Abstract:
본 발명은 바이메탈 클립이 결합된 반도체 소자에 관한 것으로, 반도체 패키지를 적층하거나 반도체 패키지를 기판에 실장할 때 양호한 솔더 접합성을 확보하고, 반복적인 리플로우에 따른 반도체 소자의 휨을 억제하기 위해서, 반도체 소자의 양면에 바이메탈 소재의 클립이 결합된 바이메탈 클립이 결합된 반도체 소자를 제공한다. 즉 바이메탈 소재의 클립을 적층 패키지나 모듈의 상하부면에 결합함으로써, 적층된 반도체 패키지들 사이 또는 반도체 패키지와 기판 사이의 전기적 연결을 위한 솔더 리플로우 공정에서 소정의 압력으로 전기적 연결 부분을 눌러주기 때문에, 양호한 솔더 접합성의 확보와 더불어 반도체 패키지들이 휘는 불량을 억제할 수 있다. 그리고 바이메탈 클립은 금속으로 반도체 소자의 열방출 특성을 향상시킬 수 있고, 열방출 특성을 더욱 향상시키기 위해서 반도체 소자와 바이메탈 클립 사이에 접착제를 개재할 수도 있다. 또는 반도체 소자에 작용하는 기계적인 스트레스를 줄이기 위해서, 반도체 소자의 양면을 압착하는 부분을 요철판 형태로 형성할 수 있다. 또는 여러개의 반도체 패키지가 모듈용 기판에 실장된 모듈의 경우, 반도체 패키지에 각기 독립적으로 바이메탈 클립을 결합할 수도 있다. 물론 모듈용 기판을 중심으로 양면에 반도체 패키지가 실장된 경우, 모듈용 기판을 사이에 두고 상하에 위치하는 반도체 패키지를 쌍으로 바이메탈 클립이 결합된다. 바이메탈, 클립, 클램프, 적층, 모듈
Abstract:
본 발명의 반도체소자 제조를 위한 반도체웨이퍼 처리방법은, 제1 표면과 제1 표면과 반대이면서 회로패턴이 형성되는 제2 표면을 갖는 반도체웨이퍼의 제2 표면에 일정 깊이의 홈을 형성하는 단계와, 홈이 파여진 제2 표면 위에 보호용 테이프의 제1 면을 부착시키는 단계와, 보호용 테이프의 제1 면과 반대되는 제2 면에 고정용 테이프를 부착시켜 반도체웨이퍼의 제1 표면이 상부에 배치되도록 하는 단계와, 반도체웨이퍼의 제1 표면을 일정 두께만큼 제거하여 홈에 의해 구분되는 칩을 상호 분리시키는 단계와, 그리고 분리된 칩의 제1 표면이 상부에 위치하도록 다이부착설비로 공급하는 단계를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A multi stack chip package is provided to be capable of stacking a plurality of semiconductor chips. CONSTITUTION: A multi stack chip package(200) is provided with the first lead frame(110), the second lead frame(140), an adhesive(180) located between the first and second lead frame(110,140) for attaching the first lead frame(110) on the second lead frame(140), and a package body(190) for protecting the resultant structure. The first lead frame(110) further includes a die pad(112), the first chip(120) attached on the upper portion of the die pad(112), the second chip(130) attached on the lower portion of the die pad(112), and the first lead(114) electrically connected with the first and second chip(120,130) through the first and second bonding wire(171,173). The second lead frame(140) further includes the third chip(150), the second lead(144) attached on the active surface of the third chip(150) and the third bonding wire(175) electrically connecting between the third chip(150) and the second lead(144).
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor package including a substrate having a mounting lead is provided to prevent a contact defect or connection defect of a solder ball in a process for forming the solder ball, by including a semiconductor chip, the substrate on which the semiconductor chip is mounted and the mounting lead formed on the lower surface of the substrate. CONSTITUTION: Bonding pads(212) are formed in the semiconductor chip(210). The semiconductor chip is mounted on a chip mounting unit. Electrode pads(252) corresponding to the bonding pads are formed on the upper surface(253) of the substrate(250). Electrode terminals(254) disposed in the outside are formed on the lower surface(255) of the substrate, corresponding to the electrode pads. A connection unit electrically connects the bonding pads with the electrode pads, respectively. Encapsulant(240) encapsulates the semiconductor chip, the connection unit and a part of the upper surface of the substrate including the electrode pad. The mounting leads(220) protrude from the outside of the substrate along the lower surface of the substrate, and one side of the mounting leads is electrically connected to the electrode terminal. The mounting leads are used as external connection terminals.
Abstract:
PURPOSE: A TCM(Trellis Coded Modulation) decoding device and a method for the same are provided to perform a TCM function by using two convolutional codes. CONSTITUTION: The first branch metric calculator(801) calculates a real number part of a distance value between a coordinate point and a signal point and transmits the calculated value to set selectors(803-806). A branch metric value I corresponding to set 0 is outputted to the set selector(803). A branch metric value I corresponding to set 0 is outputted to the set selector(803). A branch metric value I corresponding to set 1 is outputted to the set selector(804). A branch metric value I corresponding to set 2 is outputted to the set selector(805). A branch metric value I corresponding to set 3 is outputted to the set selector(806). The second branch metric calculator(802) calculates an imaginary number part of the distance value between the coordinate point and the signal point and transmits the calculated value to set selectors(803-806). A branch metric value Q corresponding to set 0 is outputted to the set selector(803). A branch metric value Q corresponding to set 0 is outputted to the set selector(803). A branch metric value Q corresponding to set 1 is outputted to the set selector(804). A branch metric value Q corresponding to set 2 is outputted to the set selector(805). A branch metric value Q corresponding to set 3 is outputted to the set selector(806).
Abstract:
PURPOSE: A multi-chip package is provided to prevent a metal wire from being changed in the multi-chip package, by using a TAB lead instead of the metal wire regarding at least one of stacked semiconductor chips. CONSTITUTION: The first semiconductor chip has the first active surface(122) and the first rear surface(123). The semiconductor chip has the second active surface(132) and the second rear surface(133), located on the first semiconductor chip. At least the second semiconductor chip is adhered to a lead frame(117) which electrically connects the first and second semiconductor chips with an external apparatus. A TAB lead(142) is adhered to the first active surface of the first semiconductor chip, electrically connecting the first semiconductor and the lead frame. A unit for connection electrically connects the second semiconductor chip with the lead frame.
Abstract:
PURPOSE: A frequency demodulator having a function of automatically adjusting a resonant frequency and phase shifter embedded in an integrated circuit is provided to automatically compensate a deviation of the resonant frequency due to an element Deterioration and an exterior temperature change. CONSTITUTION: A phase shifter(44) inputs a message signal frequency modulated via a communication channel from an exterior transmission side. The phase shifter(44) shifts the phase in proportion to an instant frequency of the inputted signal in reference to an internal resonant frequency and changes the resonant frequency according to the a predetermined control voltage. A phase comparer(42) compares the phase of the shifted signal and the phase of the message signal and outputs the result. A low pass filter(46) filters a low part of the signal from the phase comparer(42) and restores the original message signal. A switch(SW40) switches in response to a switching control signal and applies a direct current of the restored message signal as the control voltage.
Abstract:
PURPOSE: A circuit for compensating for frequency characteristic of a Gm-C filter is provided to compensate for a variation in the frequency characteristic of the Gm-C due to a process variation in fabrication of a semiconductor chip including the Gm-C filter. CONSTITUTION: In a Gm-C filter(30) configured using a resistor having wider variation in its fabrication process, when the frequency characteristic of the Gm-C filter is changed due to the process variation, a control current(Ir) corresponding to the variation in the frequency characteristic is generated and Gm value of the Gm-C filter is controlled depending on the control current, thereby minimizing the variation in the frequency characteristic of the Gm-C filter. A circuit for compensating for the frequency characteristic of the Gm-C filter includes a first control resistor(R1) having very low process variation, a second control resistor(R2) having the same process variation as that of the resistor used for the Gm-C filter, a first current source for supplying current to the first and second control resistors, and a second current source(I2) for generating the control current.
Abstract:
주파수 변조 검파 장치가 개시된다. 이 장치는 주파수 변조된 신호를 대역 통과 필터링하여 출력하며, 각각이 fc±f1(여기서, fc는 주파수 변조된 신호의 중심 주파수) 및 fc±f2(f2<f1)의 차단 주파수들을 갖는 제1 및 제2 대역 통과 필터들과, 제1 대역 통과 필터로부터 출력되는 신호의 주파수와 fc의 차를 검출하고, 검출된 차에 상응하는 레벨을 출력하는 제1 쿼드러쳐 검출부와, 제2 대역 통과 필터로부터 출력되는 신호의 주파수와 fc의 차를 검출하고, 검출된 차에 상응하는 레벨을 출력하는 제2 쿼드러쳐 검출부와, 외부로부터 입력된 비트율에 따라 가변되는 차단 주파수를 갖으며, 제1 쿼드러쳐 검출부의 출력을 저역 통과 필터링하는 제1 비트 율 필터, 비트율에 따라 가변되는 차단 주파수를 갖으며, 제2 쿼드러쳐 검출부의 출력을 저역 통과 필터링하는 제2 비트 율 필터와, 제1 비트 율 필터 로부터 출력되는 신호의 평균값인 제1 기준 신호와 제1 비트 율 필터의 출력을 비교하고, 비교된 결과를 제1 주파수 쉬프트 킹 신호로서 출력하는 제1 비교부와, 제2 비트 율 필터의 출력을 전파 정류하여 출력하는 전파 정류부 및 전파 정류부의 출력과 제2 및 제3 기준 신호들을 비교하고, 비교된 결과를 제2 주파수 쉬프트 킹 신호로서 출력하는 제2 비교부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 고안은 내경 가공용 테이퍼 와이어 장치에 관한 것이다. 본 고안에 따르면, 부식액 저장 수단(11), 상기 부식액 저장 수단(11)에 진입 가능하며 와이어(W)가 감겨 있는 회전 수단(15), 세척액 저장수단(12), 상기 회전 부재(15)로부터 풀린 와이어(W)를 세척액 저장 수단에 진입할 수 있게 하는 세척용 회전 안내 수단(24), 상기 세척액 저장 수단(12)으로 배출된 와이어(W) 표면에 잔류된 부식물 및 세척액을 제거할 수 있도록 펠트가 제공된 내측면을 통해 와이어(W) 외표면에 압력을 가할 수 있는 압력 수단(31) 및, 상기 압력 수단(31)을 통과한 와이어(W)를 감을 수 있으며 회전수가 제어 가능한 구동 회전수단(26)을 포함하는 테이퍼 와이어 에칭 장치가 제공된다.