公开(公告)号：CN103261856B

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201180059368.X

申请日：2011-12-01

Applicant: 纳卢克斯株式会社 ,  株式会社村田制作所

Inventor： 田边靖弘 ,  林浩仁 ,  中村文宣

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J1/0204 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0411

Abstract: 本发明提供能够与较小尺寸的光传感器组合的结构简单的光传感器用部件。本发明的第1方式的光传感器用部件是与光传感器（201等）组合使用、且一体成型的筒状的光传感器用部件。在筒的一方的端面上，组合有该光传感器，筒的另一方端面（101等）由使来自外部的光会聚到该光传感器的透镜构成。该光传感器用部件在筒的内侧，在筒的周向上的至少3个部位，具有与该透镜以及筒的内侧面相连的多个肋（103等）。

公开(公告)号：CN104898312A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201510359452.3

申请日：2015-06-25

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  京东方(河北)移动显示技术有限公司

Inventor： 王甲银 ,  韩冬年 ,  武震 ,  李星 ,  杨国文

IPC: G02F1/13 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4247 ,  G08B21/18 ,  G08B25/08 ,  G02F1/1309 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开一种背光源检测装置及检测方法，涉及液晶显示技术领域，为解决现有技术对背光源的光、电特性进行检测时的效率较低的技术问题。所述背光源检测装置包括：承载板，检测时待检背光源放置在承载板上的背光源检测区；光特性检测板，检测时光特性检测板位于待检背光源的正上方，且光特性检测板与待检背光源的出光面平行，光特性检测板上安装有用于检测待检背光源的不同区域的亮度的多个亮度传感器，多个亮度传感器均匀分布在光特性检测板上；分别与多个亮度传感器信号连接的数据处理单元，数据处理单元根据多个亮度传感器所检测的待检背光源的不同区域的亮度判断待检背光源的光特性是否合格。本发明用于检测背光源。

公开(公告)号：CN104884916A

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201280078030.3

申请日：2012-12-28

Applicant: 日本先锋公司 ,  先锋自动化设备股份有限公司

Inventor： 藤森昭一 ,  望月学

IPC: G01J1/00 ,  G01M11/00 ,  H01L33/00

CPC classification number: G01J1/0403 ,  G01J1/0219 ,  G01J2001/4252

Abstract: 本发明提供一种光量测定装置，能以简单的结构实现有效且接近安装状态下的高精度测定。光量测定装置(1)具备测定台(10)、探针(20)以及光检测器(30)，测定台(10)用于承载以放射状射出光束的LED(101)，探针(20)接触LED(101)的端子(102)并向其供电，使得LED(101)发光，光检测器(30)接收LED(101)射出的光束并测定其光量，探针(20)可以向着靠近、远离测定台(10)的方向移动，当探针(20)向着靠近测定台(10)的方向移动时，探针(20)接触端子(102)，在光检测器(30)中的测定，是在相对于使探针(20)向着测定台(10)移动的移动量，端子(102)对探针(20)的反作用处于饱和状态的区域内进行。

公开(公告)号：CN103339808B

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201180066671.2

申请日：2011-12-01

Applicant: 康宁股份有限公司

Inventor： 王胤 ,  G·P·怀索基 ,  谢峰 ,  C-E·扎

IPC: H01S3/1055 ,  H01S3/101

CPC classification number: H01S5/0042 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G01J3/1804 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/141 ,  H01S5/3401

Abstract: 一种用于自动表征从半导体晶片分离的半导体条上的多个外腔半导体激光器芯片的系统和过程。该系统包括：衍射光栅，被安装在旋转台上，用于使衍射光栅转动通过衍射角范围；操纵镜，被安装在旋转台上并被定向成垂直于衍射光栅的表面；激光分析仪；以及激光器条定位台。该定位台被自动移动以使平台上的激光器条中的每个激光器芯片与衍射光栅对准（一次一个芯片），使得从激光器条中的激光器芯片发出的激光束的部分被光栅的一阶衍射反射回同一激光器芯片以锁定激射波长，并且激光束被操纵镜反射的余下部分被激光分析仪接收并表征。对于每个激光器芯片，旋转台被自动转动以使衍射光栅相对于激光器芯片所发出的激光束转动通过衍射角范围，并且激光分析仪自动地表征每个衍射角下的激光器光学性质（诸如光谱、功率或空间模式）。

公开(公告)号：CN104541193A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201380041265.X

申请日：2013-07-05

Applicant: 新加坡国立大学

Inventor： 陈南光

IPC: G02B21/00

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0411 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0052 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/0092 ,  G02B21/082

Abstract: 根据多个实施方案，提供一种光学显微镜。所述的光学显微镜包括：扫描装置，所述扫描装置用于将照明图案引导至所要成像的样品上，所述扫描装置可移动，用于移动所述照明图案以一个接着另一个相继地覆盖所述样品的各个部分，其中对于所述样品的每个部分，所述扫描装置被构造为将所述照明图案引导至该部分上以照明该部分并从所述样品的被所述照明图案照明的部分接收返回光；调制器设备，所述调制器设备被构造为以时间的函数形式调制所述样品上对应于所述样品的所述部分的焦平面内的所述照明图案的光强度分布；和检测器设备，所述检测器设备用于将来自每个部分的返回光光耦合至检测器，其中所述检测器设备被构造为将各个返回光相继地光耦合至所述检测器的各个部分，以在所述检测器上产生所述样品的图像，其中所述检测器的各个部分对应于所述样品的各个部分。

公开(公告)号：CN104246456A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201280072460.4

申请日：2012-07-30

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明 ,  白岩久志

IPC: G01J1/00

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。

公开(公告)号：CN104025283A

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201280053430.9

申请日：2012-10-31

Applicant: 青井电子株式会社

Inventor： 戎井崇裕

IPC: H01L23/02 ,  H01L23/08 ,  H01L31/02

CPC classification number: G01J1/0403 ,  G01J2001/0276 ,  H01L23/3121 ,  H01L31/0203 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48465 ,  H01L2224/8592 ,  Y10T29/49208 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00

Abstract: 感光装置，包括：基板；在上面具有感光部，下面装载于上述基板上的感光元件；以及绝缘树脂，该绝缘树脂具有平坦的上面以及露出上述感光元件的上述感光部的开口，比上述感光元件的厚度更厚地形成在上述基板上，并贴紧在包围上述感光元件的上述感光元件的侧面。上述绝缘树脂具有在上述平坦的上面与上述感光部的上述上面之间的高度上设置的阶梯部，上述阶梯部在上述开口的周围相对于上述感光元件的相对置的至少一对侧面平行地延伸。

公开(公告)号：CN103383457A

公开(公告)日：2013-11-06

申请号：CN201210552379.8

申请日：2012-12-18

Applicant: 台湾典范半导体股份有限公司

Inventor： 林淑萍 ,  陈俊吉 ,  洪宗裕 ,  张夷华

IPC: G01S17/02 ,  G01S7/48 ,  H01L25/16

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/42 ,  G01S17/026 ,  H01L21/561 ,  H01L21/565 ,  H01L21/568 ,  H01L24/73 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/12 ,  H01L31/173 ,  H01L2224/2919 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/8592 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2224/97 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/1815 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2224/85 ,  H01L2224/83 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明是一种近接感测器及其制法，其包含有一感光单元、一发光单元、复数透明胶层与一封装体，该封装体系包覆该感光单元与该发光单元，该些透明胶层分别形成在感光单元与发光单元的表面，透明胶层顶面具有一环状凸部，封装体对应感光部与发光部区域分别形成一通孔，其中通孔系连通该环状凸部所包围之区域而构成一凹口；在进行封胶的制程中，未固化的透明胶层具有可塑性，当压模压在透明胶层上时，压模上的凸块将陷入透明胶层内，使凸块与透明胶层紧密接触，当注入黑胶时，可避免黑胶渗入凸块与透明胶层之间。

公开(公告)号：CN103293668A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310049086.2

申请日：2013-02-07

Applicant: 京瓷办公信息系统株式会社

Inventor： 中野一成 ,  土屋浩昭

IPC: G02B26/10 ,  G03G15/00

CPC classification number: G03G15/0435 ,  G01J1/0403 ,  G02B26/127 ,  H04N1/053 ,  H04N2201/0082

Abstract: 本发明提供一种光扫描装置以及图像形成装置。本发明的光扫描装置具备反射机构、受光元件和限制机构。反射机构以光线的照射点在预定的扫描方向上移动的方式反射光线。受光元件被配设在由被反射机构反射的光线规定的移动平面上，按照被反射机构反射的光线的受光，输出用于调整光线的照射时间的受光信号。限制机构相对于移动平面对受光元件进行定位。根据本发明，能够对受光元件进行定位，以使受光元件能够适当地接收光线。

公开(公告)号：CN101424568B

公开(公告)日：2011-08-03

申请号：CN200810170559.3

申请日：2008-10-21

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 松浦康二

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/04 ,  G01J3/06

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06

Abstract: 本发明披露了一种光测量装置和扫描光学系统，光测量装置可以有效取入来自平面光源的不同部分的光以执行测量。用于测量来自平面光源的光的光测量装置包括被配置为执行用于连续取入来自平面光源的不同部分的光的操作的空间分割装置。光学聚集装置聚集通过空间分割装置的操作取入的来自平面光源的不同部分的光。检测器接收由光学聚集装置聚集的光并输出对应于所接收光的信号。