光谱仪和光谱学方法
    41.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104114984B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201280061394.0

    申请日:2012-12-11

    Abstract: 一种火花光发射光谱仪,该光谱仪包括:一个用于引起来自一个样品的光的火花诱导发射的火花源;一个单一的入口狭缝;一个用于引导该光通过该单一入口狭缝的超环面反射镜;多个用于对已经由该反射镜引导通过该入口狭缝的光进行衍射的衍射光栅,在此该多个衍射光栅被同时地照射;以及至少一个用于检测来自该多个衍射光栅的衍射光的阵列检测器,其中,该反射镜用于引导该光通过该入口狭缝,使得来自该火花源中不同区域的光在这些光栅处的该光的一个图像中在空间上被分离,在此一个第一衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第一区域的光照射且同时一个第二衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第二区域的光照射。

    量子计
    42.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105579816A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201480039159.2

    申请日:2014-05-07

    CPC classification number: G01J3/0264 A01G7/045 G01J3/027 G01J3/0294 Y02P60/146

    Abstract: 提出一种能够实时地知道在每个波长的光合光子通量密度的可实践的量子计。通过分光镜单元1中的入射光学系统13而入射在分散元件12上的测量光由分散元件12分散,并且在检测器14上被转换成光电信号。在每个波长的每个光电信号(光谱数据)经接口构件16和26被发送给处理单元2,处理单元2是通用计算机。已安装有光合光子通量密度测量程序4和专用装置驱动器262的处理单元2通过处理接收的光谱数据来计算在每个波长的光合光子通量密度的分布,并且在显示器24上显示在每个波长的光合光子通量密度的分布。

    高效率多通道光谱仪
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104508439A

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201380039223.2

    申请日:2013-04-23

    Applicant: 雷神公司

    CPC classification number: G01J3/18 G01J3/0291 G01J3/0294 G01J3/2823 G01J3/36

    Abstract: 多通道成像光谱仪(100)及其使用方法。所述多通道成像光谱仪的一个示例包括单个入口狭缝(120)、双程反射三元组(110)和至少一对衍射光栅(150、160)。所述光谱仪配置为接收和校准来自入口狭缝的输入光束,使用分束器将校准光束分成两个光谱子波段,以及将每个子波段引导至所述一对衍射光栅中的一个。所述衍射光栅每个配置为将校准光束的接收部分色散成其组成颜色,并且重新引导色散输出通过所述反射三元组成像到位于与所述入口狭缝对准的焦平面(180)处的图像传感器中。

    光谱仪和光谱学方法
    45.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104114984A

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201280061394.0

    申请日:2012-12-11

    Abstract: 一种火花光发射光谱仪,该光谱仪包括:一个用于引起来自一个样品的光的火花诱导发射的火花源;一个单一的入口狭缝;一个用于引导该光通过该单一入口狭缝的超环面反射镜;多个用于对已经由该反射镜引导通过该入口狭缝的光进行衍射的衍射光栅,在此该多个衍射光栅被同时地照射;以及至少一个用于检测来自该多个衍射光栅的衍射光的阵列检测器,其中,该反射镜用于引导该光通过该入口狭缝,使得来自该火花源中不同区域的光在这些光栅处的该光的一个图像中在空间上被分离,在此一个第一衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第一区域的光照射且同时一个第二衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第二区域的光照射。

    基于同心球聚焦元件的多光谱干涉仪

    公开(公告)号:CN106949969A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710196199.3

    申请日:2017-03-29

    Abstract: 基于同心球聚焦元件的多光谱干涉仪,属于光学测量领域,为解决现有干涉仪只能提供一种测量通道的问题,前置干涉成像系统,该系统由复色光源和干涉仪光学系统组成,该干涉仪为复色光源发出的光入射到扩束镜,扩束后发出的光入射到第一分光板,光经第一分光板反射后被准直透镜准直成平行光束,平行光束垂直依次入射到标准平晶及待测件上;光经标准平晶和待测件反射,反射光经过第一分光板透射到第二分光板上,经第二分光板经进入准直透镜出射成平行光,平行光再经分光光栅将复色光分成不同谱段的光,不同谱段的光通过同心球聚焦元件聚焦到中继成像系统上,再由CMOS探测器进行干涉成像检测和分析;本发明具有共光路多光轴特性,实现多光谱干涉检测。

Patent Agency Ranking