半导体装置的制法
    53.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104733407B

    公开(公告)日:2019-03-22

    申请号:CN201410006496.3

    申请日:2014-01-07

    Abstract: 一种半导体装置及其制法,该半导体装置包括:具有多个导电穿孔的半导体基板、分别设于该半导体基板的相对两表面上的多个导电组件与线路重布结构、以及设于该线路重布结构上的电子组件,藉由降低该半导体基板的厚度,以减少该导电穿孔的高度及深宽比,而有利于该导电穿孔的填孔制程。

    半导体封装件及其制法
    55.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105633028B

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201410636266.5

    申请日:2014-11-12

    Abstract: 一种半导体封装件及其制法,该制法先提供一具有多个凹槽的承载件及多个承载体,且各该承载体上分别设有一封装体,各该封装体具有多个电子组件及包覆该些电子组件的封装材;接着,嵌置各该封装体对于各该凹槽中,且使各该承载体凸出于该承载件上,之后移除各该承载体,以外露各该封装体,最后沿该些凹槽进行分离制程,且移除该承载件。藉由该承载体与该凹槽的设计,以将整版面结构分割成所需尺寸的封装区块,而于后续可以现有机台进行切单制程,所以能省去机台开发的成本。

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