公开(公告)号：CN106456070A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580027058.8

申请日：2015-06-17

Applicant: 索尼公司

Inventor： 小泽谦

IPC: A61B5/1455 ,  G01J3/02 ,  G01J4/04 ,  G01J3/453 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J1/42 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/14546 ,  A61B5/14551 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/681 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/4531 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/005 ,  G01N21/314 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  A61B5/1455

Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。

公开(公告)号：CN106225928A

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201610536624.4

申请日：2016-07-08

Applicant: 南京航空航天大学

Inventor： 王潇 ,  司晓云 ,  杨凤 ,  吴曰超 ,  尹建华

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J2004/001

Abstract: 本发明公开了一种矢量光束偏振分布检测装置，包括四分之一波片、线偏振光检偏器、旋转模块、图像采集模块和计算机。还公开了矢量光束偏振分布检测方法，入射平行光束经四分之一波片和线偏振光检偏器，后被图像采集模块探测；通过旋转模块改变四分之一波片快轴方向，图像采集模块曝光记录受四分之一波片快轴方向调制的一系列光束图像；计算机把图像细分成微区域，针对每个微区域可认为其偏振分布均匀，分析其受四分之一波片快轴方向调制的强度曲线，可以获取该微区域的偏振态，对所有微区域做相同的处理，最终获取整个光束的偏振态分布。本发明的装置和方法，结构简单、适用性好、稳定可靠，能够实现任意矢量光束偏振分布快速、自动、准确的检测。

公开(公告)号：CN105637320A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201480056299.0

申请日：2014-08-15

Applicant: 巴斯夫欧洲公司

Inventor： R·森德 ,  I·布鲁德 ,  S·伊尔勒 ,  E·蒂尔 ,  H·沃内博格

IPC: G01B11/25

CPC classification number: G01J1/0437 ,  G01B11/25 ,  G01J1/42 ,  G01J4/04 ,  G01N30/74 ,  G01S5/163 ,  G01S7/4816 ,  G01S7/499 ,  G01S11/12 ,  G01S17/026 ,  G01S17/42 ,  G01S17/46 ,  G01S17/66 ,  G01S17/936 ,  G06F3/0425 ,  G06K9/741 ,  G06T7/73 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/10152

Abstract: 公开了一种光学检测器(110)，光学检测器(110)包含：-至少一个适于以空间分辨的方式调节光束(136)的至少一种性质的空间光调制器(114)，其具有像素(134)的矩阵(132)，其中各像素(134)可控以单独调节通过像素(134)的光束(136)部分的至少一种光学性质；-至少一个适于检测通过空间光调制器(114)的像素(134)的矩阵(132)之后的光束(136)且产生至少一个传感器信号的光学传感器(116)；-至少一个适于以不同调制频率周期性控制至少两个像素(134)的调制器装置(118)；和-至少一个适于实施频率分析以确定用于调制频率的传感器信号的信号分量的评价装置(120)。

公开(公告)号：CN103968949B

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201310042271.9

申请日：2013-02-04

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 刘军库 ,  李关红 ,  李群庆 ,  范守善

IPC: G01J4/04

CPC classification number: H01L31/0224 ,  G01J4/04 ,  H01L31/09 ,  H01L31/1884 ,  Y02E10/50

Abstract: 本发明提供一种偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接以形成一电流回路。其中，该光敏电阻包括一第一电极层、一光敏材料层以及一第二电极层，所述第一电极层、光敏材料层和第二电极层层叠设置，构成一三明治结构，所述第一电极层和第二电极层分别设置于所述光敏材料层相对的两个表面上，且分别与所述光敏材料层电接触，所述第一电极层包括一第一碳纳米管薄膜结构。

公开(公告)号：CN105492889A

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201480047682.X

申请日：2014-05-13

Applicant: 韩国标准科学研究院

Inventor： 赵龙在 ,  诸葛园 ,  赵贤模

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/001 ,  G01N2021/213 ,  G01N2201/0683 ,  G01N2201/11

Abstract: 提供一种光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪，其用于解决由于在根据现有技术的能够测量任何样品的穆勒矩阵的一些或所有元素的双光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪中光源的剩余偏振、光检测器的偏振依赖性、高次项的傅立叶系数的测量值而引起的测量准确性和测量精度的问题。

公开(公告)号：CN105486408A

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201510837226.1

申请日：2015-11-26

Applicant: 天津大学

Inventor： 胡浩丰 ,  俞明轩 ,  刘铁根 ,  黄柄菁 ,  江俊峰 ,  刘琨

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了基于彩色CCD的三波长Stokes矢量偏振测量系统及方法，用于同步测量三个波长下Stokes矢量的值，该方法在Stokes偏振测量装置中采用红、绿、蓝对应的三个波长的激光器作为光源，并采用彩色CCD作为光强探测器件；考虑彩色CCD红绿蓝(RGB)三个通道量子转换效率的光谱特性，补偿三个通道量子转换效率光谱重叠引起的串扰，从而通过RGB三个通道下测得的光强值计算三个波长下的真实光强值；同时考虑偏振分析器(PSA)在三个波长下的特征偏振态，并基于此由三个波长下的真实光强值最终计算出三个波长下的Stokes矢量。该方法可仅通过四次光强测量即获得三个波长下的Stokes矢量值，从而大大增加了获取的偏振信息量。该方法对于偏振成像和偏振测量探测具有重要意义。

公开(公告)号：CN103852765A

公开(公告)日：2014-06-11

申请号：CN201310619391.0

申请日：2013-11-29

Applicant: 英飞凌科技股份有限公司

Inventor： F.M.达雷尔

IPC: G01S17/89 ,  G02B27/28

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01S7/499 ,  G01S17/89 ,  G01S17/936 ,  G01S7/481 ,  G02B27/288

Abstract: 本发明涉及通过偏振的选择性。设备和技术的代表性实现给成像设备和系统提供选择性。偏振可以施加于发射的光辐射和/或接收的光辐射来选择期望的成像结果。通过使用偏振，成像设备或系统能够使具有期望信息的期望光辐射通过并且拒绝无用的或杂散的光辐射。

公开(公告)号：CN103845063A

公开(公告)日：2014-06-11

申请号：CN201210586883.X

申请日：2012-12-28

Applicant: 财团法人工业技术研究院

Inventor： 刘志祥 ,  杨富程

IPC: A61B5/1455

CPC classification number: G01B9/00 ,  A61B3/10 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/6821 ,  G01J4/04 ,  G01N21/21

Abstract: 一种光学旋转角度测量系统及其方法。该光学旋转角度测量系统包含有：一偏光产生单元；一偏光分析单元；一电信号产生单元，其分别电性连接该偏光产生单元与该偏光分析单元；以及一数据处理单元，其电性连接该电信号产生单元；其中一光束经该偏光产生单元形成一入射偏光光束，一光学活性物质设于该入射偏光光束的路径上，该入射偏光光束经该光学活性物质形成一出射偏光光束，该偏光分析单元接收该出射偏光光束并产生一信号，由该数据处理单元接收并处理该信号。

公开(公告)号：CN103175553A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201110192355.1

申请日：2011-06-30

Applicant: 罗裕龙 ,  刘人仰

Inventor： 罗裕龙 ,  刘人仰 ,  颜志仲 ,  钟逸凡

IPC: G01D5/26 ,  G01C19/72

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01C19/72 ,  G01J4/04 ,  G02B6/2793

Abstract: 本发明提出以量测光纤或光纤组件等效光路，并加以补偿的方式，使得每个光纤或光纤组件的特性如自由空间(Free Space)一般，以提升光纤或光纤组件的复制性与稳定性。理论计算由缪勒-史托克矩阵(Muller-Stokes Matrix)偏光仪所得出的结果进行分析，再计算出光纤或光纤组件的等效琼斯矩阵与转成单位矩阵所需的补偿。光纤或光纤组件的补偿方式可加组件如可变延迟器(variable retarder)、半玻片(half-wave plate)等，或同等功能的极化控制器(polarization controller)。光纤或光纤组件的补偿亦可不加组件如扭转部份光纤制造等效的补偿效应；或其它方式使得补偿后的光纤或光纤组件等效光路为一单位矩阵(unit matrix)，如同自由空间一般。此项创新不仅大幅提升光纤及光纤组件的复制性，亦可大幅加快使用光纤与光纤组件的光纤传感器(如光纤陀螺仪等)的光路优化仿真演算速度。

公开(公告)号：CN102914368A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201210272524.7

申请日：2012-08-01

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 山田英明 ,  长石道博

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01N21/19 ,  G01N21/21 ,  G01N2201/068

Abstract: 偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法，光学装置（3）具有对透过光进行检测并射出的检光部（314），该透过光是从光源（300）射出并由第2偏振部（308）进行转换后的线偏振光透过被检体（S）后的光。并且光学装置（3）具有；对来自检光部（314）的出射光进行垂直分离的垂直分离部（316）、和接收由垂直分离部（316）进行垂直分离后的光的受光部（320）。运算装置将旋转控制信号输出到旋转装置（330），以使旋转面与透过光的光路垂直的方式对检光部（314）进行旋转控制。运算装置使用在检光部（314）的旋转中由受光部（320）接收被垂直分离部（316）垂直分离后的光而得到的强度，来测定透过被检体（S）的透过光的偏振状态。