一种中心孔径向圆跳动检测工装及批量检测方法

    公开(公告)号:CN105571471A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201511024284.9

    申请日:2015-12-30

    Inventor: 吕娟宁 郑军 刘卫

    CPC classification number: G01B5/201

    Abstract: 本发明公开了一种中心孔径向圆跳动检测工装及批量检测方法,该检测工装包括水平基座、前后两个支撑轴承、位于水平基座前侧上方的定位支座、安装在定位支座上部后侧且对待检测棒坯的检测端进行定位的定位环、位于定位支座前侧的百分表表架和安装于百分表表架上的杠杆百分表;该批量检测方法的检测过程如下:一、首次中心孔径向圆跳动检测:棒坯水平放置、百分表安装和径向圆跳动检测;二、下一次中心孔径向圆跳动检测:棒坯水平放置和径向圆跳动检测;三、多次重复步骤二,直至完成所有待检测棒坯的中心孔径向圆跳动检测过程。本发明设计合理、操作简便且使用效果好,能简便、快速对中心孔径向圆跳动进行检测,且检测结果准确。

    圆度测量设备
    58.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101922925A

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN201010202983.9

    申请日:2010-06-10

    CPC classification number: G01B5/201 G01B7/001 G01B7/282

    Abstract: 本发明公开了一种圆度测量设备,包括:旋转台,被测量物体被装载于该旋转台上;接触型触针,该接触型触针被构造成倾斜地接触被测量物体的基本上圆形的被测量表面;保持件,该保持件被构造成在预定行程范围内保持所述触针,使得所述触针的倾斜角可变;位移探测器,该位移探测器被构造成探测所述触针的倾斜角的位移,该位移是由触针和被测量表面之间的接触所造成;以及控制器,该控制器被构造成:基于位移探测器的输出估计触针顶端的位置;以及将该位置的最佳行程范围指示给保持件。

    圆度检测装置
    59.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101852583A

    公开(公告)日:2010-10-06

    申请号:CN200910301253.1

    申请日:2009-04-01

    Inventor: 王子威

    CPC classification number: G01B5/201

    Abstract: 一种圆度检测装置,其包括一个基座,一个转轴,一个测微表,以及一个定位装置。所述转轴可转动的设置在所述基座上,所述测微表对应所述转轴设置在所述基座上并与所述转轴间隔一定距离,所述定位装置设置在所述转轴上以固定一待检测工件。该圆度检测装置采用安装在所述转轴上的定位装置固定待检测工件,并通过与所述转轴对应设置的测微表检测所述待检测工件的圆度,其结构简单,成本低。

    宽度测量方法和表面特性测量机

    公开(公告)号:CN1637380A

    公开(公告)日:2005-07-13

    申请号:CN200410101772.0

    申请日:2004-12-22

    CPC classification number: G01B5/201 G01B5/08 G01B5/28

    Abstract: 一种宽度测量方法和表面特性测量机,该表面特性测量机具有:可以旋转地放置被测量物的旋转台;可以沿着与该旋转台的旋转轴心平行的Z轴方向移动的Z轴滑动部件;被保持在该Z轴滑动部件上、并可以沿着与上述旋转轴心正交的X轴方向进退的X轴滑动部件;被保持在该X轴滑动部件上、并能以与X轴平行的中心线A为中心旋转的第1臂;被保持在该第1臂上、并可沿着与X轴正交的方向进退的第2臂;被保持在该第2臂上、用于测量上述被测量物的表面特性的检测器。

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