用于提供位移信号的抗污染和缺陷光学编码器配置

    公开(公告)号:CN109211284B

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN201810695028.X

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种光学编码器配置包括标尺、照明源和光电检测器配置。照明源被配置为向标尺输出结构化照明。标尺沿着测量轴方向延伸并且被配置为输出标尺光,该标尺光形成检测器条纹图案,该检测条纹图案包括沿着测量轴方向在相对较长的尺寸上延伸的周期性高强度带和低强度带、并且沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向是相对窄的而且是周期性的。当标尺光栅沿着测量轴方向移位时,高强度带和低强度带沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向移动。光电检测器配置被配置为检测沿检测到的条纹运动方向的高强度带和低强度带的位移,并提供指示标尺位移的相应空间相位位移信号。

    光学角度传感器
    32.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110686621A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201910603187.7

    申请日:2019-07-05

    Inventor: 木村彰秀

    Abstract: 本发明提供一种高分辨率检测宽角度范围、没有标尺且能设定参考角度的光学角度传感器。光学角度传感器包括用于发出光的光源,用于围绕作为测量轴线的预定轴线旋转并反射从光源发出的光的反射器件,用于接收从光源发出的光的光接收器件,和用于计算通过光接收器件接收的作为信号的光的计算器件。光接收器件通过反射器件接收从光源发射的光。计算器件包括用于基于通过光接收器件接收的光来设定参考角度的设定器件和用于基于被光接收器件接收的光和被设定器件设定的参考角度来计算绝对角度的角度计算单元。

    用于提供位移信号的抗污染和缺陷光学编码器配置

    公开(公告)号:CN109211286A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810695534.9

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种光学编码器配置包括标尺、照明源和光电检测器配置。照明源被配置为向标尺输出结构化照明。该标尺沿着测量轴方向延伸并且被配置为输出标尺光,该标尺光形成检测器条纹图案,该检测器条纹图案包括沿着测量轴方向在相对较长的尺寸上延伸的周期性高强度带和低强度带,并且沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向是相对窄且周期性的。当标尺光栅沿着测量轴方向移位时,高强度带和低强度带沿横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向移动。光电检测器配置被配置为检测沿检测到的条纹运动方向的高强度带和低强度带的位移,并提供指示标尺位移的相应空间相位位移信号。

    用于提供位移信号的抗污染和缺陷光学编码器配置

    公开(公告)号:CN109211284A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810695028.X

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种光学编码器配置包括标尺、照明源和光电检测器配置。照明源被配置为向标尺输出结构化照明。标尺沿着测量轴方向延伸并且被配置为输出标尺光,该标尺光形成检测器条纹图案,该检测条纹图案包括沿着测量轴方向在相对较长的尺寸上延伸的周期性高强度带和低强度带、并且沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向是相对窄的而且是周期性的。当标尺光栅沿着测量轴方向移位时,高强度带和低强度带沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向移动。光电检测器配置被配置为检测沿检测到的条纹运动方向的高强度带和低强度带的位移,并提供指示标尺位移的相应空间相位位移信号。

    基准信号发生装置和基准信号发生系统

    公开(公告)号:CN104236606B

    公开(公告)日:2018-05-25

    申请号:CN201410360863.X

    申请日:2014-05-16

    Inventor: 木村彰秀

    CPC classification number: G01D5/347 G01D5/24438 G01D5/366 G01D5/38

    Abstract: 基准点检测光接收单元通过第一到第五光接收元件从基准点检测图案接收光。该第一到第五光接收元件布置在第一方向上并分别地输出第一到第五信号。基准信号发生电路输出一基准信号,该基准信号在其中通过将第一与第二信号相加而得到的信号的电平与通过将第三与第四信号相加而得到的信号的电平变为相等的周期处开始,以及在通过将该第二与第三信号相加而得到的信号与通过将该第四与第五信号相加而得到的信号的电平变为相等的周期处结束。

    位移检测装置、标尺校准方法和标尺校准程序

    公开(公告)号:CN103075965B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201210413781.8

    申请日:2012-10-25

    Inventor: 木村彰秀

    CPC classification number: G01D5/24495 G01D5/24452

    Abstract: 本发明涉及一种位移检测装置、标尺校准方法和标尺校准程序,所述位移检测装置包括:标尺,其具有光学格子;检测单元,其被配置为能够在扫描方向上相对于所述标尺移动,所述检测单元至少包括设置在所述扫描方向上以根据所述光学格子检测位置信息的第一检测部、第二检测部和第三检测部;以及计算部,用于通过基于所述检测单元所检测到的位置信息来确定所述检测部的位置并计算测量误差,来获得针对所述标尺的刻度的自校准曲线;其中,所述检测单元被设置为,所述第一检测部和所述第二检测部之间的距离与所述第二检测部和所述第三检测部之间的距离互不相同并且不形成整数倍的关系。

    光学编码器
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105547338A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510695498.2

    申请日:2015-10-23

    Inventor: 木村彰秀

    Abstract: 一种光学编码器(10),包括:光源(11);分割器(12),用于对来自光源(11)的光进行分割;受光单元(16);标尺(13),其配置在光路上并且沿测量方向能够移动,其中在该标尺的主面上配置光栅;以及偏移衍射光栅(14),其包括配置在从分割器(12)到受光单元(16)的光路中的多个衍射光栅,其中这多个衍射光栅使分割后的光以不同的相位发生衍射,其中,偏移衍射光栅(14)中的多个衍射光栅(13)配置在与标尺的主面平行的一面中,并且在与测量方向垂直的偏移方向上彼此偏移,以及受光单元(16)包括沿偏移方向配置的多个受光元件(16-11~16-23)。

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