调节装置及光谱仪
    54.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108414084A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201710073983.5

    申请日:2017-02-10

    Inventor: 武建芬 宋瑶

    CPC classification number: G01J3/0218 G01J3/0237 G01J3/04

    Abstract: 本发明公开了一种调节装置及光谱仪。该调节装置包括:调整架,用于调节光谱仪的光纤和狭缝的位置;调整架连接套,分别与光纤组件和狭缝组件相连接,且光纤组件和狭缝组件安装在调整架的同一底座上面。该光谱仪包括上述调节装置。通过本发明的技术方案,可以调节光纤和狭缝的位置,提高了调节的简便性和精度。

    分光测量装置
    56.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104833634B

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201510303622.6

    申请日:2013-10-02

    Inventor: 石丸伊知郎

    Abstract: 本发明的分光测量装置具备:分割光学系统,其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束;成像光学系统,其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉;光程差赋予单元,其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布;检测部,其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素;处理部,其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图,通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱;共轭面成像光学系统,其配置在被测量物与分割光学系统之间,具有与该分割光学系统共用的共轭面;以及周期性赋予单元,其配置于共轭面,对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。

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