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    Método para escanear a lo largo de una trayectoria de escaneo continuo con un sistema de escáner
    2.
    发明专利
    Método para escanear a lo largo de una trayectoria de escaneo continuo con un sistema de escáner 未知

    公开(公告)号：ES2732423T3

    公开(公告)日：2019-11-22

    申请号：ES12703338

    申请日：2012-01-05

    Applicant: FEMTONICS KFT

    Inventor： ROZSA BALÁZS ,  KATONA GERGELY ,  VERESS MÁTÉ ,  MAAK PÁL ,  SZALAY GERGELY ,  KASZAS ATTILA ,  CHIOVINI BALÁSZ ,  MATYAS PÉTER

    IPC: G02F1/33 ,  G01N21/64 ,  G02B21/00

    Abstract: Método para escanear a lo largo de una trayectoria de escaneo tridimensional continua con un sistema de escáner (100) que comprende una primera pareja de deflectores acusto-ópticos (10) para desviar un punto focal de un haz electromagnético generado por un sistema de lentes consecutivas (200) que definen un eje óptico (z) en un plano xz, y una segunda pareja de deflectores acusto-ópticos (20) para desviar el punto focal en un plano y-z que es sustancialmente perpendicular al plano x-z, caracterizado por pasar el haz electromagnético a través de las parejas primera y segunda de deflectores acusto-ópticos (10, 20) mientras se proporcionan cambios en el tiempo de frecuencia acústica dependientes del tiempo, que cambian con el tiempo continuamente y no linealmente en los deflectores (12, 12') de la primera pareja de deflectores (10) y en los deflectores (22, 22') de la segunda pareja de deflectores (20) para provocar que el punto focal del haz electromagnético se mueva continuamente a lo largo de la trayectoria de escaneo.

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