公开(公告)号：CN105008896A

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201380072718.5

申请日：2013-12-09

Applicant: 内克西斯公司 ,  埃克斯-马赛大学

Inventor： A·莫罗 ,  V·贝穆德兹 ,  L·埃斯库巴斯 ,  J-J·西蒙

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01B11/303 ,  G01N21/1717 ,  G01N2021/1725 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及用于表征粗糙表面的光反射设备(1)，其包括：-用于发射泵浦光束(3)的装置(2)；-用于发射探测光束(11)的装置(8)；用于检测由所述表面反射的探测光束的装置(14)；-能够收集由所述表面反射的探测光束的积分球(13)，所述积分球包括：-第一输出(15)，其连接到检测装置(14)并被设置以接收由所述表面(4)反射的大部分探测光束(11)；-第二输出(16)，其被布置以接收由所述表面反射的大部分泵浦光束(3)。

公开(公告)号：CN103250045B

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201180057392.X

申请日：2011-08-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N21/645 ,  G01N2201/065

Abstract: 量子产率测定装置(1A)通过将激发光(L1)照射至用以容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，且检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一者放出的被测定光(L2)，从而测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1A)具有：在内部配置有试料容纳部(3)的暗箱(5)；具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，且产生激发光(L1)的光产生部(6)；具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)的光检测部(9)；具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)、且配置于暗箱(5)内的积分球(14)；及以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使试料容纳部(3)、光出射部(7)及光入射部(11)移动，并在第1状态，使光出射部(7)与光入射开口(15)相对，且使光入射部(11)与光出射开口(16)相对的移动机构(30)。

公开(公告)号：CN103403532A

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201180068173.1

申请日：2011-12-22

Applicant: 艾克斯波特西溶液公司

Inventor： 瓦莱丽·罗比泰丽 ,  科迪·安德鲁斯

IPC: G01N21/51 ,  A01K61/00 ,  G01N21/25 ,  G01N21/55 ,  G06M11/00

CPC classification number: G01N21/51 ,  A01K61/00 ,  A01K61/59 ,  A01K61/80 ,  A01K61/90 ,  A22C29/005 ,  G01J1/42 ,  G01N21/55 ,  G01N33/18 ,  G01N2201/0212 ,  G01N2201/0627 ,  G01N2201/065 ,  G06M1/101 ,  G06M11/00 ,  Y02A40/81 ,  Y02A40/824

Abstract: 光耦合数据采集系统，其可具有：容器，所述容器具有从封闭底部向上延伸的轮廓壁，所述容器用于将样本容纳在其中；光发射器，其可操作以使漫射光以初始强度射入容器内；光检测器，其可操作以检测所述漫射光的反射强度；以及连接至所述轮廓壁的结构体，该结构体使所述光发射器和所述光检测器保持在所述容器底部上方的预定高度处，并处于面向所述容器内的方位；其中，在所述系统操作时，所述初始光强度经由样本以可使反射强度与关于所述样本的兴趣变量的信息值相关联的方式进行衰减。

公开(公告)号：CN103063409A

公开(公告)日：2013-04-24

申请号：CN201210309367.2

申请日：2012-08-27

Applicant: 毕克-加特纳有限责任公司

Inventor： 塞韦林·温默 ,  彼得·施瓦茨

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01N21/553 ,  G01J1/04 ,  G01N21/274 ,  G01N21/55 ,  G01N21/5907 ,  G01N2201/065

Abstract: 一种用于测量透明材料的光学性质的仪器，包括：第一照明装置(2)，用于用预设的辐射沿预设的照明路径(P)照亮待研究的材料(10)；辐射记录空间(4)，用于记录穿过所述待研究的材料(10)传递的辐射，其中所述辐射记录空间(4)设置为使得由所述第一照明装置(2)发射的辐射首先照射在所述材料(2)上然后至少一次照射在所述辐射记录空间(4)的内壁(42)上；辐射探测器装置(12)，用于记录基本仅从所述辐射记录空间(4)的内壁(42)反射和/或散射的辐射；以及第二照明装置(14)，用于照亮所述辐射记录空间(4)的内壁(42)。根据本发明，第二照明装置(14)适用于发射经调制的辐射。

公开(公告)号：CN102947693A

公开(公告)日：2013-02-27

申请号：CN201180018136.X

申请日：2011-02-07

Applicant: 国家科学研究中心 ,  法国电力公司 ,  圣康丁昂伊夫利纳-凡尔赛大学

Inventor： 金-弗朗索斯·古伊莱莫莱斯 ,  阿诺德·埃切伯里 ,  伊莎贝勒·吉拉德 ,  皮埃尔·塔安-文

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/47 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01N21/6489 ,  G01N21/4738 ,  G01N2021/6493 ,  G01N2201/065 ,  H02S50/10

Abstract: 本发明涉及一种用于确定光转换器材料在测量光强度I0下的最大开路电压(Vco)和能够输出的功率的方法，该方法包括如下步骤：测量材料的光致发光强度；以大致等于光转换器材料的光致发光波长的第二波长(λ2)来测量光转换器材料的吸收率；籍助于以大体相同的波长所测量获得的吸收率和光致发光强度来确定光转换器材料在测量光强度I0下的最大开路电压(Vco)；所述发明的特征在于，所述光源和光转换器材料设置成材料辐照表面上入射和射出的光线与由检测器所收集的光线的角分布大体相同。

公开(公告)号：CN102818787A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201210187979.9

申请日：2012-06-08

Applicant: 卡尔蔡司微成像有限责任公司

Inventor： J.马格拉夫 ,  P.兰帕特

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N21/958

CPC classification number: G01N21/8901 ,  G01N21/474 ,  G01N21/896 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及一种用于确定优选大面积半透明的对象的透射和/或反射特性的光学测量方法。该光学测量方法尤其是能够应用于在制造被表面涂层的衬底时的工艺和质量控制。此外，本发明的主题是用于执行本发明方法的光学测量设备。根据本发明，确定透射和反射特性，其方式是顺序地：利用第一照明装置照射对象的第一大面并且在此利用光电探测器（14）测量总透射，利用第二照明装置照射对象的与第一大面平行相对的第二大面并且在此利用光电探测器（4）测量漫透射，并且可选地利用第一照明装置照射对象的第一大面并且在此利用光电探测器（4）测量反射，和/或利用第二照明装置照射对象的第二大面并且在此利用光电探测器（14）测量反射。

公开(公告)号：CN102791187A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201180012667.8

申请日：2011-03-01

Applicant: 株式会社资生堂

Inventor： 大江麻里子 ,  菊地久美子 ,  矢内基裕 ,  舛田勇二

IPC: A61B5/00 ,  A61B5/107 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01N21/359 ,  A61B5/0064 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/441 ,  A61B5/443 ,  A61B5/4875 ,  A61B5/6814 ,  G01N21/3554 ,  G01N21/474 ,  G01N2201/065

Abstract: 一种用于在多个不同的近红外区域中通过拍摄单元来拍摄被拍照对象的脸部图像的照明装置，其特征在于，具有：外壳，容纳被拍照对象的脸部整体的一部分并且形成有大致球状的空间；至少两个光源，在所述球状的面上于被拍照对象的左右对象位置各配置一个或多个，并且向所述外壳的空间内照射光；以及拍摄单元，对通过所述光源被照射光的所述脸部整体的一部分进行拍摄，并且所述照明装置具有：设置在所述光源前的第一滤光片，该第一滤光片遮断紫外线及红外线；以及设置在所述拍摄单元的透镜前的第二滤光片及第三滤光片，该第二滤光片对光量进行调整，该第三滤光片进行与所述多个不同的近红外区域对应的带通滤光。

公开(公告)号：CN102265132A

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN200980152415.8

申请日：2009-09-24

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/63

CPC classification number: G01N21/0332 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/255 ,  G01N21/645 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明的光谱测定装置(1A)具备用于观测从测定对象试料(S)发出的被测定光的积分球(20)、以覆盖试料(S)的形式保持用于调节试料(S)温度的介质(R)，并且以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位的杜瓦瓶(50)。通过使用以覆盖试料(S)的形式保持介质(R)的杜瓦瓶(50)，从而就能够简便地将试料(S)调节至所希望的温度。通过以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位，从而就能够抑制来自于积分球(20)外部环境的对试料(S)的影响，并由介质(R)来调节试料(S)的温度。因此，就能够有效地将试料(S)调节至所希望的温度。

公开(公告)号：CN101627288A

公开(公告)日：2010-01-13

申请号：CN200780051940.1

申请日：2007-03-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01J1/02 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J3/0254 ,  G01N21/4738 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及一种光检测装置(1)，其具备观测通过向样品照射激励光而产生的被检测光的积分球(20)、以及可装卸地安装于该积分球(20)的样品架(60)；积分球(20)具有用于导入激励光的激励光导入孔(201)、以及用于导入样品架(60)所保持的单元(C)的样品导入孔(205)；样品架(60)被卡止于样品导入孔(205)中并保持用于容纳样品的单元(C)，并将单元配置为：激励光入射于单元(C)时的入射面相对于与激励光的光轴(L)垂直的面倾斜。

公开(公告)号：CN101171506A

公开(公告)日：2008-04-30

申请号：CN200680015553.8

申请日：2006-05-05

Applicant: 恪纳腾技术公司

Inventor： V·韦利丹德拉 ,  A·索曼奇 ,  R·苏塔尔曼 ,  S·W·米克斯

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01B11/306 ,  G01N21/211 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/9503 ,  G01N21/9506 ,  G01N2021/556 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/065

Abstract: 在一个实施方案中，检测晶片(122)边缘区域的系统(110)，包括表面分析器组件，所述表面分析器组件包括将辐射束瞄准到晶片(122)表面的辐射瞄准组件；收集从所述晶片(122)表面反射的辐射的反射辐射收集组件；相对于所述晶片(122)的边缘表面(126)旋转所述表面分析器组件的装置；以及在所述晶片的边缘区域检测一个或更多个缺陷的装置。