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公开(公告)号：CN105378455A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201580000371.2
申请日：2015-06-01
Applicant: 株式会社爱宕
CPC classification number: G01N21/4133 , G01J4/04 , G01N21/03 , G01N21/21 , G01N21/43 , G01N33/02 , G01N2021/1734 , G01N2201/0668 , G01N2201/068 , G01N21/0332 , G01N2021/0389
Abstract: 提供一种在同一测定条件下能够同时测定与测定对象物的旋光度和折射率对应的信息，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装置。具备：试样室(1)，其收纳测定对象物；旋光度测定部(2)，其测定收纳在试样室(1)内的测定对象物的旋光度；以及折射率测定部(3)，其测定与收纳在试样室(1)内的测定对象物的折射率对应的信息。旋光度测定部(2)具有：偏光调制部(11)，其使分析对象光(9)进行偏光调制后向试样室(1)入射；强度检测部(12)，其检测经过了试样室(1)的分析对象光(5)的光强度；以及旋光度运算部(13)，折射率测定部(3)具有：位置检测部(26)，其检测向构成试样室(1)的底部的棱镜(8)入射的分析对象光(24)的位置信息；以及折射率(浓度)运算部(13)。
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公开(公告)号：CN104932112A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510364569.0
申请日：2015-06-26
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G02B27/28 , G01J4/04 , G01J9/02 , G01J2009/0261 , G01J2009/0284 , G02B27/0012
Abstract: 一种实时光场重构结构，包括偏振分束器、第一耦合器、第二耦合器、基于3×3耦合器的第一迈克尔逊干涉仪和第二迈克尔逊干涉仪、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、第五光电探测器、第六光电探测器、第七光电探测器、第八光电探测器、数据采集卡以及计算机。本发明能同时解调出待测激光的振幅、相位以及偏振态，并且根据解调出的信号对光场矢量进行重构，不需要额外的控制手段，对待测激光没有任何限制，提高了光场重构的完整性、实时性和可靠性。
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公开(公告)号：CN104833424A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510064791.9
申请日：2015-02-06
Applicant: 波音公司
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/04 , B64D47/08 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/2823 , G01J2003/2826
Abstract: 本公开涉及一种用于测量图像中的偏振光的系统和方法，特别是涉及一种能够使用有或者没有偏振滤光器的单个照相机采集偏振测定数据的系统。在使用偏振滤光器时，数据获取方法包括：(1)操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位偏振滤光器(和照相机)，(2)彼此配准不同的图像，和(3)计算图像中的关注的点的偏振测定值(诸如斯托克斯参数)。在未使用偏振滤光器时，数据获取方法包括操纵飞行器(或者其他交通工具)以在捕获图像时在不同的方向定位照相机然后进行相同的操作(2)和(3)。这些方法通过在不同的角度拍摄多个照相机图像来测量给定的场景中的偏振的量。
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公开(公告)号：CN103698015A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201410005298.5
申请日：2014-01-06
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种偏振检测仪及检测方法，该偏振检测仪包括一具有变双折射率特性的自聚焦透镜，作为光学相位延迟调制器；一偏振片，作为偏振态分析器；若干普通透镜和一CCD，作为成像器件；一数据处理和显示单元。该偏振检测仪利用自聚焦透镜等变双折射率光学元件广泛具有的特殊双折射分布，通过CCD单帧成像即可得到待测光的斯托克斯向量，能够快速准确地确定光的偏振态。它构造简单，成本较低，它不含有任何运动部件和电调制设备，是完全静态的全斯托克斯向量偏振检测仪。该偏振检测仪可广泛用于椭偏仪，偏振遥感设备和穆勒矩阵测量装置中，可极大地降低成本，提高检测速度。
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公开(公告)号：CN103364348A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310099961.8
申请日：2013-03-26
Applicant: 安东帕有限公司
CPC classification number: G01N21/21 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N21/211 , G01N21/29 , G01N21/59 , G01N21/8803 , G01N21/8806 , G01N21/90 , G01N21/9027 , G01N21/94 , G01N2021/8848
Abstract: 本发明涉及一种用于分析液体样本（115、315）的光学设备（100、300），特别是偏振计，该光学设备包括：发光系统（101、301、355），该发光系统产生用于平面照射样本（115、315）的光（110、310）；检测系统（135、335），该检测系统设置为位置分辨地检测由于为平面照射所提供的光通过样本透射所导致的光；远心光学器件（129、329），该光学器件包括在样本（115、315）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331），和在透镜（131、331）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331）的焦平面（134、334）内的孔径光阑（133、333）。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103238048A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201180058099.5
申请日：2011-11-30
Applicant: 威廉马什赖斯大学
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/02 , G01J3/0224 , G01J3/2823 , G01J4/04
Abstract: 基于影像测绘的旋光分光成像技术。一种用于样品成像的方法。该方法包括，在单次探测事件中，从样品上的采样点接受该点对应的包含偏振编码的电磁场，并按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上。该方法还包括：将这些包含偏振编码的电磁场进行谱域分散，获得对应的光谱，并将这些光谱在探测器上重新成像，最后使用探测器对这些光谱进行检测。
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公开(公告)号：CN101218522B
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN200680024689.5
申请日：2006-06-22
Applicant: 京特·格劳
Inventor： 京特·格劳
IPC: G02B5/30 , H01L31/0232 , G01J1/42
CPC classification number: G02B5/3025 , G01J4/04 , H01L27/14625 , H04N13/341
Abstract: 本发明涉及用于加工偏振敏感的或偏振的滤镜的方法及其在用于测量入射光偏振的偏振敏感的光传感器上的应用，还涉及用于测量旋转角和强的电场或磁场的偏振敏感传感器的设计方式以及用于还原偏振信号或再现独立信号的起偏显像装置和起偏显像装置的设计方式。
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公开(公告)号：CN101738374B
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN200910168401.7
申请日：2009-08-24
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L29/66984 , G01J4/04
Abstract: 本发明涉及自旋极化载流子器件，该器件包括：载流子通道，包括非铁磁半导体，其中载流子在载流子通道中呈现自旋轨道耦合；与通道传导类型相反的半导体材料区域，用于与通道形成用于注入自旋极化载流子到通道一端的结；以及，至少一根连接到通道的导线，用于测量跨过通道的横向电压。
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公开(公告)号：CN101120359B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200680003833.7
申请日：2006-02-01
Applicant: 因特格莱弗软件技术公司
Inventor： 希莉亚·G·惠特克
CPC classification number: G01J4/04 , G01N21/21 , G06K7/10712 , G06K2009/3225 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T2207/30204
Abstract: 本发明涉及一种实时检测偏振识别标记的系统和方法。提供具有多个像素的图像数据帧(110)，其中每个像素包括偏振光强度信息。根据偏振光强度信息确定每个像素的强度值(120)。选择具有强度范围内的强度值的第一部分像素(130，140)。分析第一部分中具有容许范围内的相似角度的线偏振值的像素(180)，从而检测图像数据中的偏振识别标记(190)。
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公开(公告)号：CN101738374A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200910168401.7
申请日：2009-08-24
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L29/66984 , G01J4/04
Abstract: 本发明涉及自旋极化载流子器件，该器件包括：载流子通道，包括非铁磁半导体，其中载流子在载流子通道中呈现自旋轨道耦合；与通道传导类型相反的半导体材料区域，用于与通道形成用于注入自旋极化载流子到通道一端的结；以及，至少一根连接到通道的导线，用于测量跨过通道的横向电压。
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