Abstract:
데이터 처리 장치는 프로그램 메모리로부터 명령들을 페치하고, 상기 명령들을 디코딩하며 만약 코프로세서 타입 명령이 디코딩되면 코프로세서로 신호 (CCLK)를 전달하는 중앙처리장치와; 상기 신호 (CCLK)의 수신에 따라 상기 코프로세서 타입 명령을 디코딩하는 코프로세서와; 그리고 루프 내의 명령들을 상기 프로그램 메모리로부터 받아들이고 상기 코프로세서가 상기 코프로세서 타입 명령으로부터 루프 동작을 디코딩할 때 상기 루프의 명령들을 저장하는 루프 버퍼를 포함하고, 상기 루프의 명령들은 상기 루프의 다음 반복에서 실행하기 위해 상기 루프 버퍼로부터 보내지며; 그리고 상기 루프의 명령들이 상기 루프 버퍼로부터 보내지는 동안 상기 프로그램 메모리의 액세스를 금지시키기 위해 상기 프로그램 메모리에 디세이블 신호가 보내진다.
Abstract:
본 발명은 마이크로 프로세서 제어회로를 공개한다. 그 회로는 프로그램 데이타를 저장하는 명령어 레지스터, 명령어 레지스터로 부터의 프로그램 데이타를 디코딩하고 명령어 레지스터로 하여금 프로그램 데이타를 입력할 것인지 말 것인지를 제어하기 위한 제1제어신호를 발생하고 제2제어신호를 발생하기 위한 명령어 디코더, 프로그램 데이타가 소정수의 마이크로 명령으로 매크로 명령인 경우에 명령어 디코더로 부터의 두번째부터 마지막 마이크로 코드 롬 어드레스를 입력하여 각각의 마이크로 코드 롬 어드레스에 해당하는 마이크로 코드 제어신호를 발생하고 명령어 디코더로 마지막 마이크로 코드 제어신호의 발생을 알리는 신호를 발생하기 위한 명령어 코드 롬, 및 명령어 디코더로 부터의 제2제어신호에 응답하여 명령어 디코더로 부터의 첫번째 마이크로 코드 제어신호를 출력하거나, 명령 어 코드 롬으로 부터의 두번째부터 마지막까지의 마이크로 코드 제어신호를 출력하기 위한 멀티플렉서로 구성되어 있다.
Abstract:
A test structure for the radio frequency MOS transistor is provided to block the influence to the AC property of the RF MOS. A test structure(200) comprises the gate pads(120), the test pad(210), the fuse(220), the diodes(230). The gate pad is connected to the gate terminal of the RF MOS. The fuse is connected between the gate pad and the test pad. One side of the diode is connected between the fuse and the test pad, and the other side of the diode is connected to the ground power. The diode removes the plasma charge generated from the gate insulating layer in the manufacturing process of RF MOS.
Abstract:
본 발명은 마이크로 프로세서 제어회로를 공개한다. 그 회로는 프로그램 데이타를 저장하는 명령어 레지스터, 명령어 레지스터로 부터의 프로그램 데이타를 디코딩하고 명령어 레지스터로 하여금 프로그램 데이타를 입력할 것인지 말 것인지를 제어하기 위한 제1제어신호를 발생하고 제2제어신호를 발생하기 위한 명령어 디코더, 프로그램 데이타가 소정수의 마이크로 명령으로 매크로 명령인 경우에 명령어 디코더로 부터의 두번째부터 마지막 마이크로 코드 롬 어드레스를 입력하여 각각의 마이크로 코드 롬 어드레스에 해당하는 마이크로 코드 제어신호를 발생하고 명령어 디코더로 마지막 마이크로 코드 제어신호의 발생을 알리는 신호를 발생하기 위한 명령어 코드 롬, 및 명령어 디코더로 부터의 제2제어신호에 응답하여 명령어 디코더로 부터의 첫번째 마이크로 코드 제어신호를 출력하거나, 명령 어 코드 롬으로 부터의 두번째부터 마지막까지의 마이크로 코드 제어신호를 출력하기 위한 멀티플렉서로 구성되어 있다.
Abstract:
A data extraction/insertion device in a digital signal processor and a method thereof are provided. The data extraction/insertion method is performed in a digital signal processor including a source register and a destination registr. In this digital signal processor, data is extracted from the source register and inserted into the destination register using a position value, which represents the reference position of data extraction, and an offset value, which represents the size of data to be extracted. Accordingly, a sequence of data packets, the size of which are given in neither byte nor word unit, are effectively extracted or inserted, thus saving the space of a memory.
Abstract:
PURPOSE: A clock signal selection circuit of a semiconductor integrated circuit is provided to perform a stable selection operation when selecting one of a plurality of clock signals. CONSTITUTION: The circuit includes the first or the third D-flip flop(10,20,30) and the first and the second OR gate(40,50) and a multiplexer(60). The first D-flip flop operates by being synchronized to the second clock signal(CLK2), and receives a signal(A) inverted in an inverter(IV1) and transfers it to an output(Q). The second D-flip flop operates by being synchronized to the second clock signal, and receives an output signal(B) of the first D-flip flop and transfers it to the output(Q). The third D-flip flop operates by being synchronized to the first clock signal(CLK1), and transfers an output signal(C) of the second D-flip flop to the output(Q). The first OR gate(40) performs an OR operation by receiving the output signal(B) of the first D-flip flop and the second clock signal and outputs the result. The second OR gate performs an OR operation by receiving an inverted output signal(E) of the third D-flip flop and the selection signal and the first clock signal, and outputs the result. The multiplexer has one input terminal(A1) receiving an output signal(OR1_OUT) of the first OR gate and another input terminal(A2) receiving an output signal(OR2_OUT) of the second OR gate, and selects one of the signals(OR1_OUT,OR2_OUT) in response to the inverted output signal(D), and outputs the selected signal as a clock signal(OUT_CLK) of the semiconductor integrated circuit.
Abstract:
PURPOSE: A circuit for generating a data memory address of a low power programmable core is provided to improve an operating speed of a clock by maintaining a cycle per instruction as 1. CONSTITUTION: A circuit for generating a data memory address of a low power programmable core comprises relates to a data memory address generation circuit with an improved speed. The circuit comprises an adder(50), a logic device, an increasing and decreasing device(30), and a selector. The adder receives a sub n-bit command of an address stored in an index register(10) and an address of a command. And the adder outputs a sub n-bit address of a data memory. The logic device receives a carry from the adder and a code bit of the address of the command. The increasing and decreasing device increases and decreases '1' to an upper n-1 bit of the address stored in the register. The selector outputs selectively the address of the upper n-1 bit and the address input to the increasing and decreasing device.
Abstract:
명령 발생부에서 스톱명령이 발생하거나 외부에서 비동기적인 신호가 입력되면 메인 클럭신호의 상태를 하이상태로 유지하여 스톱명령이 실행되거나 비동기적인 신호가 입력되는 경우에 클럭신호가 온/오프를 반복함으로써 발생하는 디지털 시그널 프로세서의 소비전력을 줄이고, 비동기적인 신호를 래치로 동기화시켜 클럭신호를 제어하므로 글리치가 발생하지 않는다.