公开(公告)号：CN107966741A

公开(公告)日：2018-04-27

申请号：CN201610911237.4

申请日：2016-10-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 李国培 ,  杨雪 ,  施霁 ,  朱明 ,  奥浓基晴

IPC: G01V8/12

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/44 ,  G01V8/12

Abstract: 本发明的实施例涉及一种对射型光电传感器以及目标检测系统，该对射型光电传感器包含投光器和受光器，其中，所述投光器包括：发光元件，其射出光；第1透镜，其将所述发光元件射出的光转换为平行光；第1挡板，其位于所述发光元件和所述第1透镜之间，在所述第1挡板上设置有第1通孔，所述第1通孔的中心与所述第1透镜的焦点重合，通过所述第1通孔对从所述发光元件射出的光所形成的视野进行控制。根据本发明的实施例，能得到光量充足的所需形状的光斑，并且可满足对射型光电传感器之间较小的安装间距，也能确保光轴的一致性。

公开(公告)号：CN107907210A

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201711308833.4

申请日：2017-12-11

Applicant: 中国人民解放军63908部队

Inventor： 雷正伟 ,  吕艳梅 ,  刘海涛 ,  牛刚 ,  张东 ,  甄洪涛 ,  夏明飞 ,  郭晓冉

IPC: G01J1/04 ,  G01J1/08

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/086

Abstract: 本发明公开了一种光学辐射标定装置，涉及光学辐射测量和标定的装置技术领域。所述标定装置包括光学辐射标准单元、光学辐射测量单元以及主控计算机，所述光学辐射标准单元和光学辐射测量单元受控于所述主控计算机，所述光学辐射标准单元用于在主控计算机的控制下输出标准的光学辐射量值，用于标定各类光电探测类仪器或模块的光电响应特性参数；所述光学辐射测量单元用于在主控计算机的控制下，对被检对象的光学输出量值和光谱特性进行测定；所述标定装置具备光学辐射标准输出标定和光学辐射测量功能，且体积小，测量精度高。

公开(公告)号：CN107797116A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201710730900.5

申请日：2017-08-23

Applicant: 通用汽车环球科技运作有限责任公司

Inventor： A·利普森 ,  I·阿非克 ,  M·斯卢茨基

IPC: G01S17/02 ,  G01S7/481

CPC classification number: G01J1/0448 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/044 ,  G01J1/06 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/063 ,  G01S7/4815 ,  G01S17/42 ,  G01S17/02 ,  G01S7/481

Abstract: 一种光传感器包括主透镜和与主透镜间隔开的光器件。控制结构设置在主透镜与光器件之间。致动器联接到控制器件，并且可操作以相对于主透镜和光器件移动控制器件，从而控制光在主透镜与光器件之间的通过。光传感器可以包括具有单独发光器的阵列的发光传感器，或者具有光检测器的光检测传感器。控制结构可以包括与发光传感器一起使用的辅助双远心透镜的阵列，或者具有从其中延伸通过的孔的与光检测传感器一起使用的板。

公开(公告)号：CN106289521B

公开(公告)日：2018-03-02

申请号：CN201510390024.7

申请日：2015-07-06

Applicant: 创意电子股份有限公司 ,  台湾积体电路制造股份有限公司

Inventor： 刘昌明

IPC: G01J3/10

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01J1/0418 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/083 ,  G01J2001/4247 ,  G01N2201/0634

Abstract: 一种亮度校正方法及光学检测系统。亮度校正方法应用于光学检测系统中。光学检测系统包含单光源照射器以及探针卡。单光源照射器用以朝向探针卡照射。探针卡具有多个检测位置。亮度校正方法包含：以感测芯片透过多个扩散片其中之一依序在检测位置量测亮度；以感测芯片在检测位置其中之一依序量测扩散片的透明度；以及筛选透明度中较大者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较小者所对应的检测位置上方，并筛选透明度中较小者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较大者所对应的检测位置上方。借此，根据本发明的亮度校正方法所制造的光学检测系统将可有效地降低光源均匀度、扩散片偏差度与不同检测位置所造成的检测偏差。

公开(公告)号：CN107238590A

公开(公告)日：2017-10-10

申请号：CN201710375618.X

申请日：2017-05-24

Applicant: 清华大学

Inventor： 戴琼海 ,  边丽蘅 ,  陈峰 ,  索津莉

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/08 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/06 ,  G01J3/4406 ,  G01J2001/4466 ,  G02B21/06 ,  G02B21/26 ,  G02B21/361 ,  G02B21/365 ,  G02B21/367 ,  H04N13/254 ,  H04N13/271 ,  H04N2213/001 ,  G01N21/6458

Abstract: 本发明公开了一种基于光片显微与单像素成像的显微层析成像装置，包括：光片，用于照射样本；探测器，用于对所述光片照射所述样本后形成图像；重构模块，用于根据所述图像进行重构得到所述样本的图像；其中，通过对所述光片进行多次调制，对应地在所述探测器形成多个图案，所述重构模块通过对所述多个图案及对应的一维测量值，使用重构算法重构所述样本的图像。本发明具有如下优点：使用探测器进行单像素成像，具有宽光谱、高信噪比的优点；对场景光畸变具有较高的鲁棒性。

公开(公告)号：CN104870978B

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201380067544.3

申请日：2013-12-11

Applicant: 哈美顿博纳图斯股份公司

Inventor： B·奥芬贝克 ,  L·威利

IPC: G01N21/31 ,  A61B5/1455 ,  G01J1/44

CPC classification number: G01N21/27 ,  G01J1/08 ,  G01J1/46 ,  G01N21/255 ,  G01N21/3151 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062

Abstract: 本发明涉及一种用于测量周期性信号的设备(1)，包括：光源(3)，用于根据由驱动设备(5)基于第一时钟脉冲(7)生成的电输入信号(8)来生成指向被测对象的光输入信号，光接收器(9)，用于检测从所述被测对象接收的信号并将该信号转换成电测量信号(12)，该信号对应于相位和幅度交变的光输入信号，中央控制和测量设备(10)，其被设计用于生成用于所述驱动设备(5)的该第一时钟脉冲(7)以及接收并处理所述电测量信号(12，13)，以及用于给所述驱动设备(5)供电的电压源装置，其中该中央控制和测量设备(10)被设计用于生成用于所述电压源装置的第二时钟脉冲(19)并基于所述第一和/或第二时钟脉冲(7，19)过滤所述电测量信号(12，13)，其中所述第二时钟脉冲(19)的频率是所述第一时钟脉冲(7)的频率的偶数倍。

公开(公告)号：CN104781640B

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201380059113.2

申请日：2013-12-11

Applicant: 株式会社阿尔发 ,  日产自动车株式会社

Inventor： 小野高志 ,  平井航

IPC: G01J1/04 ,  G01J1/02 ,  G01V8/20 ,  G02B3/00

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/08 ,  G01S7/4813 ,  G01S17/026 ,  G01V8/20 ,  G02B3/00 ,  G02B19/0014 ,  G02B19/0047 ,  G02B19/0076

Abstract: 本发明的目的在于提供一种光电传感器用透镜，在使用多个发光元件来形成反射型光电传感器的情况下，能够以简单的构造通过发光元件尽可能地提高辐照效率。该光电传感器用透镜将来白收容在单元壳体(1)内的多个发光元件(2)的照射光聚光于单元壳体(1)外的检测区域(3)，并将来自该检测区域(3)的反射光聚光于所述单元壳体(1)内的受光元件(4)，该光电传感器用透镜将其一面侧由单一凸透镜面(5)形成，并且在所述一面的对置面上一体地形成光轴与所述单一凸透镜面(5)共用的受光用凸透镜面(6)、以及具有与该受光用凸透镜面(6)的光轴平行的光轴的多个投光用凸透镜面(7)。

公开(公告)号：CN106872026A

公开(公告)日：2017-06-20

申请号：CN201710195403.X

申请日：2017-03-29

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 傅博强 ,  吕亮 ,  唐治玉 ,  王晶 ,  陈敏璠

IPC: G01J1/08

CPC classification number: G01J1/08 ,  G01J2001/083 ,  G01J2001/086

Abstract: 本发明实施例涉及一种可调微弱光发生装置，包括：光源，用于输出入射光；可调光阑，设置于所述光源的出射端，通过调整所述可调光阑，控制通过可调光阑的所述入射光的光通量；积分球，所述积分球包括入射口、出射口、档屏和光电探测器，所述光电探测器输出探测光电流；可编程光度计，与所述光电探测器相连接，接收所述探测光电流，对所述探测光电流进行前置放大、模数转换和信号处理，形成光电反馈电路，为所述光源提供高稳定度恒流电。本发明实施例提供的可调微弱光发生装置，通过可调光阑使积分球出射口具有高稳定度的可调微弱光。该装置成本低，精度高，操作简便。

公开(公告)号：CN106770275A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201610362440.0

申请日：2016-05-26

Applicant: 胜丽国际股份有限公司

Inventor： 詹嘉豪 ,  陈翰星

IPC: G01N21/84

CPC classification number: G01J1/08 ,  G01J1/44 ,  G01J1/58 ,  G01N21/255 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/062 ,  G01N21/84

Abstract: 本发明为具有量子光源的检测系统，其包括：量子光源模块；以及检测模块。其中量子光源模块是由多数量子光源排列形成，提供待测物所需的光源并使待测物产生待测影像；检测模块则用以读取该待测影像并进行检测或分析。借由本发明的实施，具有量子光源的检测系统不仅不须复杂制程或昂贵的制造设备，实施成本低廉；可以节省光源使用空间，大幅提高应用范围；更可以准确输出锐利光源增加待测物的特征点的判别，降低误判率并大幅提升检测效率。

公开(公告)号：CN106768307A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611191459.X

申请日：2016-12-21

Applicant: 福建省计量科学研究院

Inventor： 黄伟 ,  廖小华 ,  方用 ,  李杰

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02 ,  G01J1/08

CPC classification number: G01J1/00 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/083

Abstract: 本发明提供一种紫外辐照度计的校准装置，包括紫外光源设备、积分球、可调光阑组件、以及光阑控制器；所述积分球上设置有光源进光口、至少三个标准紫外辐照度计测试口、以及一个被检紫外辐照度计测试口；所述紫外光源设备的发射口与积分球的光源进光口位于同一水平面上，且所述可调光阑组件设置于发射口和光源进光口之间，所述光阑控制器控制所述可调光阑组件的开口大小的调节。本发明提高紫外辐射照度计的校准效率的同时降低其校准不确定度。