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公开(公告)号：CN114353967A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011055292.0
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。解决了在轨空间的辐射温度参数难以校准，测试数据准确度无法评定，使得红外载荷低温红外目标探测性能测试产生了隐患的问题。
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公开(公告)号：CN110940494A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201811105597.0
申请日：2018-09-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种激光目标模拟器现场校准装置，其包括：可变光阑、衰减片、成像镜头、光纤连接器、光纤光谱仪、点源探测器、示波器、激光能量计探头、激光能量计表头、转台等。激光目标模拟器发出的激光能量经过可变光阑、衰减片、成像镜头后，经过旋转转台可控制激光分别进入光纤连接器、点源探测器或激光能量计探头，并由对应的光纤光谱仪、示波器、激光能量计表头进行参数校准。从而实现对激光目标模拟器光谱参数、频率参数、能量参数的现场校准。应用本发明的技术方案，以解决激光目标模拟器的现场校准难题。
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公开(公告)号：CN107655833B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
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公开(公告)号：CN110018547A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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公开(公告)号：CN109917617A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201711319998.1
申请日：2017-12-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种抗冷反射红外靶标制备方法及抗冷反射红外靶标，该抗冷反射红外靶标制备方法包括：步骤一，在多晶硅基底上涂覆负性光刻胶层；步骤二，通过掩模板对表面涂覆有负性光刻胶层的多晶硅基底进行曝光；步骤三，对曝光后的表面涂覆有负性光刻胶层的多晶硅基底进行显影处理；步骤四，对表面具有靶标孔形的负性光刻胶层的多晶硅基底进行电腐蚀；步骤五，在抗反射层和靶标孔形的负性光刻胶层上均涂覆一层膜层；步骤六，除去多晶硅基体上的靶标孔形的负性光刻胶层以及设置在靶标孔形的负性光刻胶层上的膜层，以获取抗冷反射红外靶标。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中靶标表面反射率较高，容易产生冷反射现象的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107062990B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201710125039.X
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种基于微型帕尔贴阵列的温场产生装置，包括控制器、驱动电路和微型帕尔贴阵列；控制器通过VGA接口与驱动电路连接，驱动电路与帕尔贴阵列相连接；控制器用于产生视频矩阵模拟信号，并发送给驱动电路；驱动电路对视频矩阵模拟信号进行解析，并进行模数转换，然后向微型帕尔贴阵列发送数字驱动信号；微型帕尔贴阵列产生温场分布图像。本发明可用于红外动态场景模拟器中，实现低温高分辨率红外动态场景的模拟，有效提高低温红外动态场景模拟精度，满足不同导引头的测试需求。
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公开(公告)号：CN107062989B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201710124732.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F41G3/32
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种基于微型帕尔贴阵列的红外动态场景模拟器，包括控制计算机、驱动电路、微型帕尔贴阵列和投影镜头；控制计算机通过VGA接口与驱动电路连接，驱动电路通过寻址线与帕尔贴阵列相连接，帕尔贴阵列放置于投影镜头的焦平面上；控制计算机用于产生视频矩阵模拟信号，并发送给驱动电路；驱动电路对视频矩阵模拟信号进行解析，并进行模数转换，然后向微型帕尔贴阵列发送数字驱动信号；微型帕尔贴阵列产生温场分布图像，并辐射至投影镜头；投影镜头产生无穷远处的无渐晕的红外动态场景。本发明可实现低温高分辨率红外动态场景的模拟，有效提高低温红外动态场景模拟精度，满足不同导引头的测试需求。
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公开(公告)号：CN106641813B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201510731542.0
申请日：2015-11-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种真空紫外光管照明装置，包括：真空紫外光源，用于提供紫外光；设置在所述紫外光出射光路上的平面反射镜，用于将所述紫外光进行反射处理，形成反射紫外光；设置在所述反射紫外光出射光路上的离轴抛物面反射镜，用于将所述反射紫外光进行准直处理后输出；采用全反射的方式实现光管照明，结构简单，有效降低光管照明系统成本，保证装调精度。
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公开(公告)号：CN107560499A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610515829.4
申请日：2016-07-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于毫米波/光波共口径传输装置，包括：毫米波信号源、毫米波信号探测装置、光波信号源、光波信号探测装置。所述光波信号源发出的光波信号传输至所述图案处遵循光学反射定律，以光学出射角等于入射角的方向进行传输，被所述光波信号探测装置探测，所述毫米波信号源发出的毫米波信号传输至基板的非金属表面一侧处透射并经过图案进行谐振频率选择频率，然后经过图案的谐振频率选择后在空间沿原来传输方向传输被所述毫米波信号探测装置探测。本发明通过改变图案的尺寸，权衡介质基底的厚度以及所渡金属膜层的厚度和材料，实现对特定频率的射频信号的选择型低损耗传输，实现了对红外信号的高反射率的传输。
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公开(公告)号：CN120027920A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202311562234.0
申请日：2023-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/46
Abstract: 本发明涉及一种材料辐射特性的测量方法，解决了现有技术中在较高温度下材料辐射特性测量精度低的问题。包括如下步骤：将被测材料置于温控装置中，被测材料的中心正对温控装置的辐射口，并设置到设定温度；所述被测材料为结构材料或窗口材料；调整被测材料、标准黑体与傅立叶光谱辐射计位置，使得被测材料和标准黑体发出的辐射信号能够分别被所述傅立叶光谱辐射计接收并测量得到光谱辐射量值；基于被测材料和标准黑体发出的光谱辐射量值，使用处理器计算得到材料的辐射特性；包括：结构材料的法向光谱发射率、窗口材料的辐射透射率和基于所述辐射透射率计算的窗口材料的法向光谱发射率。实现了高温下材料辐射特性的精确测量。
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