板均设有对应的中心孔，转盘穿过第一前挡板的中心孔和第二前挡板的中心孔；所述天线设于第一前挡板的前端，所述波导穿过转盘与低噪放连接，所述波导穿过混频器压板与混频器连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116148531A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211737334.8
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于脉冲调制开关比的测量领域，具体涉及了一种CS114连续波模拟器的脉冲调制开关比测量方法、系统及设备，旨在解决现有技术测量不足，无法实现脉冲调制开关快速反复开启和关断时开关比测量的问题。本发明包括：设定CS114连续波模拟器参数，并通过示波器通道1和通道2分别获取CS114连续波模拟器脉冲调制输出高电平有效值和低电平有效值；基于所述高电平有效值和低电平有效值，计算CS114连续波模拟器的脉冲调制开关比，完成CS114连续波模拟器所有频率点的脉冲调制开关比测量。本发明可实现对CS114连续波模拟器快速开启和关断的脉冲调制开关比测量。
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公开(公告)号：CN105527598B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN108663572A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810155661.X
申请日：2018-02-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开了一种平面波相位多段测量拼接方法，解决现有方法无法在不同尺寸紧缩场测试，且造价昂贵，存储、保管、运输、安装复杂的问题。所述方法，包含以下步骤：在紧缩场静区边缘外固定放置激光发射设备，使激光准直仪发出的激光平面与紧缩场来波方向垂直；通过激光跟踪仪对扫描架初始位置进行定位，并保持所述激光发射设备固定不动；在激光平面内，移动探头测量得到紧缩场第一截面的平面波特性；在激光平面内平行移动所述扫描架的位置至待检测位置；在激光平面内，移动探头测量得到所述紧缩场第二截面的平面波特性；将第一截面、第二截面的平面波特性进行拼接，得到所述紧缩场平面波的相位特性。本发明实现了对大静区紧缩场平面波特性的检测。
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公开(公告)号：CN104536812B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201410838583.5
申请日：2014-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F9/46
Abstract: 本发明公开一种基于LabVIEW的动态链接库的调用方法，包括：确定动态链接库DLL文件的位置、函数原型，以及函数的参数及类型；选取函数调用的方式；利用LabVIEW中调用库函数节点CLF提取DLL文件中的函数；基于LabVIEW的规范配置DLL文件中的函数；输入被调用的函数名，得到基于LabVIEW配置完成的函数的形参类型和返回值类型；将CLF中的节点和与其数据类型节点相对应的属性结点连接，完成利用LabVIEW的代码设计。本发明所述技术方案通过LabVIEW中使用CLF来调用其它语言产生的动态链接库函数，从而完成LabVIEW无法胜任的工作，提高了程序开发的效率。
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