변형 채널 영역을 포함하는 반도체 장치
    41.
    发明公开
    변형 채널 영역을 포함하는 반도체 장치 审中-实审
    包括应变通道区域的半导体器件

    公开(公告)号:KR1020150143368A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:KR1020150084024

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 변형채널영역을포함하는반도체장치가제공된다. 상기반도체장치는, 양자우물채널영역(quantum well channel region)를포함하되, 상기양자우물채널영역은, 상기채널영역의표면이반전된상태로바이어스될때, 상기채널영역의표면과인접하여형성되는최저표면산란도(surface roughness scattering)와관련되는최저에너지레벨(lowermost energy level)을갖는부등에너지레벨(unequal energy levels)을각각포함하는다수의등가형전자전도상태(equivalent-type electron conduction states)를변형-유도분할(strain-induced splitting)하는것이가능한우물두께(Tw)를포함한다.

    Abstract translation: 提供了包括应变通道区域的半导体。 半导体器件包括量子阱沟道区域。 量子阱沟道区具有足够的厚度(TW),以产生多个等效电子传导状态的应变诱发分裂,包括相应的不等能级,其具有与邻近形成的最低表面粗糙度散射相关联的最低能级 当通道区域的表面被偏置成反转状态时,沟道区域的表面。

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