METHOD OF DETERMINING PARAMETERS FOR FITTING AN OPHTHALMIC LENS TO A FRAME

    公开(公告)号:CA2710636A1

    公开(公告)日:2009-05-28

    申请号:CA2710636

    申请日:2008-12-24

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: The present invention concerns a method of determining parameters for fitting an ophthalmic lens to a frame, including the following steps: - providing an eyeglass frame including at least one temple portion having a bezel intended to enable the nesting of an ophthalmic lens; - determining the shape of the profile of the bezel at a point in the temple portion of said frame. Associated method of fabricating an ophthalmic lens.

    32.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE602006001637D1

    公开(公告)日:2008-08-14

    申请号:DE602006001637

    申请日:2006-01-11

    Abstract: The probe comprises a light source (20), means for shaping (24, 25, 21) the beam emitted by said light source and the beam coming from a surface arranged close to a target distance, an optical detector unit (22), comprising a pinhole diaphragm (26) and a photoelectric detector (28), providing a voltage peak (31) when said surface is at said target distance and further comprising a diaphragm (27) with a hole larger than said pinhole and a photoelectric detector (29), providing a voltage greater than that produced by said detection sensor (28), except when said surface is a the target distance. The method uses the probe to measure the thickness of an optical lens.

    UN METODO PARA MODIFICAR LOS DATOS RELACIONADOS CON LA FORMA DE LOS ARMAZONES DE LOS ANTEOJOS.

    公开(公告)号:MX2010007249A

    公开(公告)日:2010-12-06

    申请号:MX2010007249

    申请日:2008-12-23

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: Un método para modificar los datos relacionados con la forma de los armazones de los anteojos, que comprende los pasos de: • generar los datos correspondientes a los armazones de los anteojos, por medio de la medición de la forma de la montura de un armazón de anteojos mediante un aparato para medir la forma de los armazones de los anteojos, • determinar los ejes de inercia principales de la forma medida de la montura del armazón de los anteojos mediante el uso de los datos correspondientes al armazón de los anteojos con la montura, • calcular los nuevos datos correspondientes al armazón con la montura de los anteojos, expresados en los ejes de inercia principales de la forma medida de la montura del armazón de los anteojos.

    PROCEDE DE DETERMINATION D'UNE LENTILLE OPHTALMIQUE

    公开(公告)号:CA2758984A1

    公开(公告)日:2010-10-21

    申请号:CA2758984

    申请日:2010-04-19

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: L'invention se rapporte à un procédé de détermination d'une lentille ophtalmique pour un il d'un porteur, le procédé comportant les étapes de : - mesure, sur le porteur en vision binoculaire, des coordonnées tridimensionnelles du centre de rotation de l'il du porteur; - mesure (10) d'au moins une direction de regard en posture naturelle - détermination de la position souhaitée de la lentille ophtalmique; - calcul des caractéristiques de la lentille ophtalmique en utilisant les coordonnées mesurées et la position déterminée et la direction mesurée en posture naturelle. La mesure de la position du centre de rotation de l'il en vision binoculaire assure que la lentille obtenue est mieux adaptée au porteur.

    PALPEUR OPTIQUE AINSI QUE DISPOSITIF ET PROCEDE LE METTANT EN OEUVRE.

    公开(公告)号:FR2880945A1

    公开(公告)日:2006-07-21

    申请号:FR0500405

    申请日:2005-01-14

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor: DUBOIS FREDERIC

    Abstract: Le palpeur comporte une source lumineuse (20) ; des moyens de conformation (24, 25, 21) du faisceau émis par ladite source lumineuse et du faisceau provenant d'une surface située au voisinage d'une distance cible ; un ensemble de détection optique (22) comportant un diaphragme (26) à trou d'épingle et un capteur photoélectrique de détection (28) produisant un pic de tension (31) lorsque ladite surface est à ladite distance cible ; et comportant en outre un diaphragme (27) à trou plus grand que ledit trou d'épingle et un capteur photoélectrique (29) produisant une tension supérieure à celle produite par ledit capteur de détection (28) sauf lorsque ladite surface est à la distance cible.Le procédé met en oeuvre le palpeur pour mesurer l'épaisseur d'une lentille optique.

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