公开(公告)号：CN106482830A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610865960.3

申请日：2016-09-29

Applicant: 清华大学

Inventor： 顾华荣 ,  林书浪

IPC: G01J1/44 ,  G01J1/08

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/083 ,  G01J2001/442 ,  G01J2001/444

Abstract: 本发明涉及光电探测器标定的技术领域，特别是一种基于标准光源的光子计数器的标定系统和方法，系统包括：标准光源、光纤光路、遮光筒、光子计数器、计数单元和上位机系统；光纤光路连接标准光源和遮光筒，光子计数器连接遮光筒和计数单元，计数单元通过RS232接口与上位机系统连接。利用该系统对光子计数器的本底计数、检测范围、线性计数率和检测重复性进行测试并进行标定。本发明有益效果：标准光源使用双积分衰减器和实时强度检测探测器，可获得均匀、非线性误差小的复合白光；适用波长范围大，可对工作波长在300nm至2500nm内仪器进行标定；标定方法的可行性强，对实验技巧要求低，可以直接量化检验线性度并进行校正。

公开(公告)号：CN103998906B

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201280062627.9

申请日：2012-12-12

Applicant: 霍夫曼-拉罗奇有限公司

Inventor： R.哈勃斯 ,  P.N.泽勒

IPC: G01J1/08 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  H01L33/64 ,  H01L25/075

CPC classification number: G01N21/01 ,  G01J1/08 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/10 ,  G01N21/17 ,  H05B33/0821

Abstract: 本发明涉及一种包括含有多个发光元件11的光源10的光学系统100，所述发光元件被彼此热接触地安装在同一衬底或芯片板上使得实现在LEE之间的热传导和热传递，其中所述系统可以在光源模式之间切换，在所述光源模式中不同的发光元件或不同数量的发光元件分别被切换为接通模式或下调模式。特别在所有的光源模式中，优选那些具有更长的期望寿命的一个或多个发光元件被保持接通模式，与此同时优选那些具有更短的期望寿命的一个或多个发光元件可以被保持下调模式。

公开(公告)号：CN103314280B

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201180064150.3

申请日：2011-12-21

Applicant: 国家科学研究中心

Inventor： 克里斯多夫·隆格奥德

IPC: G01J1/08

CPC classification number: G02B26/0816 ,  G01J1/08 ,  Y02E10/52

Abstract: 本发明涉及一种在样品上形成干涉光栅的设备，包括：发射波长为λ的光束的激光器；分束器，其将激光器发射的光束分成第一光束（11）和第二光束（14），第一光束（11）在第一方向上被偏转；第一静止的偏转镜，其将第一光束以恒定的第一入射角偏转到样品的一点（P）上；和至少一个第二静止的偏转镜，其使第二光束根据最终路径（17）偏转，最终路径以第二入射角θ2到达样品的点（P），从而在样品上形成干涉光栅，其栅距取决于第一入射角与第二入射角间的角度差θ，第二光束的路径的特征在于，其包括可移动的偏转镜（7、7’），该偏转镜将第二光束导向和偏转到第二镜（8、M2），从而改变入射角θ2的值，因此改变角度差θ。在可移动的镜上的偏转点的线性路径或抛物线路径可以至少部分地补偿第二光束的光程上的变化。

公开(公告)号：CN103776547B

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201410066672.2

申请日：2014-02-26

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 谭智勇 ,  曹俊诚 ,  顾立 ,  朱永浩

IPC: G01J5/20

CPC classification number: G01J1/4257 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/42 ,  G01J2001/083

Abstract: 本发明提供一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置，所述装置至少包括：驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器。所述标定方法采用功率可测定的单频激光源作为标定光源，得到探测器在该激光频率处的绝对响应率参数，利用探测器的归一化光电流谱可进一步计算得到探测器在其任意可探测频率处的绝对响应率参数。本发明直接采用周期输出的单频激光源作为标定光源，采用太赫兹阵列探测器和功率计直接测量来获得被标定探测器的入射功率，极大地减小了传统标定方法中背景光、水汽吸收的影响，避免了各种谱积分的复杂计算，整个标定过程简单，引入误差小，具有广泛适用性。

公开(公告)号：CN104870978A

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN201380067544.3

申请日：2013-12-11

Applicant: 哈美顿博纳图斯股份公司

Inventor： B·奥芬贝克 ,  L·威利

IPC: G01N21/31 ,  A61B5/1455 ,  G01J1/44

CPC classification number: G01N21/27 ,  G01J1/08 ,  G01J1/46 ,  G01N21/255 ,  G01N21/3151 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062

Abstract: 本发明涉及一种用于测量周期性信号的设备(1)，包括：光源(3)，用于根据由驱动设备(5)基于第一时钟脉冲(7)生成的电输入信号(8)来生成指向被测对象的光输入信号，光接收器(9)，用于检测从所述被测对象接收的信号并将该信号转换成电测量信号(12)，该信号对应于相位和幅度交变的光输入信号，中央控制和测量设备(10)，其被设计用于生成用于所述驱动设备(5)的该第一时钟脉冲(7)以及接收并处理所述电测量信号(12，13)，以及用于给所述驱动设备(5)供电的电压源装置，其中该中央控制和测量设备(10)被设计用于生成用于所述电压源装置的第二时钟脉冲(19)并基于所述第一和/或第二时钟脉冲(7，19)过滤所述电测量信号(12，13)，其中所述第二时钟脉冲(19)的频率是所述第一时钟脉冲(7)的频率的偶数倍。

公开(公告)号：CN104776330A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201510099656.8

申请日：2015-03-07

Applicant: 复旦大学

Inventor： 张善端 ,  韩秋漪

IPC: F21S2/00 ,  F21V23/00 ,  H01J61/52 ,  F21Y113/00

CPC classification number: G01J1/08

Abstract: 本发明属于紫外辐射测量技术领域，具体为一种用于紫外灯检测和定标的低压汞灯标准系统。本低压汞灯标准系统，包括至少一组低压汞放电标准灯、驱动电源、光源控制系统以及温度控制系统，每组低压汞放电标准灯至少包含3根相同类型、相同参数的低压汞放电灯；控温系统在低压汞放电标准灯的管壁上制造恒温冷端，光源控制系统包括一个探测器和一个控制器，探测器检测低压汞放电标准灯的辐射强度，并经由控制器的反馈回路调节驱动电源的输出电流，实现恒定的254 nm紫外输出，提高放电灯的稳定性。本发明能够提供稳定的辐射输出，可作为紫外一级标准光源用来定标紫外积分球、辐射照度计等检测设备，为实际生产及光源检测提供可靠的辐射标准。

公开(公告)号：CN104600065A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201410811268.3

申请日：2014-10-17

Applicant: 马克西姆综合产品公司

Inventor： N·D·凯尔尼斯 ,  A·V·萨莫伊洛夫 ,  J·C·巴特 ,  A·沙马库拉 ,  K·纳加拉坚 ,  C·F·爱德华兹

IPC: H01L25/16 ,  H01L25/00 ,  H01L23/04

CPC classification number: G01J1/0411 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4204

Abstract: 本发明描述了一种晶圆级光学器件、系统和方法，其包括基板、设置在基板上的电子器件、设置在电子器件上的照明源、设置在基板上的外壳，其中外壳包括至少一个光学表面并且覆盖电子器件和照明源，和设置在基板的远离电子器件的一侧上的至少一个焊球。在实施方式中，一种使用采用了本公开的技术的晶圆级光学器件和透镜集成封装系统的方法，包括：接收基板，将电子器件放置在基板上，将照明源放置在电子器件上以及将外壳放置在基板上，其中外壳覆盖电子器件和照明源，并且外壳和壁结构形成第一隔室和第二隔室。

公开(公告)号：CN104220838A

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：CN201280071825.1

申请日：2012-03-28

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 青木隆浩

IPC: G01B11/00 ,  G01C3/06

CPC classification number: G01B11/002 ,  G01B11/026 ,  G01J1/08 ,  G01J1/42 ,  G01S17/46

Abstract: 本发明提供一种拍摄装置，该拍摄装置的特征在于，具备拍摄被摄体的拍摄元件，以及将光照射到上述被摄体的多个光源，上述光源的光轴相对于上述拍摄元件的光轴向外侧倾斜。

公开(公告)号：CN102341645B

公开(公告)日：2014-02-19

申请号：CN201080010798.8

申请日：2010-01-28

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 中村笃 ,  南功治

IPC: G02B27/00

CPC classification number: G01N21/8806 ,  F21S8/006 ,  G01J1/08 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/12 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G01N2021/9511 ,  G02B6/0018 ,  G02B6/0038 ,  G02B19/0028 ,  G02B19/0047 ,  G02B27/0994

Abstract: 本发明提供一种照射具有期望的光谱、且方向性被控制的光的光照射装置。本发明所涉及的光照射装置(100)包括光源(101)、导光体(107)、光谱调制用构件(104)，导光体(107)将从光源(101)入射的光从入射面引导至其内部，使该光在导光体(107)的侧面反射，将方向性被控制的光从出射面出射，光谱调制用构件(104)使方向性被控制的所述光的、特定的波长带的光谱衰减，在导光体(107)中，所述入射面小于所述出射面，在导光体(107)的出射面侧包括光谱调制用构件(104)。

公开(公告)号：CN103487139A

公开(公告)日：2014-01-01

申请号：CN201210192083.X

申请日：2012-06-12

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 朱钧 ,  朱景雷 ,  姜开利 ,  冯辰 ,  魏继卿 ,  金国藩 ,  范守善

IPC: G01J1/04

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/4257 ,  G01J1/58 ,  G01J2001/4247

Abstract: 一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列，并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面；用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出可见光；提供一反射镜，使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射；以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像，并读出待测光源的光强分布。