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    OPTICAL ILLUMINATION APPARATUS AND METHOD
    41.
    发明授权
    OPTICAL ILLUMINATION APPARATUS AND METHOD 有权

    公开(公告)号：EP2283343B1

    公开(公告)日：2018-09-19

    申请号：EP09754241.9

    申请日：2009-05-18

    Applicant: Koninklijke Philips N.V.

    Inventor： VAN DIJK, Erik, M., H., P. ,  HEZEMANS, Cornelius, A.

    IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

    CPC classification number: G01N21/6452 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2201/1053 ,  G02B21/0032

    Abstract: An optical system for detecting light from a 2D area of a sample (36) comprises a collection lens (34) for collecting light from a collection region of the sample. A light detector (44) is positionally fixed with respect to the sample, and a reflector arrangement (61) directs collected light to the detector. The reflector arrangement comprises movable components and the collection lens (34) is movable relative to the sample. The collection lens and the movable components are configurable to define different collection regions, and the movement of the components effects a direction of the light from the collection region to a substantially unchanged area of the light detector (44). This arrangement avoids the need for a bulky detector in order to detect signals from a 2D sample area formed by scanning across the sample. This enables a more compact, cheaper and simpler solution.

    OPTOELEKTRONISCHER SENSOR UND VERFAHREN ZUR TRANSMISSIONSÜBERWACHUNG EINER FRONTSCHEIBE
    42.
    发明公开
    OPTOELEKTRONISCHER SENSOR UND VERFAHREN ZUR TRANSMISSIONSÜBERWACHUNG EINER FRONTSCHEIBE 有权
    光学传感器传感器VERFAHREN ZURTRANSMISSIONSÜBERWACHUNGEINER FRONTSCHEIBE

    公开(公告)号：EP3078985A1

    公开(公告)日：2016-10-12

    申请号：EP16161687.5

    申请日：2016-03-22

    Applicant: SICK AG

    Inventor： Engler, Michael ,  Hammes, Markus ,  Krämer, Joachim ,  Meyer, Christof J.

    IPC: G01S17/42 ,  G01S7/481 ,  G01S7/497

    CPC classification number: G01N21/59 ,  G01D5/30 ,  G01M11/00 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/1053 ,  G01S7/4817 ,  G01S7/497 ,  G01S17/42 ,  G01S2007/4975

    Abstract: Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich (20) angegeben, der Folgendes aufweist: eine Frontscheibe (38), einen Lichtsender (12) zum Aussenden eines Lichtstrahls (16), eine bewegliche Ablenkeinheit (18) zur periodischen Abtastung des Überwachungsbereichs (20) mit dem Lichtstrahl (16), einen Lichtempfänger (26) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus dem von den Objekten remittierten Lichtstrahl (22), mindestens einen Testlichtsender (42), mindestens einen Testlichtempfänger (44) und mindestens einen Testlichtreflektor (48), die einen Testlichtpfad (46a-b) durch die Frontscheibe (38) aufspannen, und eine Auswertungseinheit (32), die dafür ausgebildet ist, aus dem Empfangssignal Informationen über die Objekte in dem Überwachungsbereich (20) zu gewinnen sowie eine beeinträchtigte Lichtdurchlässigkeit der Frontscheibe (38) aus einem Testlichtsignal zu erkennen, das der Testlichtempfänger (44) aus von dem Testlichtsender (42) ausgesandtem und an dem Testlichtreflektor (48) reflektierten Testlicht erzeugt. Dabei ist der Testlichtreflektor (48) mit der Ablenkeinheit (18) mitbewegt angeordnet.

    Abstract translation: 提供了一种用于检测被监视区域（20）中的物体的光电传感器（10），其具有以下内容：前屏幕（38）; 用于发射光束（16）的光发射器（12）; 用于通过所述光束（16）周期性地对所监视的区域（20）采样的可移动偏转单元（18）; 光接收器（26），用于从由所述对象馈送的所述光束（22）产生接收信号; 至少一个测试光发射器（42）; 至少一个测试光发射器（42），至少一个测试光接收器（44）和穿过前屏幕（38）跨越测试光路径（46a-b）的至少一个测试光反射器（48）; 以及评估单元（32），被配置为从接收到的信号中获取被监视区域（20）中的对象的信息，并且从测试光信号中识别出前屏幕（38）的受损透光度， 测试光接收器（44）从测试光发射器（42）发射并从测试光反射器（48）反射的测试光产生。 在这方面，测试光反射器（48）被布置成使其与偏转单元（18）一起移动。

    DICHT BLEIBENDER SCHRAUBVERSCHLUSS
    43.
    发明公开
    DICHT BLEIBENDER SCHRAUBVERSCHLUSS 有权

    公开(公告)号：EP2780249A1

    公开(公告)日：2014-09-24

    申请号：EP12729334.8

    申请日：2012-09-20

    Applicant: Greiner Packaging GmbH

    Inventor： ORTNER, Johann

    IPC: B65D41/04 ,  B65D41/32

    CPC classification number: G01N21/65 ,  B65D41/0414 ,  B65D41/325 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/10 ,  G01J3/4412 ,  G01N21/51 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/1793 ,  G01N2021/4711 ,  G01N2021/4761 ,  G01N2021/4783 ,  G01N2201/1053

    Abstract: The invention relates to a package (1) that has a screw closure (2) comprising a neck (7) and a closing cap (9) with a side wall (10). The neck (7) has a first section (14) with a first diameter (15) and a second section (17) with a second diameter (18), the first diameter (15) being smaller than the second diameter (18). The second section (17) is closer than the first section (14) to a packing volume. The closing cap (9) has a sealing ring (23) which runs circumferentially, approximately parallel to and at a spacing from said side wall (10), and in an inwardly offset manner, said ring comprising a sealing bead (26). When the screw closure (2) is closed, this sealing ring (23) extends beyond the first section (14) of the neck (7), in the direction of the packing volume, such that it at least partially reaches into the second section (17) of the neck (7). The invention additionally relates to a screw closure (2), a closing cap (9), and to a method for producing such a screw closure (2).

    Abstract translation: 本发明涉及一种具有包括颈部（7）和具有侧壁（10）的封闭盖（9）的螺钉封闭件（2）的包装（1）。 颈部（7）具有第一直径（15）的第一部分（14）和具有第二直径（18）的第二部分（17），第一直径（15）小于第二直径（18）。 第二部分（17）比第一部分（14）更靠近包装体积。 封闭盖（9）具有密封环（23），其沿圆周方向延伸，大致平行于所述侧壁（10）并且与所述侧壁（10）间隔开，并且以向内偏移的方式，所述环包括密封珠（26）。 当螺钉封闭件（2）关闭时，该密封环（23）沿着包装体积的方向延伸超过颈部（7）的第一部分（14），使得其至少部分地进入第二部分 （7）的颈部（17）。 本发明还涉及一种螺丝封盖（2），一封闭盖（9），以及一种用于生产这种螺丝封盖（2）的方法。

    溶接監視システムおよび溶接監視方法
    44.
    发明专利
    溶接監視システムおよび溶接監視方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018067821A

    公开(公告)日：2018-04-26

    申请号：JP2016205721

    申请日：2016-10-20

    Applicant: 株式会社日立製作所

    Inventor： 中川 竜司 ,  遠藤 久 ,  吉川 裕 ,  山田 敏広 ,  掛布 修弘

    IPC: G02B21/00 ,  B23K31/00 ,  G01N21/952 ,  H04N5/225

    CPC classification number: G01N21/8806 ,  B23K31/125 ,  B23K37/04 ,  G01N2201/1053

    Abstract: 【課題】 比較的簡単な構成で、高精度で多面的な溶接部の監視が可能な溶接監視システムとその監視方法を提供する。 【解決手段】 被写体を監視する溶接監視システムであって、前記溶接監視システムは、機械部と撮像部とで構成され、前記機械部は、前記被写体を輸送する輸送アームと、前記被写体を保持する被写体保持部と、前記被写体に溶接を施す通電装置と、を備え、前記撮像部は、前記被写体の撮像データを取得する撮像手段と、前記撮像データを記録するデータ記録部と、前記撮像データから所定の特徴を抽出する解析部と、前記抽出した特徴を正常な特徴と比較し、異常の有無を判定する比較判定部と、前記比較判定部での判定結果を出力する判定結果出力部と、を備えることを特徴とする。 【選択図】 図1

    Microscope
    45.
    发明专利
    Microscope 审中-公开
    显微镜

    公开(公告)号：JP2008058003A

    公开(公告)日：2008-03-13

    申请号：JP2006232115

    申请日：2006-08-29

    Applicant: Olympus Corp ,  オリンパス株式会社

    Inventor： IKETAKI YOSHINORI

    IPC: G01N21/64 ,  G02B6/42 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02F1/13

    CPC classification number: G02B21/16 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6415 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/104 ,  G01N2201/1053 ,  G02B5/20 ,  G02B5/3083 ,  G02B21/002 ,  G02B26/06 ,  G02B2207/113

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope capable of performing simply and accurately optical adjustment of pumping light and erasing light, and showing surely super-resolution effect.
    SOLUTION: This microscope has a light source 21 for pumping light for emitting the pumping light; a light source 21 for erasing light for emitting the erasing light; light synthesizing means 23-26 for synthesizing coaxially the pumping light and the erasing light; a condensing means 62 for condensing the synthesized light; scanning means 44, 45 for scanning a sample by the synthesized light; a detection means 50 for detecting a light response signal generated from the sample, a wavelength selection element 42 arranged in an optical path for the synthesized light, and having an erasing light selection domain having a high wavelength selection characteristic to the erasing light and a pumping light selection domain having a high wavelength selection characteristic to the pumping light; and a space modulation element 43 arranged in the optical path for the synthesized light, for performing space modulation of the erasing light corresponding to the erasing light selection domain of the wavelength selection element.
    COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：提供能够执行简单准确的泵浦光的光学调整和擦除光的显微镜，并且显示出确实的超分辨率效果。 解决方案：该显微镜具有用于泵浦发射泵浦光的光源21; 用于擦除用于发出擦除光的光的光源21; 用于同时泵浦光和擦除光的光合成装置23-26; 用于冷凝合成光的聚光装置62; 用于通过合成光扫描样品的扫描装置44,45; 用于检测从样品产生的光响应信号的检测装置50，布置在合成光的光路中的波长选择元件42，并且具有对擦除光具有高波长选择特性的擦除光选择区域和泵浦 具有对泵浦光的高波长选择特性的光选择域; 以及配置在合成光的光路中的空间调制元件43，用于对与波长选择元件的擦除光选择域对应的擦除光进行空间调制。 版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

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