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公开(公告)号：CN107014495A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710165360.0
申请日：2017-03-20
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种超短脉冲门控的高速低噪声单光子探测器，高速超短脉冲门信号同时与直流高压偏置耦合于雪崩光电二极管和一个与雪崩光电二极管电容特性相似的等效可调电容两端，雪崩光电二极管和等效可调电容分别得到的两信号进入差分电路，共模尖峰噪声相互抵消，输出提取出的微弱的有效雪崩信号，再经放大器后送入高抑制比的低通滤波器，滤除尖峰噪声和放大器引入的噪声，实现单光子探测。在降低生产成本、简化电路的同时，使用脉宽可调幅度可调的超短脉冲信号作为门控信号，拓展了采用平衡方案的单光子探测器的工作频率，且减小门信号的有效脉宽，可有效降低误计数，在高速探测中仍能保障尖峰噪声的高抑制比，提高探测器性能。
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公开(公告)号：CN106959166A
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201710097721.2
申请日：2017-02-22
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开一种用于任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量装置。该装置基于平衡互相关法用于测量高重复频率(数十兆赫兹)激光抖动的方法，通过数据采集卡采集电压信号，并通过软件处理提取误差信号，使得该系统成功用于任意重复频率激光器的时间抖动的测量。本发明成功解决了任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量问题，具有简单高效和实用性强的特点。
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公开(公告)号：CN106952668A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710223183.7
申请日：2017-04-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G21B1/23 , G01B9/0203 , G01B9/02045 , G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种多功能激光聚变诊断干涉仪，包括照明镜头、分束镜一、分束镜二、成像镜头一、成像镜头二、成像镜头三、条纹相机一、条纹相机二、条纹相机三、光环形器模块、探针光传像模块、干涉模块一和干涉模块二。采用本发明提供的多功能激光聚变诊断干涉仪，结构新颖，易于实现，能够共用传统的线VISAR的收光光路，保留了传统线VISAR干涉测量冲击波速度模块，通过改进光路充分利用了探针激光，在获取干涉拍频计算出冲击波表面速度的同时跟踪探针光吸收强度与冲击波界面变化，并配合合适的图像处理手段，能够将获取更多的物态信息，有利于进一步的物态诊断研究。
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公开(公告)号：CN106662487A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580035678.6
申请日：2015-06-02
Applicant: 国立研究开发法人情报通信研究机构
Inventor： 坂本高秀
IPC: G01J11/00 , G02F1/01 , H04B10/079
CPC classification number: H04B10/079 , G01J1/16 , G01J1/44 , G01J11/00 , G01J2001/1678 , G01J2001/4238 , G01J2001/4242 , G01J2001/4406 , G02F1/01
Abstract: 本发明能够实现超过电信号频带极限的超宽带光信号的集中计测。本发明的光检测装置(100)具有：延时调整机构(10)，其被输入作为检测对象的光信号；光学频率梳发生器(20)，其产生光学频率梳；光混频器(30)，其将从延时调整机构(10)依次输出的经过时间调整的光信号序列和从光学频率梳发生器(20)输出的光学频率梳信号进行光混频；和光检测器(40)，其检测从光混频器(30)输出的混频信号。延时调整机构(10)对光信号序列进行时间调整，以使得经过时间调整的各光信号序列分别在光混频器(30)中分别在不同的时间与光学频率梳进行光混频。
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公开(公告)号：CN106644104A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610895631.3
申请日：2016-10-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种基于谱反演法的离散雨滴介质的相位屏建模方法，属于离散雨滴介质相位屏建模领域。为了解决现有的离散雨滴介质的相位屏模型对光场信息的描述不完全，不符合虚拟试验的要求，未考虑雨滴对于光场的相位扰动的缺点，而提出一种基于谱反演法的离散雨滴介质的相位屏建模方法，包括：获取雨滴粒子的散射势能；得到经傅立叶变换后的散射势能；通过经傅立叶变换后的散射势能得到散射势能的近似值；通过公式表示雨滴粒子介电常数的二阶相关矩三维功率谱函数；通过公式表示雨滴的介电常数功率谱；通过公式表示雨滴介质折射率二阶相关矩功率谱；根据谱反演法获得传输路径上混合介质的相位屏模型；本发明适用于激光在雨中传输的仿真模型。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106233107A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201580020774.3
申请日：2015-04-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J11/00 , G01J9/00 , G02B5/32 , G02F2203/56
Abstract: 本发明的波形测量装置具有：输入光谱取得部，取得作为脉冲光的强度光谱的输入强度光谱；光学元件，输入脉冲光，输出具有与脉冲光的相位光谱对应的强度光谱的光；输出光谱取得部，取得作为从光学元件输出的光的强度光谱的输出强度光谱；相位光谱确定部，将具有输入强度光谱和假想的相位光谱的脉冲光假设被输入到光学元件时所计算出的输出强度光谱、与在输出光谱取得部中取得的输出强度光谱进行比较，确定脉冲光的相位光谱。相位光谱确定部使控制相位光谱变形，设定假想的相位光谱。
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公开(公告)号：CN106092340A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610564506.4
申请日：2016-07-18
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于脉冲模板函数的光纤传感阵列的脉冲延时测量方法。本发明读取信号数据，确定第一个定位脉冲位置，结合脉冲周期数划分信号数据得到数据矩阵A，计算得到方差值向量c，根据脉冲的时间参数构建脉冲模板函数h，计算方差值向量c与脉冲模板函数h的相关值得到相关系数向量d，找出d中最大的K个极大值点得到相关系数向量极大值索引值向量p，对p求差分得到脉冲延时值；本发明的方法极大提高了处理速度；并且，对噪声的抵抗能力显著增强，可以在其他方法无法进行正常判断的情况下仍能准确的计算出脉冲延时值；同时指定输入的参数少，仅需要事先知道脉冲的宽度、上升时间、下降时间和阵列中的传感器数目，因此非常的简便、可靠。
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公开(公告)号：CN105953930A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610309365.1
申请日：2016-05-11
Applicant: 深圳市杰普特光电股份有限公司
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种皮秒级窄脉宽测试装置，包括第一分光耦合器、第二分光耦合器、第三分光耦合器、第一光学调节台、第二光学调节台、第一光纤放大器、第二光纤放大器、合束装置、第一测量装置、第二测量装置和第三测量装置。第一分光耦合器连接第一光学调节台和第二光学调节台，第一光学调节台、第一光纤放大器和第二分光耦合器依次连接，第二分光耦合器连接第一测量装置和合束装置。第二光学调节台、第二光纤放大器和第三分光耦合器依次连接，第三分光耦合器连接第二测量装置和合束装置，合束装置连接第三测量装置。利用受激拉曼散射原理来测量皮秒级脉冲，结构直观、操作简单且成本低，降低了皮秒级窄脉宽的测试成本。
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公开(公告)号：CN105953929A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610245961.8
申请日：2016-04-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种单发脉冲宽度和能量测量装置，所述的装置中的飞秒激光器出射的飞秒脉冲依次经过第一凸透镜、超连续谱展宽片、第一离轴抛物面反射镜、脉冲展宽器、反射镜、第二离轴抛物面反射镜、起偏器，进入光克尔样品，作为探测脉冲；待测脉冲依次经过光学延时线、半波片、第二凸透镜，进入光克尔样品中；探测脉冲透过检偏器的频谱成分进入光谱仪，完成信号采集。本发明具有高时间分辨率，高信噪比等特点。
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公开(公告)号：CN105737994A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610116433.2
申请日：2016-03-02
Applicant: 中国人民解放军军械工程学院
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种密码芯片光泄露采集噪声的分析和处理方法，包括如下步骤：A、基础设定：采用基于TCSPC单光子探测技术的光泄漏测量系统对单片机密码芯片进行光泄漏信号采集；B、暗检验：在暗室环境下，密码芯片不上电不工作进行测验；C、待机检验：让密码芯片上电工作，但不执行任何实际运算指令，进行测验；D、工作检验：让芯片上电工作，并循环执行一段MOV指令，金此能够测验；E、记录并保存经步骤B、C、D确认的环境、设备和检测系统，用于密码芯片光泄露的采集。本发明首创了在密码芯片光泄漏分析攻击中使用光泄漏迹中出现的噪声来对测量配置进行检验和优化的方法。
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