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    ATMOSPHERIC PRESSURE ION INTERFACE FOR A MASS ANALYZER
    41.
    发明申请
    ATMOSPHERIC PRESSURE ION INTERFACE FOR A MASS ANALYZER 审中-公开
    大气分析仪的大气压离子界面

    公开(公告)号：WO1993024209A1

    公开(公告)日：1993-12-09

    申请号：PCT/US1993004903

    申请日：1993-05-28

    Applicant: CORNELL RESEARCH FOUNDATION, INC.

    Inventor： CORNELL RESEARCH FOUNDATION, INC. ,  MORDEHAI, Alex ,  HOPFGARTNER, Gerard ,  HENION, John, D.

    IPC: B01D59/44

    CPC classification number: H01J49/067 ,  G01N30/7246 ,  G01N30/7266 ,  G01N30/7273 ,  H01J49/044

    Abstract: A novel atmospheric pressure ionization device (10) for the transport of charged particle produced at atmospheric pressure to a mass analyzer (24) includes a liquid shield (60) between the particle source (22) and the sample inlet (66) into the mass analyzer. The analyzer is located in a high vacuum region (20) and an intermediate low vacuum region (18) is provided between the sample inlet and the analyzer. An ion optical system includes electrostatic lens assemblies (80) in said vacuum regions for transporting charged particles from the inlet to the analyzer.

    Abstract translation: 用于将在大气压下产生的带电粒子输送到质量分析器（24）的新型大气压电离装置（10）包括在颗粒源（22）和样品入口（66）之间的液体屏蔽（60） 分析仪。 分析仪位于高真空区域（20）中，并且在样品入口和分析仪之间提供中间低真空区域（18）。 离子光学系统包括在所述真空区域中的静电透镜组件（80），用于将带电粒子从入口传送到分析器。

    液体クロマトグラフ質量分析装置
    42.
    发明申请
    液体クロマトグラフ質量分析装置 审中-公开
    液相色谱质谱仪

    公开(公告)号：WO2012176534A1

    公开(公告)日：2012-12-27

    申请号：PCT/JP2012/059690

    申请日：2012-04-09

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ ,  吉岡 信二 ,  安田 博幸

    Inventor： 吉岡　信二 ,  安田　博幸

    IPC: G01N27/62 ,  G01N30/72

    CPC classification number: H01J49/10 ,  G01N30/7266 ,  H01J49/044 ,  H01J49/049

    Abstract: 本発明では、噴霧された試料溶液を効率良く気化させることにより、微細な帯電液滴を生成させ、試料のイオン化効率を向上させ、イオン強度の高く、大きな液滴を軽減させることにより、検出感度の高い質量分析装置を提供することを目的とする。本発明は、試料溶液を成分毎に分離する液体クロマトグラフ分離手段と、液体クロマトグラフ分離手段で分離されて溶出する試料溶液を液滴として噴霧する試料噴霧部と、液滴に帯電（帯電液滴）させてイオンを生成するイオン化生成手段と、イオンを導入して質量分離する質量分析部と、帯電液滴に含まれる溶媒を除去する脱溶媒部と、を有する液体クロマトグラフ質量分析装置において、脱溶媒部が帯電液滴が流通する脱溶媒流通室と、脱溶媒流通室を加熱する加熱手段と、脱溶媒流路室に設けた螺旋状の液滴案内流路を有することを特徴とする。

    Abstract translation: 本发明的目的是提供一种具有高检测灵敏度的质谱仪装置，其通过有效地蒸发喷射的样品溶液来实现，以产生带电微滴，从而提高样品电离的效率，并且用高离子量减少大液滴 强度。 本发明是一种液相色谱质谱仪装置，其具有：将样品溶液分离成其各成分的液相色谱分离装置，将液体色谱分离装置分离洗脱的样品溶液作为液滴喷雾的试样喷雾装置 ，通过充电液滴（液滴充电）产生离子的离子产生装置，接收和分离离子的质谱单元，以及除去带电液滴中所含溶剂的去溶剂化单元。 本发明的特征在于，该去溶剂化单元具有一个去溶剂化流动室，带电液滴通过该室，一个加热去溶剂化流动室的加热装置和一个设置在去溶剂化流动室中的螺旋液滴管道。

    ION GUIDE WITH IMPROVED GAS DYNAMICS AND COMBINED NOISE REDUCTION DEVICE
    43.
    发明申请
    ION GUIDE WITH IMPROVED GAS DYNAMICS AND COMBINED NOISE REDUCTION DEVICE 审中-公开
    具有改进气体动力学和组合噪声减少装置的离子指南

    公开(公告)号：WO2012134684A1

    公开(公告)日：2012-10-04

    申请号：PCT/US2012/026704

    申请日：2012-02-27

    Applicant: THERMO FINNIGAN LLC ,  DUNYACH, Jean Jacques ,  SPECHT, August A. ,  ATHERTON, R. Paul

    Inventor： DUNYACH, Jean Jacques ,  SPECHT, August A. ,  ATHERTON, R. Paul

    IPC: H01J49/06 ,  H01J49/04

    CPC classification number: H01J49/063 ,  H01J49/044 ,  H01J49/24

    Abstract: A mass spectrometry system arrangement includes a curved ion guide, where the curve of the ion guide is positioned such that a portion of the ion optics are visible from the ion guide entrance, e.g. line of sight or z-axis. There are four electrodes parallel with each other and the central curved axis. Each electrode is equally radially spaced from the curved central axis. For each cross section of the ion guide, the central curved axis being positioned at the origin, the curved electrodes being radially positioned at 45°, 135°, 225°, and 315°. Depending upon the system, a blocking device is positioned external to the ion guide but within the "line of sight" or positioned tangential to the rising section of the bent ion guide.

    Abstract translation: 质谱系统装置包括弯曲离子导向器，其中离子导向器的曲线被定位成使得离子光学器件的一部分可以从离子导向入口例如可见。 视线或z轴。 有四个电极彼此平行和中心弯曲的轴线。 每个电极与弯曲的中心轴线径向间隔开。 对于离子导向件的每个横截面，中心弯曲轴线位于原点，弯曲电极径向定位在45°，135°，225°和315°处。 取决于系统，阻挡装置位于离子导向器的外部，但位于“视线”内或定位成与弯曲离子导向件的上升部分相切。

    大気圧イオン化質量分析装置
    44.
    发明申请
    大気圧イオン化質量分析装置 审中-公开
    大气压力离子质谱仪器

    公开(公告)号：WO2011161788A1

    公开(公告)日：2011-12-29

    申请号：PCT/JP2010/060708

    申请日：2010-06-24

    Applicant: 株式会社島津製作所 ,  向畑 和男 ,  奥村 大輔

    Inventor： 向畑　和男 ,  奥村　大輔

    IPC: H01J49/06 ,  G01N27/62

    CPC classification number: H01J49/42 ,  H01J49/044 ,  H01J49/067 ,  H01J49/34

    Abstract: 　第１段中間真空室（６）内において、バックグラウンドノイズの原因となるクラスタイオンは主として領域（Ａ）で生成され、フラグメントイオンは主として領域（Ｂ）で生成される。そこで、インソースＣＩＤ分析モードにおいては、領域（Ｂ）に加速電場を生成するようにスキマー（８）よりも低い直流電圧を第１イオンガイド（７）に印加する。これにより、イオンに十分なエネルギーを付与してフラグメントを促進することができる。インソースＣＩＤを行わない場合には、領域（Ｂ）に電場を生じさせず領域（Ａ）にのみ加速電場を生成するように、第１イオンガイド（７）よりも低い直流電圧を脱溶媒管（３）の出口端（３ｂ）に印加する。これにより、クラスタイオンとフラグメントイオンの生成をともに抑制し、質の高いクロマトグラムを取得することができる。

    Abstract translation: 在大气压电离质谱仪的第一级中间真空室（6）内，主要在区域（A）产生作为背景噪声原因的簇离子，主要在区域（B ）。 因此，在源极CID分析模式的情况下，将低于分离器（8）的直流电压施加到第一离子引导件（7），从而在区域（B）产生加速电场， 。 这使得能够给予离子足够的能量，以促进分裂。 在不进行源内CID分析的情况下，将低于第一离子导管（7）的直流电压施加到去溶剂化管（3）的出口端（3b），使得没有电场 在区域（B）处产生，并且仅在区域（A）处产生加速电场。 这能够抑制簇离子和碎片离子的产生，并获得高质量的色谱图。

    SAMPLE IONIZATION AT ABOVE-VACUUM PRESSURES
    45.
    发明申请
    SAMPLE IONIZATION AT ABOVE-VACUUM PRESSURES 审中-公开
    在上述压力下的样品离子化

    公开(公告)号：WO2009023622A1

    公开(公告)日：2009-02-19

    申请号：PCT/US2008/072754

    申请日：2008-08-11

    Applicant: VARIAN, INC. ,  WANG, Mingda ,  FANCHER, Charles, A. ,  MUNTEAN, Felician ,  STEINER, Urs

    Inventor： WANG, Mingda ,  FANCHER, Charles, A. ,  MUNTEAN, Felician ,  STEINER, Urs

    IPC: H01J49/04 ,  B01D59/44

    CPC classification number: H01J49/0477 ,  H01J49/0404 ,  H01J49/044

    Abstract: Sample material ionized in a sample receiving chamber is flowed into a sample conduit. Drying gas may also flow into the sample conduit and may be heated. The pressure and length of the sample conduit may be provided according to the product 50 or greater Torr-cm. The sample conduit may include a turn. The sample conduit may lead to an ion extraction chamber at which a sampling orifice may lead to a mass spectrometer. The diameter of the sample conduit may be larger than the diameter of the sampling orifice. An electrical field may be applied in the ion extraction chamber to slow incoming ions. A voltage jump may be applied to the sample conduit.

    Abstract translation: 在样品接收室中离子化的样品材料流入样品导管。 干燥气体也可以流入样品管道并且可以被加热。 样品导管的压力和长度可以根据产品50或更大的Torr-cm提供。 样品管道可以包括转弯。 样品导管可导致离子提取室，采样孔可以在该离子提取室处导致质谱仪。 样品导管的直径可以大于采样孔的直径。 可以在离子提取室中施加电场以减慢入射离子。 电压跳变可以施加到样品导管。

    ATMOSPHERIC PRESSURE CHARGED PARTICLE DISCRIMINATOR FOR MASS SPECTROMETRY
    46.
    发明申请
    ATMOSPHERIC PRESSURE CHARGED PARTICLE DISCRIMINATOR FOR MASS SPECTROMETRY 审中-公开
    用于大量光谱的大气压力充填颗粒识别器

    公开(公告)号：WO2005001879A2

    公开(公告)日：2005-01-06

    申请号：PCT/US2004004247

    申请日：2004-02-13

    Applicant: MDS SCIEX ,  SCHNEIDER BRADLEY ,  COVEY THOMAS R

    Inventor： SCHNEIDER BRADLEY ,  COVEY THOMAS R

    IPC: G01N30/72 ,  H01J49/00 ,  H01J49/04 ,  H01J49/16

    CPC classification number: H01J49/06 ,  H01J49/044

    Abstract: An apparatus and method for performing mass spectrometry uses an ion interface to provide the function of removing undesirable particulates from an ion stream from an atmospheric pressure ion source, such as an electrospray source or a MALDI source, before the ion stream enters a vacuum chamber containing the mass spectrometer. The ion interface includes an entrance cell with a bore that may be heated for desolvating charged droplets when the ion source is an electrospray source, and a particle discrimination cell with a bore disposed downstream of the bore of the entrance cell and before an aperture leading to the vacuum chamber. The particle discrimination cells creates gas dynamic and electric field conditions that enables separation of undesirable charged particulates from the ion stream.

    Abstract translation: 用于进行质谱法的装置和方法使用离子界面来提供在离子流进入真空室之前从大气压离子源（例如电喷雾源或MALDI源）从离子流中除去不想要的颗粒的功能， 质谱仪。 离子界面包括具有孔的入口单元，其可以在离子源是电喷雾源时被加热用于对带电液滴进行脱溶剂;以及颗粒鉴别单元，孔设置在入口单元的孔的下游，并且在通向孔 真空室。 颗粒鉴别单元产生气体动态和电场条件，使得能够从离子流中分离不期望的带电粒子。

    ION SPRAY WITH INTERSECTING FLOW
    47.
    发明申请
    ION SPRAY WITH INTERSECTING FLOW 审中-公开
    离子喷雾与交联流

    公开(公告)号：WO9519638A3

    公开(公告)日：1995-10-26

    申请号：PCT/CA9500014

    申请日：1995-01-09

    Applicant: MDS HEALTH GROUP LTD ,  COVEY THOMAS R ,  ANACLETO JOSEPH F

    Inventor： COVEY THOMAS R ,  ANACLETO JOSEPH F

    IPC: G01N30/72 ,  H01J49/04

    CPC classification number: H01J49/165 ,  G01N30/7246 ,  H01J49/044 ,  H01J49/0477

    Abstract: Liquid from a liquid chromatograph or other sample source, preferably assisted by a high velocity coaxial gas jet, is sprayed through a capillary tube (40') producing a flow in a first direction of charged droplets (50'). A flow of heated gas (60), in a second direction different from the first direction, intersects the droplet flow at a region (64) upstream of an orifice (20'). The flows mix turbulently, with the second flow helping to evaporate the droplets to produce ions and helping to move the evaporating droplets toward the orifice (20'), providing a focusing effect. Ions are drawn through the orifice (20') into a mass analyzer and analyzed. Alternatively the flows of liquid and heating gas can be directed toward each other and at right angles to the axis through the orifice, and the inhaling effect of the orifice can be used to draw droplets toward it, or a third gas flow can be used for this purpose. The heated intersecting gas flow typically provides an increase in sensitivity (ion counts per second) of between 10 and 100 times. Heating the droplet plume also allows controlled desaturation of ions and an increase in the number of charges on them, without degrading the ions.

    MASS SPECTROMETER
    48.
    发明申请
    MASS SPECTROMETER 审中-公开
    质谱仪

    公开(公告)号：WO1993018540A1

    公开(公告)日：1993-09-16

    申请号：PCT/GB1993000434

    申请日：1993-03-03

    Applicant: FISONS PLC ,  MERREN, Thomas, Oliver

    Inventor： FISONS PLC

    IPC: H01J49/06

    CPC classification number: H01J49/067 ,  H01J49/044

    Abstract: The invention provides a mass spectrometer having a quadrupole mass analyzer having an entrance aperture, an ion source disposed on the axis of said analyzer, particle intercepting means blocking the line-of-sight path between said ion source and said entrance aperture, and field generating means for directing ions from said source into said entrance aperture, said field generating means comprising first field generating means for deflecting ions from said source away from said axis to avoid said particle intercepting means and second field generating means for directing into said entrance ions so deflected by said first means. Using this arrangement, substantial improvement in signal:noise ratio is achieved, corresponding in some instances to a reduction in noise by a factor of over 100.

    Abstract translation: 本发明提供一种具有四极质量分析器的质谱仪，其具有入口孔，设置在所述分析器的轴线上的离子源，阻挡所述离子源和所述入口孔之间的视线路径的粒子拦截装置，以及场产生 用于将来自所述源的离子引导到所述入口孔中的装置，所述场产生装置包括用于使所述源离离所述轴线的离子偏离所述轴线的第一场发生装置，以避免所述粒子拦截装置和用于引导入所述入射离子的第二场产生装置， 通过第一种手段。 使用这种布置，实现了信号噪声比的显着改善，在一些情况下相当于将噪声降低了100倍以上。

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