-
公开(公告)号：KR1020090000917A
公开(公告)日：2009-01-08
申请号：KR1020070064852
申请日：2007-06-29
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/027 , G01R1/28 , G01R17/02 , G01R19/145 , G01R25/00
Abstract: A field evaluation method of an industry voltage transformer comparatively measuring apparatus is provided to improve quality control efficiency by correcting the voltage transformer comparatively measuring to be suitable for field conditions by measuring a phase angle error and a rate error of a voltage transformer used in home industries. A voltage transformer comparatively measuring apparatus comprises a standard voltage transformer(10), a measured voltage transformer(20), a voltage comparator(30) and a burden(40). The standard voltage transformer and the measured voltage transformer are provided with the same high voltage in a primary side. The voltage comparator is connected to a secondary side of measured voltage transformer and the standard potential transformer. The burden is connected to the secondary side of the measured voltage transformer in parallel with the voltage comparator. The voltage comparator compares voltages of secondary sides(10b,20b) of the standard voltage transformer and measured voltage transformer.
Abstract translation: 提供了工业用电压互感器比较测量装置的现场评估方法，通过测量家用行业中使用的电压互感器的相位角误差和速率误差，通过校正电压互感器比较测量以适应现场条件，提高质量控制效率 。 电压互感器比较测量装置包括标准电压互感器（10），测量电压互感器（20），电压比较器（30）和负载（40）。 标准电压互感器和测量电压互感器在初级侧具有相同的高电压。 电压比较器连接到测量电压互感器和标准电压互感器的次级侧。 负载与电压比较器并联连接到测量的电压互感器的次级侧。 电压比较器比较标准变压器的二次侧（10b，20b）和测量的电压互感器的电压。
-
公开(公告)号：KR100634763B1
公开(公告)日：2006-10-16
申请号：KR1020060049409
申请日：2006-06-01
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: H01L21/66
Abstract: An apparatus for measuring the thickness of a semiconductor wafer is provided to improve the exactness of a thickness measuring process by using a height controlling unit and a measurer transfer unit. An apparatus for measuring the thickness of a semiconductor wafer includes a height controlling unit, a thickness measuring unit and a measurer transfer unit. The height controlling unit(10) includes a wafer supporting part(16) for supporting stably a wafer without damage. The thickness measuring unit(30) is composed of a fixing part(35) for fixing the wafer and a digital micrometer(31) for measuring the thickness of the wafer. The measurer transfer unit includes a pulling handle(41) and a guide. The measurer transfer unit is used for moving the thickness measuring unit to and fro.
Abstract translation: 提供一种用于测量半导体晶片的厚度的设备，以通过使用高度控制单元和测量器传送单元来提高厚度测量处理的精确度。 用于测量半导体晶片的厚度的设备包括高度控制单元，厚度测量单元和测量器传送单元。 高度控制单元（10）包括用于稳定支撑晶片而不损坏的晶片支撑部（16）。 厚度测量单元（30）由用于固定晶片的固定部分（35）和用于测量晶片厚度的数字测微计（31）组成。 测量器传送单元包括拉手（41）和引导件。 测量器传送单元用于来回移动厚度测量单元。
-
公开(公告)号：KR1020060034776A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：KR1020040083521
申请日：2004-10-19
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R27/02
CPC classification number: G01R27/02 , G01R17/105
Abstract: 종래 기술은 저항브리지의 비율을 정확하게 교정하기 위하여 정도가 훨씬 높고 비싼 장비인 저온 전류 비교기(cryogenic current comparator,CCC) 브릿지등을 사용하지만, 현재까지 10
-8 이하의 정확도로 저항비를 교정하려면 상기 저온 전류 비교기 브릿지를 사용하여야 하지만, 이 브리지는 저온에서 동작되고, 스퀴드(SQUID)를 사용하므로 잡음에 아주 민감하여 비경제적이고 다루기가 쉽지 않아 세계적으로 몇몇 표준기관(National Metrology Institute, NMI)에서만 사용하고 있는 문제점을 안고 있다.
본 발명에서는 삼각비교방법을 사용하여 단지 24시간이내의 단기간(short-term) 안정도가 좋은 저항 몇 개와 측정장비의 분해능만으로 임의의 저항비율오차를 정확하게 결정하여 그 저항비율을 교정할 수 있는 방법 및 이를 이용한 측정기를 제공하고자 하는 것이다.
저항, 비율오차, 삼각비교방법-
公开(公告)号：KR1020150114039A
公开(公告)日：2015-10-12
申请号：KR1020140037553
申请日：2014-03-31
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: H01J37/317
CPC classification number: H01J37/317 , H01J37/16
Abstract: 본발명은패러데이컵어셈블리에관한것이다. 본발명의패러데이컵어셈블리는입사되는이온빔을수집하는패러데이컵, 및패러데이컵내부에제공되고, 뿔형태를갖는복수개의수집엘리먼트들을포함하고, 수집엘리먼트들각각은이온빔의입사방향에가까울수록단면적이감소되도록형성된다.
Abstract translation: 本发明涉及法拉第杯组件。 法拉第杯组件包括：用于收集入射离子束的法拉第杯; 以及设置在法拉第杯内部的多个喇叭形收集元件。 收集元件分别形成以减小接近离子束的入射方向的横截面面积。
-
公开(公告)号：KR1020110098036A
公开(公告)日：2011-09-01
申请号：KR1020100017455
申请日：2010-02-26
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: G06Q50/26 , G06F21/31 , H04N21/6125
Abstract: 본 발명은 인터넷을 이용한 각종 디지털 멀티미터의 교정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 인터넷 사이트의 정보를 통하여 사용자가 보유한 미터 교정기와 교정 대상기기(디지털 멀티미터)를 선택하면 교정 절차에 대한 모든 정보가 제공되므로 누구나 쉽고 정확하게 교정할 수 있는 것이 특징이다. 예를 들면 PC로 인터넷 사이트에 접속하여 요구하는 정보를 입력하고 회원에 가입한 후 로그인 하는 단계(S10)와; 보유한 미터 교정기 및 이를 통해 교정할 디지털 멀티미터의 종류를 선택하는 단계(S20)와; 보유한 미터 교정기 및 이를 통해 교정할 디지털 멀티미터를 PC에 연결하는 단계(S30)와; 상기 단계(S20)의 선택에 따른 사이트의 해당 교정절차에 따라 디지털 멀티미터의 교정을 실시하는 단계(S40)와; 상기 교정 실시 후 디지털 멀티미터의 교정 불확도를 평가하는 단계(S50)와; 교정 성적서 작성 및 교부하는 단계(S60)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 인터넷을 이용한 디지털 미터의 교정방법에 관한 것이다.
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101041357B1
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：KR1020090000157
申请日：2009-01-02
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 수직형 대전류 발생장치에 관한 것으로 상세하게는 바퀴가 설치된 받침판과, 상기 받침판의 상측 중심에 구리 금속재질로 이루어진 다수개의 수직봉이 설치되고, 상기 수직봉을 감싸며, 상기 받침판의 상측에 전류발생 변압기와 표준전류변성기, 피교정전류 변성기가 하측부터 순차적으로 설치되고, 상기 수직봉의 상측단에 원형의 수평 전도판이 설치되며, 상기 수평 전도판의 외측에 금속판이 결합되고, 상기 금속판의 하측으로 지지바와 수평 전도판 및 지지봉이 순차적으로 설치되어 상기 전류발생 변압기와 연결되어지는 것을 포함하여 구성되어지는 수직형 대전류 발생장치에 관한 것이다.
대전류 발생장치, 전류변성기, 변압기, 전압 조절기, 커패시터 뱅크-
公开(公告)号：KR1020100080727A
公开(公告)日：2010-07-12
申请号：KR1020090000157
申请日：2009-01-02
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: PURPOSE: A vertical type high current generator is provided to easily confirm the performance of a current transformer with large capacity by outputting the current over 40 kA from a current generation transformer. CONSTITUTION: A plurality of vertical rods(120) is arranged on a support plate(80). A current generation transformer(70) is arranged on the lower sides of vertical rods. A standard current transformer(100) is arranged on the current generation transformer. A correction object current transformer(30) is arranged on the standard current transformer. A horizontal conductive plate is arranged on the upper sides of vertical rods. A plurality of metal plates is arranged on the outer side of the horizontal conductive plate. A plurality of support bars(20) support the horizontal conductive plate.
Abstract translation: 目的：提供一种垂直式大电流发生器，通过从当前发电变压器输出超过40 kA的电流，轻松确认大容量电流互感器的性能。 构成：多个垂直杆（120）布置在支撑板（80）上。 本发明的变压器（70）布置在垂直杆的下侧。 标准电流互感器（100）布置在电流互感器上。 校准对象电流互感器（30）布置在标准电流互感器上。 水平导电板布置在垂直杆的上侧。 多个金属板布置在水平导电板的外侧上。 多个支撑杆（20）支撑水平导电板。
-
公开(公告)号：KR1020100007179A
公开(公告)日：2010-01-22
申请号：KR1020080067690
申请日：2008-07-11
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R35/02
CPC classification number: G01R35/02 , G01R1/04 , G01R1/22 , G01R17/02 , G01R31/027 , G01R35/005
Abstract: PURPOSE: A current transformer comparator system is provided to perform the performance evaluation of under test current transformer of 20,000A and correction. CONSTITUTION: The standard current transformer(31) and under test current transformer(32) provide the same current in the primary side. The current comparator(60) compares the secondary current of under test current transformer and standard current transformer and provides the electricity of 440 V / 225 A and A plurality of power condensers(50) is connected in parallel with the high current generation transformer in order to improve the power factor.
Abstract translation: 目的：提供电流互感器比较系统，对20,000A的欠压电流互感器进行性能评估和校正。 规定：标准电流互感器（31）和测试电流互感器（32）在初级侧提供相同的电流。 电流比较器（60）比较欠压电流互感器和标准电流互感器的次级电流，并提供440 V / 225 A的电力，A多个电力电容器（50）按照顺序与大电流发生变压器并联连接 提高功率因数。
-
公开(公告)号：KR1020090004794A
公开(公告)日：2009-01-12
申请号：KR1020080093411
申请日：2008-09-23
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R35/00
CPC classification number: G01R35/005 , G01R1/04 , G01R31/40
Abstract: A correcting method is provided to correct high voltage of a voltage source without an expensive measurement instrument by calculating correcting voltage without using a high voltage divider. A sensor is installed in the upper part of a measurement table(S10). Standard voltage is applied at the sensor(S20). The output voltage of the sensor and the standard voltage is gradually measured and a related function between the standard voltage and the output voltage of the sensor is calculated(S30). The correcting voltage is gradually applied at the sensor(S40). The output voltage of the sensor is measured by a measure device(S50). The output voltage of the sensor is fitted for the related function. The high voltage is calculated according to the result(S60).
Abstract translation: 提供了一种校正方法，通过在不使用高分压器的情况下计算校正电压来校正电压源的高电压而不需要昂贵的测量仪器。 传感器安装在测量台的上部（S10）。 在传感器处施加标准电压（S20）。 逐步测量传感器的输出电压和标准电压，计算传感器的标准电压与输出电压之间的相关函数（S30）。 在传感器处逐渐施加校正电压（S40）。 传感器的输出电压由测量装置测量（S50）。 传感器的输出电压适用于相关功能。 根据结果计算高电压（S60）。
-
公开(公告)号：KR100877234B1
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：KR1020070075767
申请日：2007-07-27
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: G01R1/067 , G01R1/04 , G01R1/06788 , G01R3/00 , G01R31/2601
Abstract: A probe for measuring sheet resistance having minimized contact resistance is provided to reduce contact resistance by using one body probe instead of a general probe. A probe for measuring sheet resistance having minimized contact resistance comprises a contact part(20), a fixing part(40), a fixing tube(70), a probe fixing rod(13), a stop rod(50), a protective cover(10), and a measuring part(2). The probe(30) is inserted in the contact part. The fixing part surrounds and fixes the contact part. The fixing tube is coupled in the other side of the fixing part, and surrounds an outer circumference of the other side of the probe. In the probe fixing rod, a spring is mounted between protrusions formed in a center of the probe. The stop rod has a groove(12), and is coupled in the other side of the probe fixing rod. The protective cover is coupled in an outer circumference of the probe fixing rod, and is contacted in one side of the stop rod. The measuring part is connected to an external measuring device using a cable.
Abstract translation: 提供用于测量具有最小接触电阻的薄层电阻的探针，以通过使用一体探针代替一般探针来降低接触电阻。 用于测量具有最小接触电阻的薄层电阻的探针包括接触部分（20），固定部分（40），固定管（70），探针固定杆（13），止动杆（50），保护盖 （10）和测量部（2）。 探针（30）插入到接触部分中。 固定部包围并固定接触部。 固定管联接在固定部的另一侧，并且围绕探针的另一侧的外周。 在探针固定杆中，弹簧安装在形成在探针中心的突起之间。 止动杆具有凹槽（12），并且联接在探针固定杆的另一侧。 保护盖联接在探针固定杆的外周，并在止动杆的一侧接触。 测量部分使用电缆连接到外部测量设备。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
57
records
(took 0.023 seconds)
