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公开(公告)号:CN104501954B
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201410756105.X
申请日:2014-12-10
Applicant: 四川大学
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0224 , G01J3/2889 , G01J11/00
Abstract: 本发明提供的基于脉冲同步测量技术的光谱特性测试仪,包括同步控制器、脉冲光源、高速采集卡、计算机系统、第一光电探测器、第二光电探测器和测试光路系统;所述同步控制器有四个输出端,其中两个输出端一个与脉冲光源相连,另一个与计算机相连。同步控制器的另外两个输出端分别与高速采集卡的两个通道相连,对应输出的两路信号分别作为两个通道的外触发信号,用于控制高速采集卡采集对应两个通道中的信号;所述高速采集卡的两个通道同时分别与第一光电探测器和第二光电探测器连接。该测试仪可以精确测量宽波长范围、宽脉宽范围的光脉冲信号。
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公开(公告)号:CN105606232A
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201610058149.4
申请日:2016-01-28
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本申请提供了一种探测光信号的实现方法及系统,设置至少一个光探测阵列,每个光探测阵列包括多个单光子雪崩二极管,控制选定的目标单光子雪崩二极管进入工作状态探测光信号,并在目标单光子雪崩二极管接收到光子,从工作状态进入重启状态时,通过重新选定当前处于非工作状态的任意一个单光子雪崩二极管作为新的目标单光子雪崩二极管,按照上述方式继续探测光信号,如此循环,从而保证在任意时刻都有一个单光子雪崩二极管在探测光信号,提高了系统的光信号探测性能,避免漏掉本应该探测到的光子,消除了单光子雪崩二极管的死时间对光信号探测的不利影响。
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公开(公告)号:CN104942429A
公开(公告)日:2015-09-30
申请号:CN201510136956.9
申请日:2015-03-26
Applicant: 发那科株式会社
Inventor: 和泉贵士
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J11/00 , H01S3/08045 , H01S3/097 , H01S3/101 , H01S3/13 , H01S3/139 , B23K26/00 , B23K26/0648 , H01S3/134
Abstract: 提供能够以更低的成本来判断是否适当地输出了激光的光束分析仪、激光振荡器以及激光加工装置。光束分析仪具备部分反射镜(24)、受光部(30、28、26)以及分别安装于该受光部(26、28、30)的激光强度传感器(50、52、54)。受光部(30、28、26)具有:第一受光部(30),其接收激光(22’)的激光照射区域(22a’)中的包括激光(22’)的光轴(O1)的第一区域(22b)的光;以及第二受光部(28),其与第一受光部(30)热绝缘,接收激光照射区域(22a’)的与第一区域(22b)不同的第二区域(22c)的光。
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公开(公告)号:CN104641580A
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201380048024.8
申请日:2013-09-12
Applicant: 阿尔卡特朗讯
Inventor: 琼-盖伊·普洛佛斯特 , 亚历山大·申
CPC classification number: H04B10/508 , G01J11/00 , H04B10/2575 , H04B10/532 , H04B10/548 , H04B10/614 , H04B10/615
Abstract: 一种用于通过线性光学采样使光学信号OS可视化的系统,其包括与脉冲信号SP处理相关的至少一个第一子系统及与光学信号OS处理相关的至少一个第二子系统。所述信号分解成被称为垂直及水平的两个正交偏振分量。所述脉冲信号SP分解成垂直分量Vsp及水平分量Hsp,且所述光学信号OS的横向磁传播模式TM及横向电传播模式TE分别产生垂直分量Vtm及Vte以及水平分量Htm及Hte。所述垂直分量及所述水平分量为时间移位的。所述脉冲信号SD及所述光学信号OS的所述垂直分量及所述水平分量为平行的。对垂直分量及水平分量的连续、同步检测使得可能采样通过电子处理可视化的信号OS。
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公开(公告)号:CN104089710A
公开(公告)日:2014-10-08
申请号:CN201410369996.3
申请日:2014-07-30
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00 , G06T3/0087 , G06T5/002
Abstract: 一种时空分辨的远场脉冲信噪比测量方法及装置,该装置包括平凸柱透镜、相关晶体、平凸圆透镜和信号接收系统,该信号接收系统依次包括光纤阵列、光电倍增管和数字示波器,该方法为:聚焦系统将待测光一维(x维度)聚焦至非线性晶体前表面;远场待测光束与取样光束在非线性晶体的两个横向空间维度(x-y)分别进行空间域和时间域的互相关作用;时空互相关产生沿空间分布的二维相关信号;成像系统将相关信号两维成像至接收系统探测面;信号接收系统高动态地测量相关信号x和y维度的强度分布。本发明可以测量具有时空耦合特性的噪声并能够甄别噪声的具体来源,适用于测量和研究高峰值功率激光的远场脉冲信噪比。
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公开(公告)号:CN103733036A
公开(公告)日:2014-04-16
申请号:CN201280020289.2
申请日:2012-03-30
Applicant: 费姆托激光产品股份有限公司
Inventor: 格奥尔格·格哈德·保卢斯 , 马克斯韦尔·阿图尔·塞勒 , 蒂姆·拉特耶 , 马克斯·默勒 , 多米尼克·霍夫
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明的目标是能够对激光脉冲(包括多周期脉冲)进行特别是实时的快速CE相位评估。所述目标通过提供用于在相位上改变待评估的激光脉冲(7)的极化选通级(8)和用于测量所改变的激光脉冲的相位位置的随后的相位评估级(15)实现。本发明例如用在用于产生并监测单周期脉冲的激光技术中。
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公开(公告)号:CN102426062B
公开(公告)日:2013-06-12
申请号:CN201110288183.8
申请日:2011-09-26
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明属于激光技术领域,具体为一种基于准位相匹配的激光脉冲高保真度信噪比单次测量装置。该装置主要由取样光产生单元、高保真度非共线和频互相关单元和高灵敏度信号接收单元三部分构成。发明提出一种特殊的晶体设计,将其引入信噪比单次测量装置,作为非线性互相关晶体,将两类由相关过程引入的假信号分别移至窗口之外和主脉冲之后,从而消除了假信号对测量结果的影响,实现了对脉冲前沿信噪比的保真单次测量,同时不会对测量装置其它参数产生显著影响。本装置可适用于多种波长的高功率激光的信噪比测量。
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公开(公告)号:CN102636272A
公开(公告)日:2012-08-15
申请号:CN201210079324.X
申请日:2012-03-22
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/18 , G01J11/00 , G01J2003/1861 , G01J2003/451 , G02B19/0095 , G02B27/0988
Abstract: 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置,本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱,利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单,计算速度快的特点,不需要偏振光学元件,减少了入射激光色散,可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲;本发明可进行单次脉冲测量,可用于飞秒激光脉冲的实时监测,获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置,可优化飞秒激光脉冲输出。
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公开(公告)号:CN109682483A
公开(公告)日:2019-04-26
申请号:CN201910101971.8
申请日:2019-02-01
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种单发次皮秒激光脉冲波形测量装置。被测的皮秒激光脉冲方形光束经衍射光栅衍射扩束并产生脉冲前沿倾斜,再经柱状透镜组成的共焦系统扩束成方形光束,该方形光束被分光镜分成三路,其中两路从水平方向同时对称入射到非线性晶体Ⅰ进行倍频转换,产生的倍频光束与正交旋转后的第三路基频光束在竖直面上沿固定角度同时入射到非线性晶体Ⅱ进行和频转换,产生的三倍频光束经成像透镜后被CCD接收,CCD输出的双延迟三阶相关信号经过数据处理后即可获得脉冲波形信息。该装置采用衍射光栅进行扩束和脉冲前沿倾斜,加大了非线性晶体内进行频率转换的光束间的夹角,将测量范围从传统的几个皮秒扩大至百皮秒。该装置结构简单,调节方便。
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公开(公告)号:CN109632113A
公开(公告)日:2019-04-16
申请号:CN201910011927.8
申请日:2019-01-07
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 一种对比度单发测量装置,包括楔形分束片、高对比度取样光产生结构、第一反射镜、第一扩束器、第一柱面聚焦元件、二阶非线性晶体、第二反射镜、置于平移台上的第三反射镜和第四反射镜、第五反射镜、第二扩束器、第二柱面聚焦元件、条形衰减片、成像透镜、光谱滤波片和sCMOS相机。本发明具有结构紧凑且经济实用,取样光是基于三阶非线性过程获得,对比度高更高,因而测量结果更准确;同时因为采用sCMOS作为互相关信号光的采集装置,测量的时间分辨率更高。
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