Abstract:
PURPOSE: A circuit for generating a clock signal is provided to secure a set-up/hold time margin by removing a skew of the clock signal. CONSTITUTION: The circuit includes the first clock signal generators(52.NA3,I20) and the second clock signal generator(54,NA4,I21) The first clock signal generator generates the first clock signal by combining an external clock signal with the first signal generated by delaying the external signal, and has the first delay unit(52) for generating the first signal and the first AND gate(NA3,I20) for logically combining the clock signal with the first signal. The second clock signal generator generates the second clock signal by combining the external clock signal with the second signal generated by delaying the external signal, and has the second delay unit(54) for generating the second signal with the second AND gate(NA4,I21) for combining the clock signal with the second signal. The pulse width of the first clock signal is wider than the pulse width of the second clock signal. The active time section is formed within the time section of the first clock signal.
Abstract:
본 발명은 지연 수단들을 추가함으로써 정상 프리차아지 및 자동 프리차아지 명령에서 워드라인을 디세이블하는 속도를 일정하게 하기 위한 반도체 메모리 장치의 워드 라인 프리차아지 제어 회로를 개시한다. 이는 데이터의 리드/라이트 동작이 완료된 후 외부로부터 입력되어 워드 라인을 디세이블하는 정상 프리차아지(Normal Precharge) 명령 또는 데이터의 리드/라이트 명령과 함께 입력되어 데이터의 리드/라이트 동작이 완료된 후 자동으로 워드 라인을 디세이블하는 자동 프리차아지(Auto-Precharge) 명령을 입력으로하는 반도체 메모리 장치의 워드 라인 프리차아지 제어 회로에 있어서, 상기 정상 프리차아지(Normal Precharge) 명령이 입력될 때 동작하고 제 1 신호 지연 수단을 포함하는 제 1 회로부, 상기 자동 프리차아지(Auto-Precharge) 명령이 입력될 때 동작하고 제 2 신호 지연 수단을 포함하는 제 2 회로부, 및 상기 제 1 회로부 또는 제 2 회로부에서 출력된 신호를 입력으로하여 워드 라인을 디세이블하는 로우 마스터 신호(ΦR)를 출력하는 제 3 회로부를 구비한다.
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치의 데이타 처리방법을 공개한다. 그 방법은 행 어드레스에 의해서 복수개의 워드라인중의 하나를 선택하기 위한 행 디코더, 열 어드레스에 의해서 복수개의 비트라인쌍중 하나 이상의 비트라인쌍을 선택하기 위한 열 디코더, 상기 비트라인쌍사이에 연결되어 비트라인쌍으로 전송된 데이타를 증폭하기 위한 복수개의 증폭수단, 및 상기 워드라인과 비트라인에 연결된 복수개의 메모리 셀들을 가지는 메모리 셀 어레이를 구비한 반도체 메모리 장치의 데이타 처리방법에 있어서, 상기 행 디코더에 의해서 하나의 워드 라인을 인에이블하여 그 워드 라인에 연결된 메모리 셀들의 데이타를 상기 비트 라인쌍으로 전송하는 단계, 상기 비트라인쌍으로 전송된 데이타를 상기 증폭수단에 의해서 증폭하는 단계, 및 상기 행 디코더에 의해서 다른 하나의 워드 라인을 인에이블하여 상기 증폭단� ��에서 증폭된 비트 라인쌍의 데이타를 상기 다른 하나의 워드 라인에 연결된 메모리 셀들에 저장하는 단계로 이루어져 있다. 따라서, 하나의 명령신호를 인가하여 고속으로 데이타를 이동시킬 수 있다.
Abstract:
본 발명은 외부전원전압을 입력하여 내부전원전압을 발생하는 내부전원 발생수단; 테스트모드에서 인에이블되어 외부기준전압과 상기 내부전원전압을 비교하는 비교수단; 및 상기 비교수단의 출력에 응답하여 상기 내부전원전압의 레벨이 상기 외부기준전압의 레벨과 동일 이상으로 되면 상기 내부전원 발생수단의 출력전류를 방전시킴으로써 내부전원전압이 상기 외부전원전압 이상으로 상승되는 것을 방지하기 위한 클램프수단을 구비하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명에 의하면 반도체 메모리 장치의 여러 가지 테스트 과정에서 높은 전압과 온도를 가하게 될 때, 공급 전원으로 내부 전원을 만들어 쓰는 제품의 경우에 공급 전원이 높아짐에 따라 내부 전원의 전압도 따라서 높아지거나 내부 전원이 공급 전원보다 큰 경우에 발생할 수 있는 문제를 해결하여 반도체 메모리 장치의 테스트 과정에서 장치에 무리를 주지 않으면서 안정한 테스트를 가능하게 해 준다.
Abstract:
A multi port semiconductor memory device, a multi processor system using the same, and a driving method of a multi port semiconductor memory device are provided to access a shared memory region formed by a latch type memory cell through DRAM interface. At least two or more port units are connected to processors. Exclusive memory regions(10,11,12,13) are accessed by the processors corresponding to the port units, and comprise DRAM(Dynamic Random Access Memory) cells. A shared memory region(14) is accessed by the processors through the port units, and comprises memory cells of type different from the exclusive memory regions. The shared memory region is allocated into a memory capacity unit set in a part of a memory cell array. A port connection control part(50) controls a data pass between the shared memory region and the port units.
Abstract:
A multi-path accessible semiconductor memory device having mail box regions and a method of controlling mail box access are provided to share a data input/output path, transmit a message through an additional message input/output line and minimize an increase in the number of message input/output lines to reduce a chip size. A multi-path accessible semiconductor memory device(100) includes at least one shared memory region(112) and mail box regions(260,270). The shared memory region is operatively connected to a plurality of independent ports(120,130), selectively accessed through a data access path formed between one of the ports, which is authorized, and the shared memory, and allocated to a memory cell array. The mail box regions are respectively provided for the ports for message communication among the ports and share a data input/output line which forms the data access path to be accessed corresponding to a specific address of the shared memory region.
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치 및 이에 따른 셀프 리프레쉬 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치는, 복수개의 입출력 포트를 구비하고, 각각의 입출력 포트를 통하여 각각 독립적인 동작을 수행하되, 상기 복수개의 입출력 포트들 중 어느 하나의 입출력포트를 통하여 셀프리프레쉬 동작이 수행될 때의 셀프리프레쉬 주기는 다른 입출력 포트를 통해 수행되는 동작의 종류에 종속적임을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 듀얼 포트 반도체 메모리 장치를 포함하는 멀티 포트 반도체 메모리 장치에서의 리프레쉬 특성이 개선되는 효과가 있다. 듀얼포트, 셀프 리프레쉬, 액티브, 주기, 종속
Abstract:
본 발명은 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 컬럼 인에이블 신호 발생방법을 공개한다. 이 장치는 리드 명령이 인가되면 레이턴시 신호에 해당하는 클럭 사이클만큼 지연된 후에 활성화되고, 버스트 길이 신호에 해당하는 클럭 사이클만큼 활성화 상태를 유지한 후에 비활성화되는 레이턴시 제어신호를 발생하고, 레이턴시 제어신호에 응답하여 버퍼된 클럭신호를 컬럼 인에이블 신호로 발생하는 컬럼 인에이블 신호 발생기, 리드 명령이 인가된 후 제1시간 후에 활성화되고 제2시간만큼 경과한 후에 비활성화되는 로우 인에이블 신호를 발생하는 로우 인에이블 신호 발생기, 및 컬럼 인에이블 신호를 입력하여 컬럼 인에이블 신호의 활성화 시점으로부터 1클럭 사이클만큼 지연되어 활성화되는 제1신호를 발생하고, 로우 인에이블 신호에 응답하여 제2신호를 발생하여, 제2신호를 최종 컬럼 인에이블 신호로 발생한 후에, 제1신호를 상기 최종 컬럼 인에이블 신호로 발생하는 최종 컬럼 인에이블 신호 발생기로 구성되어 있다. 따라서, 레이턴시가 달라지고 공정, 전압, 및 온도 변화가 발생하더라도 워드 라인 인에이블 신호의 활성화 시점부터 컬럼 선택신호의 활성화 시점까지의 시간이 동일해짐에 의해서 데이터 리드 오류가 제거될 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A refresh control circuit of a pseudo static random access memory and a control method thereof are provided, which enables a high speed access and varies a dummy duration for refresh. CONSTITUTION: According to a pseudo static random access memory(PSRAM) performing a hidden refresh as to an internal memory cell using a refresh pulse signal being output from a refresh pulse generator, an ATD(Address Transition Detector)(10) generates an ATD pulse by detecting transition of an address signal. A normal access control signal generator generates a dummy control pulse setting a dummy duration for refresh and a word line enable signal enabled during the dummy duration and a word line enable duration in response to the ATD pulse and a dummy duration assuring pulse. A refresh control signal generator generates a refresh control signal in response to the refresh pulse and blocks the output of the refresh control signal in response to the word line enable control signal. And a word line selection circuit selects a word line of the memory cell by generating a word line selection signal having time 1 by the dummy control pulse and the refresh control signal and at the same time generates a dummy duration assuring pulse of time 2 longer than time 1 and then supplies it to the normal access control signal generator.
Abstract:
PURPOSE: A high speed synchronous memory having dual port is provided to improve the graphic processing speed. CONSTITUTION: A high speed synchronous memory having dual port comprises: memory cell array(31); a first port(DQ); a data input buffer(33) synchronized to a first clock, buffering the input data of the first port(DQ) and transforming to the memory cell array(31); a first data output buffer(35) synchronized to the first clock, buffering the output data of the memory cell array(31) and generating the data through the first port(DQ) to the outside; a register(36) temporally storing the data generated by the memory cell array(31); a second port(SDQ); and a second data output buffer(37) synchronized to a second clock, buffering the output data of the register(36) and generating the data through the second port(SDQ) to the outside.