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公开(公告)号：CN105190262A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201480009125.9
申请日：2014-02-19
Applicant: 新加坡国立大学
Inventor： 黄志伟 , 麦德斯·塞尔沃斯特·伯格浩特 , 郑伟 , 何凯宇
CPC classification number: A61B5/0075 , A61B1/00165 , A61B5/0084 , G01J3/0218 , G01J3/0272 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/44 , G01N21/65 , G01N2201/129 , G02B23/2469 , G02B23/26
Abstract: 一种诊断仪器，包括单色光源、用于将来自单色光源的光传输到测试部位的传输设备、用于传输来自测试部位的散射光的采集设备和用于接收来自所述采集设备的散射光的光谱分析仪，所述光谱分析仪包括衍射光栅，所述衍射光栅设有第一光栅元件和第二光栅元件，所述第一光栅元件在第一光谱范围将光衍射，所述第二光栅元件在第二光谱范围将光衍射；所述光谱分析仪进一步包括感光设备，所述第一光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第一区域上，所述第二光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第二区域上。
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公开(公告)号：CN102680097B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201210063704.4
申请日：2012-03-12
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/027 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置，用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤：使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器，第二波长范围为上述第一波长范围的一部分；从与由分光测量器检测出的第一光谱中的第二波长范围以外的范围相对应的部分中获取表示杂散光成分的特性信息；以及对特性信息进行外插处理直至第一波长范围中的第二波长范围为止，来获取表示产生于上述分光测量器的杂散光成分的图案。
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公开(公告)号：CN103827643B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280041972.4
申请日：2012-06-12
Applicant: 迪亚菲尔公司
Inventor： 于格·塔里埃尔
IPC: G01J3/02 , G01J3/42 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N21/85
CPC classification number: G01N21/8507 , G01J3/0202 , G01J3/0218 , G01J3/42 , G01N21/3504 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N2021/8528
Abstract: 本发明涉及用于传感器的头部（500），其中传感器包括两段光纤，该两段光纤使红外光在至少一个红外波长传播并向外侧生成用于检测外部媒介的红外特征的倏逝波，所述头部（500）包括：-形成弯曲部分（15）的光纤，该弯曲部分（15）用于连接两段光纤，并用于与外部媒介接触，以检测与沿光纤传播的倏逝波的传播相干扰的红外特征；以及-用于保护弯曲部分（15）免受外部机械应力并且保证位于外部媒介与所述弯曲部（15）之间的接触区域（30）的装置（504、506）。
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公开(公告)号：CN104956193A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201380071639.2
申请日：2013-01-30
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/0218 , G01J3/0208 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 一种光感测模块、光谱仪的光机构及光谱仪。光感测模块包含一光感测元件(1)及一光纤。光感测元件具有至少一列的多数感光单元(11)。光纤由透光材料构成且具有一圆柱表面，并且圆柱表面的一侧相对多数感光单元设置，用以改变至少一部分感光单元所接收的入射光。该光感测模块，可增加光感测元件的集光量，适合改善微小化的装置或系统的整体光接收或光利用效率。
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公开(公告)号：CN102741679B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201180008288.1
申请日：2011-09-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/3563 , G01N21/359 , G01J3/02 , G01J3/42 , B07C5/342 , B29B17/02
CPC classification number: G01N21/3563 , B07C5/342 , B29B17/02 , B29B2017/0203 , B29B2017/0279 , B29K2055/02 , B29K2105/0026 , G01J3/0218 , G01J3/42 , G01N21/359 , G01N21/85 , G01N21/94 , G01N2201/0618 , G01N2201/129 , Y02W30/622
Abstract: 本发明提供一种溴系难燃剂判定方法，其对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103308504B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201310222241.6
申请日：2007-02-07
Applicant: 分子设备有限公司
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0235 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/427 , G01J3/4406 , G01N21/6408 , G01N21/6428 , G01N21/6445 , G01N21/763 , G01N2021/1738 , G01N2021/6415 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441 , G01N2021/6482 , G01N2201/024 , G01N2201/0618 , G01N2201/062 , G01N2201/0621 , G01N2201/0692 , G01N2201/0696
Abstract: 提供了一种用于分析样品中的靶标的系统，所述系统包括：结构；电源，位于所述结构中；检测器，位于所述结构中；多个可移除的模块盒，至少一个可移除的模块盒包括用于产生激励光的光源、用于将电能从电源提供给光源的耦合器、以及用于将激励光引导至靶标的第一光学系统；读取头，被配置为接收来自所述靶标的发射光；以及模块盒支架，相对于所述结构是可移动的，包括被配置成同时接收多个可移除的模块盒的模块盒位置，所述模块盒支架被配置为选择性地将一个或多个可移除的模块盒与所述检测器和所述读取头相对齐，其中每个可移除的模块盒可从所述模块盒支架移除。
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公开(公告)号：CN102822648B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201180015526.1
申请日：2011-03-08
Applicant: 柯尼卡美能达精密光学仪器株式会社
Inventor： 鹤谷克敏
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/024 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/513 , G02B6/04 , G02B6/2804 , G02B27/10 , G02B27/1006 , G02F1/1309 , G02F2001/136254 , G02F2203/69
Abstract: 在本发明所涉及的测量探头（40）中，测量光被分支光学系统（12）分支为多个分支光，各分支光在经由作为滤色片的各干涉膜滤光片（13A、14A、15A）被各受光传感器（13B、14B、15B）接受时，经由形成近似两侧远心系统的各聚光透镜组（13C、14C、15C）向各干涉膜滤光片（13A、14A、15A）入射。而且，干涉膜滤光片（13A、14A、15A）形成为根据相对于向该干涉膜滤光片（13A、14A、15A）入射的入射光的入射角度的强度分布的条件，得到与测量参数对应的透过率特性。因此，本发明涉及的测量探头（40）能够在使用干涉膜滤光片（13A、14A、15A）的同时，减少因其入射角度引起的透过率特性的偏差的影响。
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公开(公告)号：CN104062006A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410086386.2
申请日：2014-03-10
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 金井政史
CPC classification number: G01J3/0218 , B41J2/125 , B41J11/009 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/506 , G01J3/51 , G09G5/02 , G09G2320/0626 , G09G2320/0666 , G09G2320/0693 , G09G2320/08 , G09G2360/145
Abstract: 本发明涉及光测定装置、印刷装置及图像显示装置。光测定装置能够在一处测定从不同场所导来的多种光。光测定装置具有：选择性地透过期望的波长的光的一个分光器、将测定对象光导向分光器的多个导光部、以及接收从分光器出射的光的光接收部。多个导光部设置于作为测定对象光向多个导光部的入射端分别入射不同光的位置，且多个导光部的出射端向分光器的不同位置分别出射光的位置。分光器将从多个导光部入射的光分别从不同位置出射，光接收部分开接收从分光器的不同位置出射的光。
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公开(公告)号：CN103827643A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201280041972.4
申请日：2012-06-12
Applicant: 迪亚菲尔公司
Inventor： 于格·塔里埃尔
IPC: G01J3/02 , G01J3/42 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N21/85
CPC classification number: G01N21/8507 , G01J3/0202 , G01J3/0218 , G01J3/42 , G01N21/3504 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , G01N21/552 , G01N2021/8528
Abstract: 本发明涉及用于传感器的头部（500），其中传感器包括两段光纤，该两段光纤使红外光在至少一个红外波长传播并向外侧生成用于检测外部媒介的红外特征的倏逝波，所述头部（500）包括：形成弯曲部分（15）的光纤，该弯曲部分（15）用于连接两段光纤，并用于与外部媒介接触，以检测与沿光纤传播的倏逝波的传播相干扰的红外特征；以及用于保护弯曲部分（15）免受外部机械应力并且保证位于外部媒介与所述弯曲部（15）之间的接触区域（30）的装置（504、506）。
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公开(公告)号：CN103728015A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310432079.0
申请日：2013-09-22
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
Inventor： 洪健翔
CPC classification number: G02B5/0273 , G01J1/0295 , G01J1/0414 , G01J1/0422 , G01J1/0425 , G01J1/044 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0297 , G01J3/18 , G02B19/0076
Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。
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