颜色传感器
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101389936A

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200680053474.6

    申请日:2006-12-20

    Abstract: 公开了用于测量样品颜色的装置、系统和方法。示例性的装置可具有用于将紫外光束导向至样品的一个或多个发光二极管,并且还可具有用于将可见光束导向至样品的一个或多个发光二极管。示例性的装置可具有用于控制每个发光二极管的运行的时序和功率的构件。示例性的装置还可具有至少一个光检测器,用于接收从样品反射或经过样品透射的光束并且测量接收的光线的至少一个波长带。示例性的装置还可具有测量分析仪,用于基于测量的光线确定样品颜色。可针对结合荧光效果的指定照射器确定颜色。

    用于啁啾脉冲放大的光谱调制整形装置

    公开(公告)号:CN101231382A

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200810033886.4

    申请日:2008-02-26

    Abstract: 本发明涉及一种用于啁啾脉冲放大(CPA)系统的光谱调制整形装置。该装置包括成对称的CTSI光谱分解系统和CTSI光谱合成系统;包括由光阑与平面光谱调制反射镜构成的光谱调制系统。利用CTSI光谱分解系统将激光啁啾脉冲完全真实展开到光谱面;再利用光谱调制系统在像平面上进行光谱调制;然后利用CTSI光谱合成系统将调制后光谱无畸变的还原为调制后的啁啾脉冲,达到光谱调制整形目的。本发明所用光学元件易于加工,且具有结构紧凑,占用空间少,价格较低等特点;本装置还可根据需要设计为各种型式的光谱调制整形装置;本发明可对一般激光脉冲实现光谱调制和光谱整形,尤其适用于几个纳米带宽的大能量高功率CPA系统。

    가스 분석용 분광기
    34.
    发明公开
    가스 분석용 분광기 有权
    气体分析仪

    公开(公告)号:KR1020150039587A

    公开(公告)日:2015-04-10

    申请号:KR1020140133363

    申请日:2014-10-02

    Applicant: 식아게

    Abstract: 가스분석용분광기(10)가제공되며, 상기분광기는연구될가스를갖는측정셀(28), 광경로(16) 상의측정셀(28) 안으로의광(14)의전달을위한광원(12), 상기광 경로(16) 내에페브리페롯필터(24a 내지 24c)를가져서필터배열체(22)의투과스펙트럼에의해광(14)의주파수특성들을설정하는필터배열체(22), 뿐만아니라상기측정셀(28) 내의가스(30)에의해광(14)의흡수를측정하는검출기(36, 38)를포함한다. 이와관련하여, 필터배열체(22)는광 경로(14) 내에하나가다른하나의뒤에배열되는복수의페브리페롯필터(24a 내지 24c)들을가지며필터배열체(22)용제어유닛이페브리페롯필터(24a 내지 24c)들중 하나이상을설정함으로써투과스펙트럼을변화시키기위해제공된다.

    Abstract translation: 提供了一种用于气体分析的光谱仪,包括:具有待研究气体的测量池(28); 用于将光(14)在光路(16)上传送到测量单元(28)中的光源(12); 滤光器布置体(22),其在光路(16)内部具有法布里珀罗滤光器(24a至24c),其通过滤光器布置体(22)的透射光谱来设定光(14)的频率特性; 以及测量单元(28)内的气体(30)吸收光(14)的检测器(36,38)。 过滤器布置体(22)具有多个法布里珀罗过滤器(24a至24c),其中一个布置在光路(14)内部的另一个后部。 提供了一种用于滤波器布置体(22)的控制单元,用于设置法布里珀罗滤波器(24a至24c)中的一个或多个并改变透射光谱。

    원색 식별 시스템 및 컬러 색도 좌표 식별 방법
    35.
    发明授权
    원색 식별 시스템 및 컬러 색도 좌표 식별 방법 有权
    用于测量色度坐标的系统

    公开(公告)号:KR100865222B1

    公开(公告)日:2008-10-23

    申请号:KR1020037000231

    申请日:2002-04-25

    Inventor: 창친

    Abstract: 적색, 녹색 및 청색 광원의 원색 색도 좌표를 식별하기 위한 시스템 및 방법은 광원에 의해 생성되는 결합된 광를 수신하는 3 자극 필터를 포함한다. 광원은 바람직하게는 적색, 녹색 및 청색 발광 다이오드의 그룹이다. 프로세서는 각 적색, 녹색 및 청색 LED에 대해 원하는 강도 값을 설정하는 복수의 테스트 제어 신호를 생성하기 위하여 배치된다. 이러한 테스트 제어 신호에 기초하여, 시스템은 이러한 적색, 녹색 및 청색 LED에 의해 생성되는 결합된 광에 대응하는 색도 좌표의 세 가지 세트를 측정하기 위하여 배치된다. 그 후에, 프로세서는 결합된 광의 측정된 좌표 및 LED의 강도 값 및 결합된 광의 강도 값에 기초하여, LED의 컬러 색도 좌표를 계산한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 이러한 캘리브레이션은 행렬식을 풂으로써 달성된다. 개개의 광원의 컬러 좌표가 유니크하게 계산되자마자, 시스템은 결합된 광에 원하는 컬러 색도 좌표를 제공하기 위해 필요한 각 광원에 대한 광의 강도 값을 측정한다. 이러한 강도 값은 LED가 그 특성을 배치마다 또는 시간에 걸쳐 변화하는 원하는 결합된 광를 유지하기 위한 피드백 제어 회로에 사용될 수 있다.

    물체의 컬러를 측정하기 위한 방법 및 장치
    36.
    发明公开
    물체의 컬러를 측정하기 위한 방법 및 장치 审中-实审
    用于测量对象颜色的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020140143153A

    公开(公告)日:2014-12-15

    申请号:KR1020147025972

    申请日:2013-02-14

    Abstract: 본 발명은 광속 형태로 표현되는 컬러 광원들을 방출할 수 있는 수단(11) 및 전자 컬러 이미지 센서(12)를 포함하는 장치(10)를 이용하여 물체(30) 상의 적어도 하나의 지점에서 균일한 확산 반사율 R
    OBJ (λ)을 측정하기 위한 방법에 관한 것이다. 본 발명은 또한 컬러들을 방출할 수 있고 상기 전자 컬러 이미지 센서(12)의 시야에 위치되고 I
    ext (λ)로서 표기되는 일정 및 미지의 외부 환경 광속(40)으로서 표현되는 외부 광원의 영향을 받는 상기 수단(11)에 대해 반대쪽에 배치되고 실질적으로 수직인 구역에 배치된 물체(30) 상의 적어도 하나의 지점에서 균일한 확산 반사율 R
    OBJ (λ)을 측정하기 위해, 컬러들의 광속으로서 표현되는 컬러 광원들을 방출하기 위한 수단(11) 및 전자 컬러 이미지 센서(12)를 포함하는 장치(10)에 관한 것이다.

    Abstract translation: 使用包括能够发出以光束形式表示的彩色光源的单元(11)的装置(10)和至少在物体(30)上的一点上测量均匀漫反射率ROBJ(λ)的方法, 彩色图像传感器(12)。 本发明还涉及一种装置(10),包括用于发出表示为颜色光通量的彩色光源的单元(11)和电子彩色图像传感器(12),用于至少在 放置在与能够发出颜色并且位于电子彩色图像传感器(12)的视场中并且经受外部光源的单元(11)相对并且基本垂直的区域中的物体(30)上的一个点 表示为恒定和未知的外部环境光通量(40),表示为Iext(λ)。

    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE
    37.
    发明公开
    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE 审中-公开
    OPTISCHE BERECHNUNGSVORRICHTUNG MIT EINEM DETEKTOR MIT NICHIPLANER HALBLEITERSTRUKTUR

    公开(公告)号:EP3058433A4

    公开(公告)日:2017-08-02

    申请号:EP13899927

    申请日:2013-12-18

    Abstract: An optical computing device including a detector having a non-planar semiconductor structure is provided. The detector may include one or more structures having structure characteristics that may be optimized to respond to and weight predetermined wavelengths of light radiated from a sample that are related to characteristics of the sample. The detector may include an array of the one or more structures, wherein each of the structure units may be individually addressable to program or tune the detector to respond to and weight a spectra of light and generate an output signal based on the weighted spectra of light that is proportional to the characteristics of the sample.

    Abstract translation: 提供了一种包括具有非平面半导体结构的检测器的光学计算装置。 检测器可以包括具有结构特征的一个或多个结构,所述结构特征可以被优化以对与样本的特征相关的样本辐射的光的预定波长做出响应并对其加权。 检测器可以包括一个或多个结构的阵列,其中每个结构单元可以是可单独编址的,以编程或调谐检测器以响应光并对光谱进行加权并基于光的加权光谱生成输出信号 这与样本的特征成正比。

    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE
    38.
    发明公开
    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE 审中-公开
    OPTISCHE BERECHNUNGSVORRICHTUNG麻省理工EINEM DETEKTOR MIT NICHTPLANARER HALBLEITERSTRUKTUR

    公开(公告)号:EP3058433A1

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:EP13899927.1

    申请日:2013-12-18

    Abstract: An optical computing device including a detector having a non-planar semiconductor structure is provided. The detector may include one or more structures having structure characteristics that may be optimized to respond to and weight predetermined wavelengths of light radiated from a sample that are related to characteristics of the sample. The detector may include an array of the one or more structures, wherein each of the structure units may be individually addressable to program or tune the detector to respond to and weight a spectra of light and generate an output signal based on the weighted spectra of light that is proportional to the characteristics of the sample.

    Abstract translation: 提供了一种包括具有非平面半导体结构的检测器的光学计算设备。 检测器可以包括具有结构特征的一个或多个结构,其可以被优化以响应并加权与样品的特性相关的从样品辐射的预定波长的光。 检测器可以包括一个或多个结构的阵列,其中每个结构单元可以是单独寻址的,以编程或调谐检测器以响应并加权光谱,并基于光的加权光谱产生输出信号 这与样品的特性成比例。

    SPECTROPHOTOMETER WITH LIGHT GUIDING ELEMENT
    40.
    发明公开
    SPECTROPHOTOMETER WITH LIGHT GUIDING ELEMENT 有权
    光导分光光度计

    公开(公告)号:EP1938063A2

    公开(公告)日:2008-07-02

    申请号:EP06801566.8

    申请日:2006-08-15

    Applicant: X-RITE, INC.

    Abstract: An optical assembly for use with a spectrophotometer. The optical assembly may comprise an illumination source, a detection sensor, a monitor sensor, and an optical piece having a first side adapted to face a sample. The optical piece may define an illumination channel extending from the illumination source toward the first side. The optical piece may also define a detection channel extending from the first side toward the detection sensor, hi addition, the optical piece may define a monitor channel extending from the illumination channel toward the monitor sensor. Also, a light emitting diode (LED) assembly for use with an optical measurement device. The LED assembly may comprise a substrate having a top surface and a bottom surface and a plurality of LED dies positioned on the substrate to emit light in a first direction normal to the bottom surface of the substrate. The LED assembly may also comprise a plurality of leads in electrical contact with the plurality of LED dies. The plurality of leads may be positioned on the bottom surface of the substrate, and may be configured to surface-mount to a board.

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