公开(公告)号：CN104502282A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201510030651.X

申请日：2015-01-21

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 裘俊 ,  冉东方 ,  金荣 ,  赵军明 ,  刘林华

IPC: G01N21/21 ,  G01J4/04

Abstract: 考虑光子晶体表面氧化膜分布的偏振特性数值计算方法，本发明涉及偏振特性数值计算方法。本发明为了解决现有的技术未考虑不同位置处膜厚的不均匀性及工作量大、速度慢的问题。具体是按照以下步骤进行的：步骤一、在已知光子晶体结构参数的情况下，通过FDTD数值模拟方法，求得光子晶体上方的空间电磁场分布；步骤二、计算辐射偏振特性，用光学椭偏参数表示；步骤三、计算穆勒矩阵元素，建立数据库；步骤四、利用仪器对光子晶体表面的光学椭偏参数进行测量，并计算穆勒矩阵元素，然后与数据库对比，得到对应的光子晶体表面氧化膜厚度及氧化膜分布不同位置。本发明应用于测量光子晶体表面氧化膜领域。

公开(公告)号：CN103743487A

公开(公告)日：2014-04-23

申请号：CN201310739314.9

申请日：2013-12-30

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  李创 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  吴冰 ,  苑立波

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到差分对称光程扫描的一种光学相干域偏振测量装置。本发明的宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、检偏器、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置按照上述顺序连接在一起。本发明利用光学相干域偏振测量装置信号输出幅度与光程扫描延迟器透射光强的乘积成正比的特点，使处于光程相关器两干涉臂中的差分对称光程扫描装置实现光强自动补偿，极大地抑制了单一扫描器强度浮动对测量的影响，提高偏振串音的测量精度，降低对扫描器强度浮动性能的要求。

公开(公告)号：CN103403528A

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201280010861.7

申请日：2012-02-28

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01N21/23 ,  G01J4/04 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/23 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/453 ,  G01J3/4535

Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后，经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且，由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时，通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化，因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化，从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换，能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。

公开(公告)号：CN103364348A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310099961.8

申请日：2013-03-26

Applicant: 安东帕有限公司

Inventor： M·奥斯特迈耶尔 ,  G·法菲尔

IPC: G01N21/21 ,  G01J4/04

CPC classification number: G01N21/21 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/001 ,  G01N21/211 ,  G01N21/29 ,  G01N21/59 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/90 ,  G01N21/9027 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/8848

Abstract: 本发明涉及一种用于分析液体样本（115、315）的光学设备（100、300），特别是偏振计，该光学设备包括：发光系统（101、301、355），该发光系统产生用于平面照射样本（115、315）的光（110、310）；检测系统（135、335），该检测系统设置为位置分辨地检测由于为平面照射所提供的光通过样本透射所导致的光；远心光学器件（129、329），该光学器件包括在样本（115、315）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331），和在透镜（131、331）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331）的焦平面（134、334）内的孔径光阑（133、333）。

公开(公告)号：CN103308175A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310250980.6

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  刘龙海 ,  邓柏寒 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于待测双折射样品的同一端，可以通过单端扫描测量双折射样品的相位延迟量分布和快轴方位角分布，同时测量光束两次通过双折射样品，测量精度提高一倍。

公开(公告)号：CN103238048A

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：CN201180058099.5

申请日：2011-11-30

Applicant: 威廉马什赖斯大学

Inventor： R·T·凯斯特 ,  T·S·特卡兹克

IPC: G01J3/28 ,  G01J4/04 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/2823 ,  G01J4/04

Abstract: 基于影像测绘的旋光分光成像技术。一种用于样品成像的方法。该方法包括，在单次探测事件中，从样品上的采样点接受该点对应的包含偏振编码的电磁场，并按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上。该方法还包括：将这些包含偏振编码的电磁场进行谱域分散，获得对应的光谱，并将这些光谱在探测器上重新成像，最后使用探测器对这些光谱进行检测。

公开(公告)号：CN103210294A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201180054595.3

申请日：2011-11-07

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 江口明大 ,  下田知之

IPC: G01M11/00 ,  G01J4/04 ,  G01N21/21 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/13363

CPC classification number: G01N21/21

Abstract: 本发明对大面积的光学膜的光学特性进行迅速且高精度地测量。作为测量对象的光学膜12载置于面照明部14上。自面照明部14朝向光学膜12投射圆偏光。藉由光学膜12在X方向上移动，而光学膜12上的测量像素E依序通过摄像部15内的CCD相机的第1摄像区～第4摄像区。CCD相机在测量像素E通过各摄像区时对测量像素E进行多次摄像。将藉由该多次摄像所获得的输出值相加所得的值作为该摄像区的测量值。测量像素E的司托克士参数是根据4个摄像区的测量值而算出。针对光学膜12上的所有测量像素E而取得司托克士参数。

公开(公告)号：CN103162836A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310084642.X

申请日：2013-03-15

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 房建成 ,  李茹杰 ,  胡朝晖 ,  万双爱 ,  陈瑶 ,  全伟

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种光偏振方向调制组件与光学干涉相结合来对光偏振微小转角进行检测的装置及方法。激光器产生的光束经分束器、起偏器后变成两束线偏振光，其中一束光经过旋光介质后其偏振方向会附加微小转角，另一束光经光偏振方向调制组件后其偏振方向被调制，之后两束光经消偏振分光棱镜及检偏器变成两束相干光束，进入光电探测器转变为电信号，数字处理器用于对电信号中与调制组件调制频率一致的一次谐波及其二次谐波信号进行提取计算，实现光偏振微小转角的测量。本发明将光偏振方向调制检测方法与光学干涉相结合，实现对光偏振微小转角信号的光学放大，可用于原子自旋磁强计、原子自旋陀螺仪等仪器对光偏振微小转角的精密测量。

公开(公告)号：CN102879103A

公开(公告)日：2013-01-16

申请号：CN201210396106.9

申请日：2012-10-17

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 李中梁 ,  王向朝 ,  汤飞龙

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种偏振检测装置器件误差的校正方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，斯托克斯参数为(1,1,0,0)的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定检偏器透光轴角度为0度并进行第一次测量，得到归一化斯托克斯参数的第一次测量误差；设置检偏器透光轴角度为45度并进行第二次测量，得到归一化斯托克斯参数的第二次测量误差；求解偏振检测装置中相位延迟器的相位延迟量误差、快轴角度误差和检偏器的透光轴角度误差，从而实现误差校正。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可测量偏振检测装置中的器件误差，进而实现器件误差的校正。

公开(公告)号：CN101936774B

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN201010268324.5

申请日：2010-08-27

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 李中梁 ,  王向朝 ,  唐锋

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特点在于，斯托克斯参数已知的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定第一次测量的初始状态并进行测量；设定第二次测量的初始状态并进行测量，第二次测量的初始状态是在第一次测量的初始状态的基础上，分别旋转相位延迟器件和检偏器一定的角度，满足检偏器的旋转角度为相位延迟器件旋转角度的2倍，且旋转方向相同，对测量进行数据处理获得器件的误差。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可快速测量相位延迟器件和检偏器的各类误差。