FOCUSING SYSTEM COMPRISING ACOUSTO-OPTIC DEFLECTORS FOR FOCUSING AN ELECTROMAGNETIC BEAM

    公开(公告)号:CA2748525A1

    公开(公告)日:2010-07-08

    申请号:CA2748525

    申请日:2009-12-30

    Applicant: FEMTONICS KFT

    Abstract: The present invention relates to a focusing system (100) for focusing an electromagnetic beam for three-dimensional random access applications, the system comprising a first pair of acousto-optic deflectors (10) for focusing an electromagnetic beam in an X-Z plane, and a second pair of acousto-optic deflectors (20) for focusing an electromagnetic beam in a Y-Z plane being substantially perpendicular to the X-Z plane, characterised in that the second pair of acousto-optic deflectors (20) are arranged between the acousto-optic deflectors (12, 12') of the first pair of acousto-optic deflectors (10), such that the first and fourth acousto-optic deflectors (12, 12") of the system belong to the first pair of acousto-optic deflectors (10) and the second and third acousto-optic deflectors (22, 22") of the system belong to the second pair of acousto-optic deflectors (20).

    Método para escanear a lo largo de una trayectoria de escaneo continuo con un sistema de escáner

    公开(公告)号:ES2732423T3

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:ES12703338

    申请日:2012-01-05

    Applicant: FEMTONICS KFT

    Abstract: Método para escanear a lo largo de una trayectoria de escaneo tridimensional continua con un sistema de escáner (100) que comprende una primera pareja de deflectores acusto-ópticos (10) para desviar un punto focal de un haz electromagnético generado por un sistema de lentes consecutivas (200) que definen un eje óptico (z) en un plano xz, y una segunda pareja de deflectores acusto-ópticos (20) para desviar el punto focal en un plano y-z que es sustancialmente perpendicular al plano x-z, caracterizado por pasar el haz electromagnético a través de las parejas primera y segunda de deflectores acusto-ópticos (10, 20) mientras se proporcionan cambios en el tiempo de frecuencia acústica dependientes del tiempo, que cambian con el tiempo continuamente y no linealmente en los deflectores (12, 12') de la primera pareja de deflectores (10) y en los deflectores (22, 22') de la segunda pareja de deflectores (20) para provocar que el punto focal del haz electromagnético se mueva continuamente a lo largo de la trayectoria de escaneo.

Patent Agency Ranking