公开(公告)号：KR100737451B1

公开(公告)日：2007-07-10

申请号：KR1020060019384

申请日：2006-02-28

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 임상규 ,  백동석 ,  주재철 ,  편희수 ,  김영환 ,  최창훈 ,  최승민

IPC: H01L21/683

Abstract: A chuck for a wafer test apparatus is provided to support the lower surface of a wafer by using frictional force of a frictional support member installed on an upper surface of a first plate. A chuck includes a first plate(41) in which a wafer is mounted on an upper surface of the first plate, and at least one frictional support member(44) installed on the upper surface of the first plate for preventing rolling of the wafer and having a given frictional coefficient. The first plate and the frictional support member are made of conductive material for flow of current. The frictional support member is an O-ring extended in a radial direction of the first plate, and the first plate is provided with an engaging groove having a shape corresponding to the frictional support member.

Abstract translation: 提供一种用于晶片测试设备的卡盘，以通过使用安装在第一板的上表面上的摩擦支撑构件的摩擦力来支撑晶片的下表面。 卡盘包括其中晶片安装在第一板的上表面上的第一板（41）和安装在第一板的上表面上用于防止晶片的滚动的至少一个摩擦支撑构件（44），以及 具有给定的摩擦系数。 第一板和摩擦支撑构件由用于电流流动的导电材料制成。 摩擦支撑构件是沿第一板的径向方向延伸的O形环，并且第一板设置有具有与摩擦支撑构件对应的形状的接合槽。

公开(公告)号：KR100643389B1

公开(公告)日：2006-11-10

申请号：KR1020050059853

申请日：2005-07-04

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 최창훈 ,  편희수 ,  심화섭 ,  최호석 ,  백동석

IPC: G02F1/13

Abstract: An apparatus and a method for inspecting a thin film transistor substrate are provided to effectively inspect the thin film transistor, by measuring an electric signal generated from a pixel electrode, which is irradiated with an electron beam, through a data line. A stage(20) for loading a thin film transistor substrate is positioned within a vacuum chamber(10). An electron beam generator(30) is positioned above the stage. A gate driver(40) applies a gate on voltage to a gate line, thereby turning on a thin film transistor. A signal detector(50) is connected to a data line, and detects an electric signal from a pixel electrode. A controller(60) controls the gate driver and the electron beam generator to irradiate the pixel electrode with an electron beam while the thin film transistor is turned on.

Abstract translation: 提供了一种用于检查薄膜晶体管基板的设备和方法，以通过测量由数据线从用电子束照射的像素电极产生的电信号来有效地检查薄膜晶体管。 用于装载薄膜晶体管基板的台（20）位于真空室（10）内。 电子束发生器（30）位于台上方。 栅极驱动器（40）将栅极导通电压施加到栅极线，由此导通薄膜晶体管。 信号检测器（50）连接到数据线，并检测来自像素电极的电信号。 控制器（60）控制栅极驱动器和电子束发生器，以在薄膜晶体管导通时用电子束照射像素电极。

公开(公告)号：KR200324091Y1

公开(公告)日：2003-08-21

申请号：KR2019990001476

申请日：1999-02-02

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 편희수

IPC: H05K3/34

Abstract: 개시된 납땜 검사 장치는, 그 내부에 소정의 공간이 마련되고, 상기 공간으로 인쇄회로기판을 출입하기 위한 개구부가 그 전면에 마련된 본체; 상기 개구부를 개폐하기 위한 도어; 상기 본체의 전면에 힌지 고정되어 납땜검사장치를 설정하기 위한 조작패널; 상기 본체 내의 공간에 마련된 인쇄회로기판을 검사하는 것과 조작패널의 조작되는 상태를 작업자에게 보여주기 위한 하나이상의 디스플레이로 구비되는 납땜 검사 장치에 있어서, 상기 본체에 가이드 수단이 마련되고, 상기 가이드 수단에 상기 도어의 양단이 슬라이딩 이동되어, 상기 도어가 본체내로 인출입됨으로써, 도어가 상기 개구부를 개폐하도록 된 것을 특징으로 한다. 이에 따르면, 인쇄회로기판의 납땜 된 상태를 검사하기 위한 납땜 검사 장치의 개구부를 개폐하는 도어가 슬라이딩되어 본체 내로 인출입되도록 설치되므로, 납땜 검사 장치의 설정시 그 상태를 보여주는 디스플레이가 종래와 같이 도어에 의하여 가려지지 않으므로, 작업자는 디스플레이를 보면서 조작패널을 용이하게 조작할 수 있다는 장점이 있다.

公开(公告)号：KR100334642B1

公开(公告)日：2002-04-27

申请号：KR1020000001731

申请日：2000-01-14

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 편희수

IPC: H05K13/08

Abstract: 본 발명은, 마킹펜과, 상기 마킹펜을 소정의 피시비안착부에 로딩된 불량피시비에 접근 및 이반되도록 선형이동시키는 펜선형이동부와, 상기 마킹펜의 펜팁에 기밀결합된 펜캡을 갖는 피시비용 불량표식마킹장치에 관한 것으로서, 상기 펜캡을 지지하는 펜캡홀더와; 상기 펜캡홀더를 상기 마킹펜의 축선의 가로방향의 평면상에서 상기 마킹펜의 하부의 장착회동위치와 상기 불량피시비 외부의 회동철회위치간을 회동하는 홀더아암과; 상기 홀더아암을 회동구동시키는 아암회동구동부와; 이동축이 상기 아암회동구동부의 회동축과 일체로 회동가능하게 결합되어 상기 아암회동구동부의 회동축선상의 상부에 배치되고, 상기 홀더아암을 상기 펜캡과 상기 마킹펜이 결합되는 결합이동위치와 상기 홀더아암의 회동장착위치간을 선형이동시키는 아암선형구동부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 로봇의 작업반경을 감소시키고, 마킹펜의 교체주기를 연장시키며, 마킹펜의 교체시간을 단축할 수 있게 된다.

公开(公告)号：KR200151030Y1

公开(公告)日：1999-07-15

申请号：KR2019940014917

申请日：1994-06-23

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 염기건 ,  편희수

IPC: H04N17/00

Abstract: 디스플레이장치의 화면 조정장치에 관하여 개시하였다.
본 고안 디스플레이장치의 화면 조정장치는, 카메라 고정 지그 구조체에 카메라의 각도 및 위치 조정을 용이하게 할 수 있는 카메라 회동수단과 카메라 각도 조절수단을 구비함으로써 보다 정밀한 화면검사 및 조정이 가능하게 되어 디스플레이장치의 화면 검사 및 조정에 대한 정확도를 보다 향상시킬 수 있는 장점을 가지는 것이다.

公开(公告)号：KR100176482B1

公开(公告)日：1999-05-01

申请号：KR1019940005367

申请日：1994-03-17

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이창근 ,  편희수 ,  전인구

IPC: H05K13/08

Abstract: 본 발명은 화면조정장치의 모터 드라이브 비트 정렬방법 및 그 장치에 관한 것이다.
본 발명은 1) 화면조정장치의 드라이브 비트와 정렬상태를 감지하기 위한 복수개의 센서를 드라이브 비트의 각 관통공에 대응되도록 위치시켜 센서를 구동시키는 단계; 2) 소정의 디스플레이 장치에 의해 상기 센서들의 관통공 감지여부를 확인하는 단계; 3) 상기 센서들에 의해 감지되지 않은 드라이브 비트의 해당 조정 모터를 회전구동시키는 단계; 4) 상기 3)항의 실시 후, 상기 디스플레이 장치에 의해 상기 센서들의 관통공감지 여부를 재차 확인하는 단계; 5) 상기 4)항의 실시후, 상기 디스플레이 장치에 의한 확인으로 상기 센서들에 의해 관통공 감지가 된 드라이브 비트의 해당 조정모터를 정지시키는 단계; 및 6) 상기 디스플레이 장치에 의한 확인으로 모든 센서들에 의해 관통공이 감지될 때까지 상기 3),4),5)항을 반복 실시하는 단계를 포함하여 된 점에 특징이 있으며, 이를 수행하기 위해 본 발명의 장치는 복수개의 센서와 센서로부터의 신호를 디스플레이하는 한편 그 신호에 따라 조정모터 제어신호를 송출하는 제어장치를 구비하고 있다.
따라서, 미리 드라이브 비트의 단부를 홈형태와 일치되도록 정렬한 다음 볼륨 홈에 삽입시키게 되므로, 화면조정의 전체 소요시간을 대폭 감축시킬 수 있다.

公开(公告)号：KR100176519B1

公开(公告)日：1999-04-01

申请号：KR1019950019824

申请日：1995-07-06

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 염기건 ,  편희수

IPC: G01R31/28

Abstract: 실장된 QFP와 IC 등의 납땜 상태의 검사 등이 가능한 인쇄 회로 기판 실장 부품 검사용 검사 장치와 그 방법이 개시되어 있다.
QFP와 IC 등을 인새 회로 기판에 실장한 후에 납땜 상태에 대한 검사가 필요함에도 이를 위한 적절한 검사 장치나 방법이 없어 경제성이나 작업 효율 면에서 많은 손실을 초래하고 있다.
이러한 문제를 해결하기 위하여, 하면에 소정의 형상으로 형성된 삽입홈을 갖는 검사 용구, 검사 용구의 삽입홈에 삽입되는 전도성 고무, 검사 용구를 안내하고 지지하는 축, 축에 삽입되어 검사 용구를 지지하는 스프링, 검사 용구가 설치되는 상부 구조체, 상부 구조체가 하강되어 기판을 누르면 기판의 하부에서 이와 전기적으로 접촉하는 복수의 접촉 핀, 접촉 핀이 설치되는 하부 구조체 및, 접촉 핀에 전류를 인가하도록 전기적으로 연결되어 있는 제어 수단을 포함하는 인쇄 회로 기판 실장 부품 검사용 검사 장치와, 이에 의한 검사 방법을 안출하였다.
이와 같은 검사 장치와 검사 방법은 각종 인쇄 회로 기판의 실장 부품 검사에 적용될 수 있다.

公开(公告)号：KR100170652B1

公开(公告)日：1999-03-20

申请号：KR1019930029062

申请日：1993-12-22

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 전인구 ,  편희수

IPC: H04N5/52

Abstract: 본 발명은 화면크기 자동조정장치 및 그 방법에 관한 것이다.
본 발명은 CRT에 소정의 패턴화면을 인가하는 패턴발생기와 CRT의 전면에 위치되어 휘도를 감지하는 센싱부와, 센싱부로부터의 전송데이타를 수신하여 소정의 기준치와 비교판단하는 중앙제어장치부와, 중앙제어장치부의 제어명령신호에 따라 구동하는 모터구동부와, 모터구동부의 제어신호에 따라 작동하여 화면크기 조정용 볼륨을 회전시켜주는 모터를 구비하여 된 점에 그 특징이 있다.
따라서, 휘도센서에 의해 측정된 휘도값을 컴퓨터에 의해 비교판단하여 그 결과에 따라 모터구동부를 제어하고, 동시에 그에 따른 모터의 회전변화량으로 화면크기 조정용 볼륨을 회전시켜 화면크기를 조정하게 되므로 종래의 눈짐작에 따른 수작업에 의한 화면크기 조정방법에 비해 월등히 그 정확도를 향상시킬 수 있다.

公开(公告)号：KR100161005B1

公开(公告)日：1999-01-15

申请号：KR1019920019355

申请日：1992-10-21

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 편희수

IPC: B23Q3/157

Abstract: 본 발명은 다수의 공구가 장착된 공구대를 적재하기위한 공구대 적재장치에 관한것으로서, 지지판(2)상에 고정설치된 상부판(3a)(3b)과, 상기 상부판(3a)(3b)상에 대향설치된 제1 및 제2 실린더(4)(5)와, 상기 제1 및 제2 실린더(4)(5)의 로드(4a)(5a)에 장착되며 선단에는 어댑터(12) 상에 장착된 공구대(22)를 분리시키는 베어링(8)이 삽입설치된 가이드블록(7)과, 상기 어댑터(12)의 배면에 형성된 안내홈(12a)(12b)내로 삽입되어 상기 어댑터(12)의 위치를 결정하는 안내핀(21a)(21b)과, 상기 어댑터(12)가 적재되는 것을 감지하여 상기 제1 및 제2 실린더(4)(5)를 작동시키는 센싱부(16)와로 이루어져 공구대의 교환이 용이하고 신속할 뿐만 아니라 작업을 연속적으로 행할 수 있어 생산성을 향상시킬 수 있게 된다.

公开(公告)号：KR200131598Y1

公开(公告)日：1998-12-15

申请号：KR2019940014918

申请日：1994-06-23

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 편희수 ,  염기건

IPC: H04N3/22

Abstract: 본 고안은 디스플레이장치의 화면 조정장치에 관하여 개시하였다.
본 고안 디스플레이장치의 화면 조정장치는 검사 화면에 대해 각각의 카메라 길이를 개별적으로 조절할 수 있는 카메라 길이 조절수단과, 카메라 고정 지그 구조체의 근접거리를 전체적으로 조절할 수 있는 직선왕복운동수단을 구비하고, 카메라의 취부 구조를 보다 간단하게 개선함으로써 종래 보다 많은 카메라를 결합할 수 있게 되어 화면 검사 및 조정의 정확도를 보다 향상시킬 수 있으며, 종래 카메라 교체시 복잡하게 구성되어 있는 부재 등을 분해해야 하는 번거로움을 해소할 수 있을 뿐만 아니라 이로 인하여 카메라 교체작업시 효율을 보다 향상시킬 수 있는 장점을 가지도록 한 것이다.