具有紧凑结构的分光分析装置

    公开(公告)号:CN108780040A

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201680080161.3

    申请日:2016-12-05

    Inventor: 林铜澈

    Abstract: 本发明涉及一种以非破坏的方式测量水果、饮料、食品等物体内的有机化合物成分或者内部品质的分光分析装置,更具体而言,涉及一种具有紧凑结构的分光分析装置,其采用作为非破坏测量技术的一个领域的近红外(NIR:near infra-red)分光分析(spectroscopic analysis)技术,而且组成要素之间以紧凑的结构进行结合实现了小型化,通过降低误差提高准确度。本发明涉及的具有紧凑结构的分光分析装置,该包括:外部遮光部件,其用于覆盖被测物体的被测部位以与外部隔离;光源部件,其向所述被测物体的被测部位照射光线;光接收透镜,其用于收集从所述被测物体的被测部位反射及扩散的光线;分光仪,其按照波长分离并检出通过所述光接收透镜收集并入射的光线;所述光接收透镜的中央部形成有安置孔所述光源部件通过安装在所述安置孔上并布置,所述光接收透镜和分光仪被排列在所述光源部件的光轴线上。

    分光器及分光器的制造方法

    公开(公告)号:CN108106727A

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201810044170.8

    申请日:2015-02-03

    Abstract: 分光器(1A)具备:光检测元件(20),其设置有光通过部(21)及光检测部(22);支撑体(30),其以在与光通过部(21)及光检测部(22)之间形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20);第1反射部(11),其设置于支撑体(30),且在空间(S)中,将通过光通过部(21)的光(L1)反射;第2反射部(12),其设置于光检测元件(20),且在空间(S)中,将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射;以及分光部(40),其设置于支撑体(30),且在空间(S)中,将由第2反射部(12)反射的光(L1)相对于光检测部(22)进行分光并反射。

    遮光罩
    55.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105793681B

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201580000841.5

    申请日:2015-11-05

    Abstract: 本发明公开了一种用于多货架货物陈列单元(1)的传感器罩(6,6a,6b),所述多货架货物陈列单元(1)包括安装在单元(1)的壁(4)上并与照明源(2)相对的多个传感器(5,5a,5b),其中各个传感器(5,5a,5b)对应于单个货架(3,3a,3b),并且其中货架(3,3a,3b)对于照明至少是半穿透的。所述罩(6,6a,6b),包括i)板件,该板件具有基本足以减少或防止来自上方货架(3,3a,3b)的入射照明到达传感器(5,5a,5b)的长度;和ii)将板件连接到传感器(5,5a,5b)的壳体或围绕传感器(5,5a,5b)或单元(1)的壁(4)的装置(26)。板件对于由传感器(5,5a,5b)检测的照明是不透明的。本发明还公开了在多货架货物陈列单元(1)中减少来自正在测量其上存货水平的货架(3,3a,3b)上方的货架(3,3a,3b)的光的干涉的方法,以及通过测量进入零售陈列橱柜的光来监控零售陈列橱柜中存货水平的方法。

    测色方法以及测色装置
    56.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103968947B

    公开(公告)日:2018-01-12

    申请号:CN201410044027.0

    申请日:2014-01-30

    Inventor: 多津田哲男

    Abstract: 本发明提供测色方法以及测色装置,能够高效地进行测色对象的测色。检测由波长可变干涉滤波器(5)分光后的光的光量并取得分光图像的拍摄部(拍摄元件(32)以及光量取得部(63)),检测对于三个波长依次分光后的光的光量,取得合成图像用的各分光图像,显示控制部(741)使显示部(71)显示基于合成图像用的各分光图像的合成图像,指定位置检测部(742)基于使用者的操作来确定输出测色结果的指定位置,拍摄部利用波长可变干涉滤波器(5)来检测对于多个波长依次分光后的光的光量,从而取得与多个波长分别对应的测色用的各分光图像,测色部(743)使用测色用的各分光图像的光量值来对指定位置进行测色。

    晶片级光谱仪
    60.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103703348B

    公开(公告)日:2017-01-18

    申请号:CN201280036758.X

    申请日:2012-06-12

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备,所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调,提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解:其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

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