一种光谱测试装置及方法
    42.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103217218B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201310085646.X

    申请日:2013-03-18

    CPC classification number: G01J3/0254 G01J3/506

    Abstract: 本发明实施例公开了一种光谱测试装置及方法,该装置包括:积分球(501),中空且顶部设置有一个出光口,内壁涂有漫反射层,并且所述漫反射层的各点漫射均匀,将光线均匀地打散;光源(502),位于所述积分球(501)的球心处,在通电时发出光线;挡板(503),位于所述出光口和所述光源(502)之间,防止所述光源(502)发出的光线未经打散就从所述出光口射出;测试镜头(504),位于所述出光口上方,用于测试来自所述出光口的光线,获取其光谱,用以解决传统的背光源光谱测试方法不能直接测试光源,获取其光谱耗时较久的问题。

    一种光谱测试装置及方法
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103217218A

    公开(公告)日:2013-07-24

    申请号:CN201310085646.X

    申请日:2013-03-18

    CPC classification number: G01J3/0254 G01J3/506

    Abstract: 本发明实施例公开了一种光谱测试装置及方法,该装置包括:积分球(501),中空且顶部设置有一个出光口,内壁涂有漫反射层,并且所述漫反射层的各点漫射均匀,将光线均匀地打散;光源(502),位于所述积分球(501)的球心处,在通电时发出光线;挡板(503),位于所述出光口和所述光源(502)之间,防止所述光源(502)发出的光线未经打散就从所述出光口射出;测试镜头(504),位于所述出光口上方,用于测试来自所述出光口的光线,获取其光谱,用以解决传统的背光源光谱测试方法不能直接测试光源,获取其光谱耗时较久的问题。

    光谱测定装置
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102265132A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN200980152415.8

    申请日:2009-09-24

    Abstract: 本发明的光谱测定装置(1A)具备用于观测从测定对象试料(S)发出的被测定光的积分球(20)、以覆盖试料(S)的形式保持用于调节试料(S)温度的介质(R),并且以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位的杜瓦瓶(50)。通过使用以覆盖试料(S)的形式保持介质(R)的杜瓦瓶(50),从而就能够简便地将试料(S)调节至所希望的温度。通过以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位,从而就能够抑制来自于积分球(20)外部环境的对试料(S)的影响,并由介质(R)来调节试料(S)的温度。因此,就能够有效地将试料(S)调节至所希望的温度。

    量子效率测量装置以及量子效率测量方法

    公开(公告)号:CN101932926A

    公开(公告)日:2010-12-29

    申请号:CN200980000111.X

    申请日:2009-01-20

    Inventor: 大久保和明

    Abstract: 将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致,抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。

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