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公开(公告)号：KR101543702B1
公开(公告)日：2015-08-11
申请号：KR1020140019152
申请日：2014-02-19
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G11C29/00
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/26 , G01R31/2853 , G01R31/31703 , G01R31/318513 , G01R31/31937 , G11C29/025 , G11C29/40
Abstract: 본 발명은 반도체 장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것으로, 반도체 장치는 적층되는 복수의 반도체 다이; 복수의 반도체 다이 간에 신호를 전달하는 복수의 관통 전극; 복수의 반도체 다이 간에 형성되는 적어도 하나의 리던던시 관통 전극; 논리 연산에 의해 복수의 관통 전극으로 입력되는 입력 신호들로부터 제1 출력 값을 산출하는 제1 연산부; 논리 연산에 의해 복수의 관통 전극으로부터 출력되는 출력 신호들로부터 제2 출력 값을 산출하는 제2 연산부; 및 상기 제1 출력 값과 상기 제2 출력 값을 비교하는 비교기를 포함한다.
Abstract translation: 本发明涉及一种半导体器件及其测试方法。 半导体器件包括：堆叠的多个半导体管芯; 在所述半导体管芯之间传输信号的多个贯通电极，形成在所述半导体管芯之间的至少一个冗余通电极; 第一操作单元，其通过逻辑运算从输入到贯通电极的输入信号中计算第一输出值; 第二操作单元，其通过逻辑运算从从贯通电极输出的输出信号中计算第二输出值; 以及将第一输出值与第二输出值进行比较的比较器。
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公开(公告)号：KR101523295B1
公开(公告)日：2015-05-28
申请号：KR1020140083853
申请日：2014-07-04
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G01R31/3183
Abstract: 본발명은회로장치및 그를테스트하는방법에관한것이다. 본발명의일 실시예에따른회로장치는, 테스트장비로부터입력받은 0, 1 및하이-임피던스의논리신호로구성된테스트패턴데이터를디코딩하는트라이-스테이트검출기; 상기디코딩된데이터에따라 0 및 1로구성된이진데이터, 선택신호및 제어신호를생성하여출력하는디컴프레서; 상기선택신호에따라상기이진데이터를저장하거나저장된이진데이터를내보내는레지스터; 및상기제어신호에따라상기레지스터로부터상기이진데이터를입력받아처리하는스캔체인을포함할수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及电路装置及其测试方法。 根据本发明的实施例的电路装置可以包括：试验状态检测器，用于执行从测试设备接收的0,1所组成的测试图形数据的解码和高阻抗的逻辑信号; 根据解码数据由0和1组成的二进制数据; 解压缩器，用于产生和输出选择信号和控制信号; 存储二进制数据或根据选择信号发送存储的二进制数据的寄存器; 以及扫描链，通过根据控制信号从寄存器接收二进制数据来接收和处理。
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公开(公告)号：KR1020150029839A
公开(公告)日：2015-03-19
申请号：KR1020130108582
申请日：2013-09-10
Applicant: 연세대학교 산학협력단
CPC classification number: G11C29/808
Abstract: 본 발명은 수리에 사용될 스페어 라인을 우선 선택하는 단계 및 우선 선택된 라인의 스페어 메모리와 우선 선택되지 않은 라인의 고장 카운터를 이용하여 수리 솔루션을 탐색하는 단계를 포함하는 메모리 수리 방법에 관한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种能够在短时间内绘制修复解决方案并具有高修复效率的存储器修复设备和存储器修复设备。 根据本发明的存储器修复装置包括以下步骤：优先选择要用于修理的备用线; 以及通过使用优先选择的线路的备用存储器和不优先选择的线路的故障计数器来搜索修复解决方案。
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公开(公告)号：KR1020140093521A
公开(公告)日：2014-07-28
申请号：KR1020130006036
申请日：2013-01-18
Applicant: 연세대학교 산학협력단
CPC classification number: G06F11/2242 , G06F11/267
Abstract: The present invention relates to a multi-core device, a test device and a failure diagnosis method. The multi-core device according to an embodiment of the present invention comprises: a plurality of cores for receiving test pattern values and outputting test response values; a majority analyzer for analyzing the test response values and outputting a value corresponding to the majority of the test response values; and a determining part for determining the cores which output test response values, different from the value corresponding to the majority, among the plurality of the cores.
Abstract translation: 本发明涉及多核装置，测试装置和故障诊断方法。 根据本发明的实施例的多核装置包括：多个核，用于接收测试图案值并输出测试响应值; 用于分析测试响应值并输出对应于大多数测试响应值的值的多数分析器; 以及确定部，用于确定在多个核之间输出与多数对应的值不同的测试响应值的核。
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公开(公告)号：KR101373668B1
公开(公告)日：2014-03-13
申请号：KR1020120067424
申请日：2012-06-22
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Abstract: 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 메모리 장치는 데이터를 저장하는 메모리 셀 어레이; 및 상기 메모리 셀 어레이의 고장을 수리하기 위한 스페어 메모리; 를 포함하고, 상기 스페어 메모리는 상기 메모리 셀 어레이의 고장 메모리 셀의 고장 주소에 대응하는 주소 매핑 테이블을 저장하여 반도체 메모리 장치를 수리하도록 한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101199300B1
公开(公告)日：2012-11-09
申请号：KR1020110078499
申请日：2011-08-08
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: H03M7/30
CPC classification number: H03M7/6011 , H03M7/6017
Abstract: PURPOSE: A test data encoder and an encoding method and a decoder for an encoded test data and a decoding method are provided to reduce power consumption when compressed data is decoded. CONSTITUTION: A test data encoding method includes the following step. A specific bit is allocated to a don`t care bit included in test data(S100). The test data is divided and a section is formed so that each successive bit has an equal value(S200). Each section is encoded by a toggle symbol and a hold symbol(S300). The test data includes a plurality of test vectors. The test vector refers to a unit which data enters a scan-chain once. [Reference numerals] (S100) Allocation of a specific bit to a don`t care bit; (S200) Test data division and section formation; (S300) Encoding of each section into a toggle symbol and a hold symbol
Abstract translation: 目的：提供一种用于编码测试数据和解码方法的测试数据编码器以及编码方法和解码器，以在压缩数据被解码时降低功耗。 规定：测试数据编码方法包括以下步骤。 特定位分配给测试数据中包含的不适用位（S100）。 测试数据被分割并且形成一个部分，使得每个连续位具有相等的值（S200）。 每个部分由切换符号和保持符号编码（S300）。 测试数据包括多个测试向量。 测试向量是指数据进入扫描链一次的单位。 （附图标记）（S100）将特定位分配给不需要的位; （S200）测试数据划分和截面形成; （S300）将每个部分编码为切换符号和保持符号
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公开(公告)号：KR101074456B1
公开(公告)日：2011-10-18
申请号：KR1020100058086
申请日：2010-06-18
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Abstract: 본 발명은 외부 장비를 아용한 메모리 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 테스트 방법은 고장 메모리 셀들을 마스터 고장 메모리 셀들, 이중 마스터 고장 메모리 셀들, 독립 고장 메모리 셀들, 초기 행 보완 고장 메모리 셀들 및 초기 열 보완 고장 메모리 셀들로 구분하는 단계; 상기 마스터 고장 메모리 셀들을 참조하여 제 1 초기 종결 조건의 만족 여부를 판단하는 단계; 상기 마스터 고장 메모리 셀들, 상기 이중 마스터 고장 메모리 셀들 및 상기 독립 고장 메모리 셀들을 참조하여 제 2 초기 종결 조건의 만족 여부를 판단하는 단계; 상기 마스터 고장 메모리 셀들, 상기 초기 행 보완 고장 메모리 셀들 및 상기 초기 열 보완 고장 메모리 셀들을 참조하여 제 3 초기 종결 조건의 만족 여부를 판단하는 단계; 및 상기 제 1 내지 제 3 초기 종결 조건 중 어느 하나라도 만족하는 경우, 테스트 대상 메모리를 불량으로 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 메모리 테스트 방법에 의하면, 외부 테스트 장비를 이용하여 메모리를 테스트 및 수리함에 있어서, 테스트 초기 단계에서 수리할 수 없는 것으로 판정된 메모리에 대해서는 리던던시 분석 과정을 진행하지 않음으로써 그 시간을 단축할 수 있다.-
公开(公告)号：KR1020110033526A
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：KR1020090091067
申请日：2009-09-25
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Inventor： 강성호
CPC classification number: H03M1/1071 , H03M1/1033 , H03M1/66 , H03M2201/63 , H03M2201/657
Abstract: PURPOSE: A method and a circuit for testing a digital analog converter are provided to integrate a different value between an output signal with a specific pattern of the digital analog converter and a ramp signal at every clock, thereby minimizing influences of a noise. CONSTITUTION: A first input signal is generated(S1100). The first input signal synchronizes an output signal of a digital analog converter with a clock. The first input signal can be inputted to the digital analog converter(S1200). A first output signal of the digital analog converter is generated by the first input signal(S1300). A difference between the ramp signal and the first output signal is integrated at every clock(S1400). Test values are obtained with the integration. A slope of a ramp signal is fixed. The slope of the ramp signal includes an output transition value per a clock.
Abstract translation: 目的：提供一种用于测试数字模拟转换器的方法和电路，用于在数字模拟转换器的特定模式的输出信号与每个时钟的斜坡信号之间集成不同的值，从而最小化噪声的影响。 构成：生成第一个输入信号（S1100）。 第一输入信号使数字模拟转换器的输出信号与时钟同步。 第一输入信号可以输入到数字模拟转换器（S1200）。 数字模拟转换器的第一输出信号由第一输入信号产生（S1300）。 斜坡信号和第一输出信号之间的差异在每个时钟被积分（S1400）。 通过集成获得测试值。 斜坡信号的斜率是固定的。 斜坡信号的斜率包括每个时钟的输出转换值。
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公开(公告)号：KR1020110011922A
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：KR1020090069399
申请日：2009-07-29
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Inventor： 강성호
CPC classification number: G11C29/1201 , G11C7/1075 , G11C29/10 , G11C29/20 , G11C29/36
Abstract: PURPOSE: A programmable memory built in a self test circuit generator for a dual port memory and method thereof are provided to test a dual port memory by generating a programmable memory device test. CONSTITUTION: A library configuration part(110) receives memory set information and algorithm of a dual port memory. The library configuration part forms library information based on the memory set information and algorithm. A programmable memory self test circuit generating unit(120) loads the library information from the library configuration part. The programmable memory self test circuit generating unit generates a programmable memory self test circuit(130). An instruction set comprises port selection information deciding one of two ports of the dual port memory.
Abstract translation: 目的：提供内置在双端口存储器的自检电路发生器中的可编程存储器及其方法，用于通过生成可编程存储器件测试来测试双端口存储器。 构成：库配置部分（110）接收双端口存储器的存储器组信息和算法。 库配置部分基于内存集信息和算法形成库信息。 可编程存储器自检电路生成单元（120）从库配置部分加载库信息。 可编程存储器自检电路产生单元产生可编程存储器自检电路（130）。 指令集包括决定双端口存储器的两个端口之一的端口选择信息。
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公开(公告)号：KR1020090089166A
公开(公告)日：2009-08-21
申请号：KR1020080014575
申请日：2008-02-18
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Inventor： 강성호
IPC: G06F17/30
CPC classification number: G06F17/30495 , G06F17/30345
Abstract: A method for searching an ip address and an apparatus thereof are provided to shorten a search time and improve search performance. A disjoint search unit(130) searches a pointer corresponding to a prefix of a specific destination IP address applied from the outside. An enclosure search unit(150) searches a pointer corresponding to the prefix of the specific destination IP address applied from the outside. A hybrid control unit(160) outputs the disjoint search unit or the pointer received from the enclosure search unit. An update unit(110) updates the prefix of the specific destination IP address corresponding to the outputted pointer.
Abstract translation: 提供一种用于搜索ip地址的方法及其装置，以缩短搜索时间并提高搜索性能。 不相交搜索单元（130）搜索与从外部应用的特定目的地IP地址的前缀相对应的指针。 机箱搜索单元（150）搜索与从外部应用的特定目的地IP地址的前缀相对应的指针。 混合控制单元（160）输出从机箱搜索单元接收的不相交的搜索单元或指针。 更新单元（110）更新与输出的指针对应的特定目的地IP地址的前缀。
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