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公开(公告)号：CN104220919B
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201380019934.3
申请日：2013-02-14
Applicant: 奥林巴斯株式会社
CPC classification number: G01N21/17 , G01J1/44 , G01J2001/4242 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697 , G02B21/002 , G02B21/0084 , G02B21/16 , G02B23/24
Abstract: 提供如下的激光扫描型观察装置：针对不同观察条件，不用进行烦杂的调整，就能够在最适于图像构成的定时对检测信号进行采样，能够使检测信号的对比度最大化，能够降低暗噪声并提高画质。激光扫描型观察装置具有对被检体(30)进行照射的脉冲激光振荡单元(11)、接收来自被检体的光并输出检测信号的检测部(12)、检测脉冲激光的振荡并输出同步信号的单元(13)、使同步信号延迟任意时间并输出触发信号的电路部(14)、与触发信号同步地对检测信号进行采样的单元(15)、蓄积所采样的检测信号的存储器部(16)、能够将延迟时间在同步信号的1个周期以内设定为2个以上的阶段的设定部(17)、使用各延迟阶段的检测信号的强度数据判定最适于图像构成的延迟阶段的判定部(18)，设定部将与判定部判定出的延迟阶段对应的时间固定为电路部(14)延迟的延迟时间。
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公开(公告)号：CN105954290A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610248054.9
申请日：2016-04-19
Applicant: 广州睿成信息科技有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明公开一种检测黄铜板带表面畸变的检测装置，其包括：控制器、激光发射器、激光接收器、处理模块、计算模块和对比模块；所述激光发射器向黄铜板带表面发射激光；所述激光接收器接收所述黄铜板带表面反射的激光，并记录接收位置和接收时间；所述处理模块处理得到该接收位值对应的所述激光发射器的序号及所述接收位置到零点的距离；所述计算模块计算所述激光发射器照射位置的对比值；所述对比模块接收所述对比值，判断对应的所述照射位置是否发生畸变；所述控制器接收所述照射位置数据及畸变情况，得出所述黄铜板带的表面畸变结果。这样，可以及时检测出黄铜板带表面畸变情况，便于及时发现成品问题，进而可以调整生产工序，提高成品率。
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公开(公告)号：CN105917211A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201480073440.8
申请日：2014-11-19
Applicant: 艾森生物科学公司
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N21/6486 , G01N33/56972 , G01N2015/1006 , G01N2015/1402 , G01N2015/1438 , G01N2015/1477 , G01N2021/6471 , G01N2021/6478 , G01N2201/06113
Abstract: 本申请公开了用于台式流式细胞仪的光学引擎，该光学引擎包括激光源组；用于每个激光源的不同的光束整形光学系统组，其中每一组包括两个透镜，沿X轴水平可调地聚焦光线到同一水平位置，并且沿Y轴竖直可调地聚焦光线到沿同一平面的不同竖直位置；采集光学系统，其从流通室中采集荧光；过滤光学系统，其根据波长范围将从流通室中已采集的荧光过滤到不同检测通道中；以及用于每个检测通道的检测器，其将过滤的荧光转换成电信号，其中电信号被处理以使得来自位于不同竖直位置的每个激光源的荧光在同一检测器中被区分。
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公开(公告)号：CN105910995A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201610203853.4
申请日：2016-04-01
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01N21/211 , G01N2021/216 , G01N2201/061 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明公开一种瞬态偏振吸收光谱测量方法及实现该方法的一种激光闪光光解仪系统，该方法包括以下步骤：用偏振态可调控的泵浦光激发待测样品；将偏振态可调控的探测光入射到待测样品上；信号检测和数据处理单元对经待测样品散射的探测光进行偏振态选择检测处理。使用本发明的方法和系统可以对具有手性分子等结构具有不对称性的待测样品进行瞬态偏振吸收光谱的检测分析。
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公开(公告)号：CN102812347B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201180012441.8
申请日：2011-01-04
Applicant: BT成像股份有限公司
Inventor： 罗伯特·安德鲁·巴多斯 , 约尔根·韦伯 , 托斯顿·特鲁普克 , 伊恩·安德鲁·麦克斯威尔 , 韦恩·麦克米兰
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6489 , G01N21/9501 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/08
Abstract: 本发明涉及一种用于分析半导体材料（8）的方法，尤其是涉及一种利用在高强度照射（16）下产生的光致发光的成像（12）来分析硅光伏电池和电池前驱的方法。通过该照射得到的高光致发光信号水平能够实现对移动中的样品的具有最小模糊的图像的采集。使得半导体设备生产商感兴趣的某些材料的缺陷，尤其是裂痕，在高强度照射下显得很清晰。在某些实施例中，通过采用高强度照射和低强度照射产生的光致发光图像与重点被选的材料特性或缺陷进行比较。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105842206A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610181388.9
申请日：2016-03-28
Applicant: 江苏大学
IPC: G01N21/59
CPC classification number: G01N21/59 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明公开了一种输电线路绝缘子表面灰密标定方法及装置，利用激光透射原理，拟合得到激光透射率与绝缘子表面灰密值之间的关系，其特征在于：包括单片机系统、嵌有光强传感器的积污玻璃、嵌有光强传感器的无污玻璃、温湿度传感器、气压传感器、激光发射端组成；通过测量积污玻璃与无污玻璃透过的光强，获得玻璃积污与光强的关系，得到激光透射率与灰密的数学模型，从而实现输电线路绝缘子的表面灰密标定；本发明能够提高输电线路绝缘子表面积污标定的准确性，可应用于绝缘子在线污秽监测。
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公开(公告)号：CN105764854A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201480059136.8
申请日：2014-09-03
Applicant: 纽约州立大学研究基金会
Inventor： P·N.·普拉萨德 , T·Y.·欧哈尔克汉斯基 , 关颖·陈 , H·迟
CPC classification number: G03F7/0046 , B82Y30/00 , C01F17/0043 , C01P2002/84 , C01P2004/04 , C01P2004/64 , C01P2004/88 , G01N21/6428 , G01N2201/06113 , G03F7/0385 , G03F7/2051
Abstract: 本发明提供了核壳纳米颗粒及制备和使用纳米颗粒的方法。所述纳米颗粒包括包含掺杂有Tm的六方相β?NaYF4的核和包括NaYF4，NALU F4或NaGdF4的壳。核壳纳米颗粒可以用于将近红外光上转换到UV或可见蓝光，其可以使可光聚合材料聚合。核壳纳米颗粒可以用于诸如，例如光刻应用、光图案化应用、制造聚合物涂层、医疗应用、牙科应用和防伪应用的应用中。
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公开(公告)号：CN105738320A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201510973911.7
申请日：2015-12-22
Applicant: 株式会社荏原制作所 , 国立大学法人九州工业大学
IPC: G01N21/47 , G01B11/30 , B24B53/017
CPC classification number: B24B37/005 , G01N21/55 , G01N2021/4742 , G01N2201/06113 , G01N2201/0826 , G01N21/4738 , B24B53/017 , G01B11/30
Abstract: 提供一种研磨垫的表面性状测定方法和装置，通过使激光以多个入射角向研磨垫入射，从而能够对反映出CMP性能的研磨垫的表面性状进行测定。在研磨垫(2)的表面性状测定方法中，通过对研磨垫(2)的表面照射激光，接受由研磨垫表面反射的光并进行傅里叶转换，从而求出研磨垫(2)的表面性状，其中，使激光以多个角度向研磨垫(2)入射。
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公开(公告)号：CN105717085A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610084971.8
申请日：2011-01-04
Applicant: BT成像股份有限公司
Inventor： 伊恩·安德鲁·麦克斯威尔 , 托斯顿·特鲁普克 , 罗伯特·安德鲁·巴多斯 , 肯尼斯·艾德蒙·阿内特
CPC classification number: G01N21/6489 , G01N21/9501 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/08
Abstract: 本发明提供一种用于对半导体材料的样品进行分析的系统和方法，所述系统包括：传送机构，用于将所述样品传送至测量区；光源，用于照射所述样品的一块区域以产生光致发光；以及分析设备，用于在所述测量区内对所述样品进行至少一次光致发光分析，其中，所述测量区是未封闭的对视力无害的测量区。
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公开(公告)号：CN105699277A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610075695.9
申请日：2012-03-30
Applicant: 希森美康株式会社
CPC classification number: G01N15/14 , G01N15/1459 , G01N21/49 , G01N21/51 , G01N21/64 , G01N21/6428 , G01N21/6486 , G01N33/5005 , G01N33/5047 , G01N33/80 , G01N35/00722 , G01N35/026 , G01N2015/0065 , G01N2015/0073 , G01N2015/008 , G01N2015/1006 , G01N2015/1402 , G01N2015/1477 , G01N2015/1479 , G01N2021/4707 , G01N2021/6439 , G01N2021/6441 , G01N2021/6493 , G01N2035/0412 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明提供一种能够将异常淋巴细胞与未成熟细胞和异型淋巴细胞区分开并检测出来的血液分析装置及血液分析方法。血液分析装置1在试样制备部件22中混合含有溶血剂的第一试剂、含有用于染色核酸的荧光染色色素的第二试剂、以及血液样本，以此制备测定试样。所述溶血剂中不含阳离子表面活性剂但含有非离子表面活性剂。血液分析装置1能够通过检测部件23测定测定试样，在信息处理单元5对检测部件23输出的测定数据进行处理，分别检测出异常淋巴细胞和未成熟细胞。信息处理单元2根据检测结果输出分析结果。
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