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公开(公告)号：KR102229416B1
公开(公告)日：2021-03-17
申请号：KR1020200033346A
申请日：2020-03-18
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Abstract: 본 실시예들은 머스트 수리 조건과 테스트 알고리즘의 동일한 셀을 짧은 시간 동안 반복적으로 읽는 특성을 이용하여 테스트 데이터를 압축하며, 메모리 수리에 필요한 최소한의 정보를 자동 테스트 장치로 전송하여 전체 테스트 비용과 시간을 절감하는 메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법을 제공한다.
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公开(公告)号：WO2015125990A1
公开(公告)日：2015-08-27
申请号：PCT/KR2014/001507
申请日：2014-02-25
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G11C29/00
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/26 , G01R31/2853 , G01R31/31703 , G01R31/318513 , G01R31/31937 , G11C29/025 , G11C29/40
Abstract: 본 발명은 반도체 장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것으로, 반도체 장치는 적층되는 복수의 반도체 다이; 복수의 반도체 다이 간에 신호를 전달하는 복수의 관통 전극; 복수의 반도체 다이 간에 형성되는 적어도 하나의 리던던시 관통 전극; 논리 연산에 의해 복수의 관통 전극으로 입력되는 입력 신호들로부터 제1 출력 값을 산출하는 제1 연산부; 논리 연산에 의해 복수의 관통 전극으로부터 출력되는 출력 신호들로부터 제2 출력 값을 산출하는 제2 연산부; 및 상기 제1 출력 값과 상기 제2 출력 값을 비교하는 비교기를 포함한다.
Abstract translation: 半导体器件及其测试方法技术领域本发明涉及半导体器件及其测试方法，该半导体器件包括：多个堆叠的半导体管芯; 用于在所述多个半导体管芯之间传送信号的多个穿硅通孔; 在所述多个半导体管芯之间形成的至少一个冗余通硅通孔; 第一操作单元，用于通过逻辑操作从输入到多个通孔通孔的输入信号中计算第一输出值; 第二操作单元，用于通过逻辑运算从多个通过硅通孔输出的输出信号中计算出第二输出值; 以及用于比较第一输出值和第二输出值的比较器。
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公开(公告)号：KR102229416B1
公开(公告)日：2021-03-17
申请号：KR1020200033346
申请日：2020-03-18
Applicant: 연세대학교 산학협력단
Abstract: 본실시예들은머스트수리조건과테스트알고리즘의동일한셀을짧은시간동안반복적으로읽는특성을이용하여테스트데이터를압축하며, 메모리수리에필요한최소한의정보를자동테스트장치로전송하여전체테스트비용과시간을절감하는메모리의테스트데이터압축장치및 방법을제공한다.
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公开(公告)号：KR102084141B1
公开(公告)日：2020-03-03
申请号：KR1020180109993
申请日：2018-09-14
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G01R31/3183 , G01R31/317 , G01R31/3177
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：KR102020726B1
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：KR1020180047947
申请日：2018-04-25
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G06F11/14
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公开(公告)号：KR102018772B1
公开(公告)日：2019-09-05
申请号：KR1020170171057
申请日：2017-12-13
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: H01L27/06 , H01L21/822 , H01L21/768
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公开(公告)号：KR101854974B1
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：KR1020160016564
申请日：2016-02-12
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G01R31/3185 , G01R31/28
Abstract: 본발명은복수개의셀을포함하는스캔체인에세그먼트를지정하여우회데이터에대한바이패스비트의증가여부를판단하고, 바이패스비트의증가여부에기반하여세그먼트의크기를조정하거나세그먼트의바이패스비트와기설정된문턱값을비교하며, 스캔체인의분할을수행하여테스트패턴을설정하는스캔바이패스를이용한스캔체인분할장치및 그방법에관한것으로서, 스캔체인을분할하여실질적으로필요하지않은패턴을제거하고, 필요없는패턴부분을바이패스하여테스트데이터의크기및 동작전력소비를줄일수 있다.
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公开(公告)号：KR101815807B1
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：KR1020170053971
申请日：2017-04-26
Applicant: 연세대학교 산학협력단
IPC: G01R31/3185
CPC classification number: G01R31/318547
Abstract: 컨트롤신호를이용한 X 마스킹장치및 방법에관한것으로, 일측에따른 X 마스킹컨트롤신호생성장치는스캔셀(Scan Cell)들을상기스캔셀들에대한테스트신호응답(reponse)에기초하여복수의그룹들로구분하는그룹설정부, 상기그룹들각각에대한 X 마스킹제어를위한컨트롤신호(Control Signals)를생성하는컨트롤신호생성부및 상기컨트롤신호를인코딩하여인코딩된컨트롤신호(Encoded Control Signals)를획득하는인코더부를포함한다.
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