公开(公告)号：KR1020040068367A

公开(公告)日：2004-07-30

申请号：KR1020047010515

申请日：2002-01-04

Applicant: 퓨쳐 파이브레 테크놀로지스 피티와이 엘티디

Inventor： 타파네스,에드워드,에드워도

IPC: G08B13/186 ,  G02B6/293 ,  G08B7/06 ,  G06T7/00 ,  G01J9/02

CPC classification number: G08B13/186 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0238 ,  G02B6/2932 ,  G08B7/06

Abstract: 주변 보안 시스템은 지그재그 패턴으로 지면 아래에 묻힌 제1 케이블(40) 및 제2 케이블(60)을 포함한다. 제1 케이블(40)은 제1 섬유(44) 및 추가 섬유(42)를 갖는다. 제2 케이블(60)은 제2 섬유(62)를 갖는다. 제1 및 제2 섬유(44,62)는 일단부에서 커플러(52)에 의해 연결되어 광은 일방향으로 전파되도록 제1 및 제2 섬유(44,62)로 방사될 수 있다. 추가 섬유(42)는 제1 및 제2 섬유(44,62)이 다른 단부에 연결시키는 커플러(70)에 연결되어 광은 다른 단부로부터 섬유로 방사될 수 있고, 반대 방향으로 이동할 수 있다. 검출기(80,82)는 전파하는 광 신호의 감섭에 의해 생성된 간섭 패턴을 검출하기 위해 제공되어 만약 사람이 그 아래 케이블이 묻힌 당을 지나 걸음으로써 장벽을 침입하려고 하면 케이블은 전파 광의 특성을 변화시켜 간섭 패턴을 변화시키고 침입의 표시를 제공한다. 침입의 위치는 반대 방향으로 전파하는 간섭 패턴에 비하여 제1 방향으로 전파하는 변경된 간섭 패턴의 수신간의 시간차에 의해 결정될 수 있다.

公开(公告)号：EP3011288A4

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：EP14813615

申请日：2014-06-20

Applicant: CYLITE PTY LTD

Inventor： FRISKEN STEVEN JAMES ,  FRISKEN GRANT ANDREW

IPC: G01B9/02 ,  A61B3/00 ,  A61B3/10 ,  A61B3/107 ,  A61B3/117 ,  A61B3/14 ,  G01J9/02 ,  G02B27/10 ,  G02B27/28 ,  G02C7/02

CPC classification number: A61B3/1015 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/1025 ,  A61B3/107 ,  A61B3/117 ,  A61B3/14 ,  G01B9/02027 ,  G01B9/02039 ,  G01B9/02041 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/70 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0219 ,  G01J2009/0238 ,  G02B27/1013 ,  G02B27/283 ,  G02C7/027 ,  G02C2202/24

Abstract: Method and systems are presented for analyzing a wavefront using a spectral wavefront analyzer to extract optical phase and spectral information at a two dimensional array of sampling points across the wavefront, wherein the relative phase information between the sampling points is maintained. Methods and systems are also presented for measuring an eye by reflecting a wavefront of an eye and measuring the wavefront at a plurality of angles to provide a map of the off-axis relative wavefront curvature and aberration of the eye. The phase accuracy between wavelengths and sample points over a beam aperture offered by these methods and systems have a number of ocular applications including corneal and anterior eye tomography, high resolution retinal imaging, and wavefront analysis as a function of probe beam incident angle for determining myopia progression and for designing and testing lenses for correcting myopia.

公开(公告)号：EP2857820A1

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：EP13797892.0

申请日：2013-05-29

Applicant: Nikon Corporation

Inventor： OTAKI Katsura ,  SUGISAKI Katsumi ,  GEMMA Takashi

IPC: G01M11/02 ,  G02B21/02 ,  G03F7/20 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0238 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706

Abstract: There is provided a wavefront measuring method for obtaining wavefront information of a projection optical system, the method including: irradiating a light beam exited from a pinhole array of a measurement reticle onto the projection optical system; allowing the light beam passed via the projection optical system to come into a diffraction grating having periodicities in the X and X directions and of which transmittance distributions in the X and Y directions have a sinusoidal shape; and obtaining the wavefront information of the projection optical system (PO) based on an interference fringe formed by a plurality of light beams generated from the diffraction grating. The wavefront information of an optical system to be inspected can be measured with high accuracy, based on the interference fringe obtained using the diffraction grating.

Abstract translation: 提供了一种用于获得投影光学系统的波前信息的波前测量方法，该方法包括：将从测量掩模版的针孔阵列退出的光束照射到投影光学系统上; 允许通过投影光学系统的光束进入在X和X方向上具有周期性的衍射光栅，并且其中X和Y方向上的透射率分布具有正弦形状; 以及基于由衍射光栅产生的多个光束形成的干涉条纹来获得投影光学系统（PO）的波前信息。 可以基于使用衍射光栅获得的干涉条纹，高精度地测量待检查的光学系统的波前信息。

公开(公告)号：EP2721385A1

公开(公告)日：2014-04-23

申请号：EP12731176.9

申请日：2012-06-08

Applicant: Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives

Inventor： QUERE, Fabien

IPC: G01J11/00

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J9/02 ,  G01J11/00 ,  G01J2009/0238

Abstract: Method of characterizing a light beam (FL) comprising the steps consisting in: a) disposing the input ends (EE1 - EE11) of N > 3 optical fibres (F01 - F011) on the path of said light beam, in such a way that a respective portion of said beam is coupled and propagates in each optical fibre and is emitted from its output end (ES1 - ES11) so as to form a respective secondary beam; b) introducing an angular spectral dispersion into said secondary beams by means of at least one dispersive element (RD); c) propagating the dispersed secondary beams in such a way that they overlap to form an interferogram; d) acquiring an image of said interferogram; and e) extracting from said image of said interferogram an item of information relating to the spatial variation of the phase of said light beam at a plurality of wavelengths. Device for the implementation of such a method.

Abstract translation: 表征光束（FL）的方法包括以下步骤：a）将N> 3根光纤（F01-F011）的输入端（EE1-EE11）设置在所述光束的路径上，使得 所述光束的相应部分在每根光纤中耦合并传播并从其输出端（ES1-ES11）发射，以形成相应的次光束; b）借助于至少一个色散元件（RD）将角频谱色散引入所述次级光束; c）以使得它们重叠以形成干涉图的方式传播分散的辅助光束; d）获取所述干涉图的图像; 以及e）从所述干涉图的所述图像中提取与多个波长处的所述光束的相位的空间变化有关的信息项。 用于执行这种方法的设备。

公开(公告)号：EP1983318A4

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：EP07704755

申请日：2007-01-18

Applicant: UNIV LA LAGUNA

Inventor： RODRIGUEZ RAMOS JOSE MANUEL ,  ROSA GONZALEZ FERNANDO ,  MARICHAL-HERNANDEZ JOSE GIL

IPC: G01J9/00

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/0238 ,  G01S11/12 ,  G02B26/06

公开(公告)号：EP1983318A1

公开(公告)日：2008-10-22

申请号：EP07704755.3

申请日：2007-01-18

Applicant: Universidad de la Laguna

Inventor： RODRIGUEZ RAMOS, José Manuel ,  ROSA GONZÁLEZ, Fernando ,  MARICHAL-HERNÁNDEZ, José Gil

IPC: G01J9/00

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/0238 ,  G01S11/12 ,  G02B26/06

Abstract: A system consisting of a phase camera with microlenses placed in the focal point of a converging lens, wherein the camera data is processed using a combined Fourier "Slice" and fast Fourier transform edge detection technique providing both a three-dimensional wavefront map and a real scene depth map within a broad range of volumes.
The invention is suitable for use in any field where wavefronts need to be such as earth-based astronomical observation, ophthalmology, etc., as well as in fields requiring metrology, e.g. real scenes, CCD polishing, automobile mechanics, etc. The invention is particularly suitable for the case of atmospheric tomography using ELTs (large-diameter telescopes: 50 or 100 metres).

Abstract translation: 一种由放置在会聚透镜的焦点的微透镜的相位相机组成的系统，其中相机数据使用组合傅立叶“切片”和快速傅里叶变换边缘检测技术来处理，其提供三维波前图和实数 场景深度图范围广泛。 本发明适用于波前需要诸如地球天文观测，眼科学等以及需要测量的领域的任何领域。 实际场景，CCD抛光，汽车力学等。本发明特别适用于使用ELT（大直径望远镜：50或100米）的大气层析成像的情况。

公开(公告)号：EP0538126B1

公开(公告)日：1996-09-11

申请号：EP92402811.1

申请日：1992-10-14

Applicant: OFFICE NATIONAL D'ETUDES ET DE RECHERCHES AEROSPATIALES

Inventor： Primot Jérôme ,  Surget, Jean

IPC: G01J9/02

CPC classification number: G01M11/005 ,  G01J9/0215 ,  G01J2009/0238

公开(公告)号：KR101872740B1

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：KR1020170023671

申请日：2017-02-22

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 강영일 ,  김인철 ,  김성규 ,  박도현 ,  배효욱 ,  강민재

IPC: G01J3/10 ,  G01J9/02

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J2009/0238

Abstract: 본발명은원격으로가스성분을검출할 수있는라멜라그레이팅형 퓨리에변환적외선분광기에관한것으로, 더욱상세하게는퓨리에변환적외선분광기의핵심부분인라멜라그레이팅형태의간섭계용거울구조에관한것으로서, 적외선발생원에서발생된적외선이반사되도록서로인접하게배치되는고정거울및 구동거울을포함하는라멜라그레이팅거울, 상기라멜라그레이팅거울을수용하도록내부공간을형성하는지지프레임, 상기구동거울의양단을지지하도록형성된거울지지부및 상기지지프레임과상기거울지지부를연결하도록상기거울지지부의적어도일 영역으로부터돌출되어상기지지프레임에결합되는구동팔을포함하는원격퓨리에변환적외선분광기를제공할수 있다.

公开(公告)号：KR101408760B1

公开(公告)日：2014-06-17

申请号：KR1020087020371

申请日：2007-01-18

Applicant: 유니버시다드 데 라 라구나

Inventor： 로드리구에즈라모스,호세마누엘 ,  로사곤잘레즈,페르난도 ,  마리찰-헤르난데즈,호세길

IPC: G01J1/52 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/0238 ,  G01S11/12 ,  G02B26/06

Abstract: 수렴 렌즈의 초점에 위치한 마이크로렌즈를 갖는 위상 카메라로 이루어지고, 카메라 데이터는 결합된 푸리에 "슬라이스" 및 고속 푸리에 변환 에지 검출 기술을 사용하여 처리되는 시스템은, 넓은 범위의 체적 내에서 3차원 파면 맵과 실제 장면 깊이 맵을 모두 제공한다.
본 발명은, 지구-기반의 천문 관측, 안과 등과 같이 파면을 알 필요가 있는 임의의 분야와, 예컨대 실제 장면, CCD 연마, 자동차 기계학 등의 도량형을 필요로 하는 분야에 이용하기에 적합하다. 본 발명은 ELTs(대구경 망원경 : 50 또는 100 m)를 사용하는 대기 단층촬영의 특수한 경우에 적용된다.

公开(公告)号：KR1020150023319A

公开(公告)日：2015-03-05

申请号：KR1020147033537

申请日：2013-05-29

Applicant: 가부시키가이샤 니콘

Inventor： 오타키가츠라 ,  스기사키가츠미 ,  겜마다카시

IPC: H01L21/027 ,  H01L21/66 ,  G03F7/20

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0238 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706 ,  H01L21/0274 ,  G03F7/20 ,  H01L22/12

Abstract: 투영 광학계의 파면 정보를 구하는 파면 계측 방법으로서, 계측용 레티클의 핀홀 어레이로부터 사출된 광속을 투영 광학계에 조사하는 것과, 투영 광학계를 통과한 광속을 X방향 및 Y방향으로 주기성을 가지고 X방향 및 Y방향의 투과율 분포가 정현파 모양의 분포를 가지는 회절 격자에 입사시키는 것과, 회절 격자로부터 발생하는 복수의 광속에 의한 간섭 무늬에 기초하여 투영 광학계(PO)의 파면 정보를 구하는 것을 포함한다. 회절 격자를 이용하여 얻어지는 간섭 무늬에 기초하여, 피검광학계의 파면 정보를 고정밀도로 계측할 수 있다.