ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS
    62.
    发明公开
    ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS 失效
    ELECTRO光学仪器。

    公开(公告)号:EP0426748A1

    公开(公告)日:1991-05-15

    申请号:EP89909026.0

    申请日:1989-07-25

    Abstract: Cette invention concerne un module (2) d'acheminement optique adapté pour une utilisation dans un microscope à lumière (1) pour l'analyse d'échantillons simultanément avec une source (10) primaire de lumière et une source (7) secondaire de lumière, de longueurs d'ondes différentes. Le module (2) comprend un logement sur lequel sont montés des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2 le long d'une trajectoire de faisceau lumineux primaire à travers le module, et comportant des moyens (5, 6) d'entrée et de sortie de faisceau lumineux secondaire situés à l'opposé des différents systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2, ayant une plage de longeur d'onde de fonctionnement prédéterminée définie entre des longueurs d'ondes transitionnelles de plan s et p, excluant sensiblement la bande de longueur d'onde de la source lumineuse primaire et de sorte qu'au moins un élément de plan polariseur de chacune de la source lumineuse secondaire et d'une sortie lumineuse secondaire provenant de l'échantillon est soumise à une transmission et une réflexion différentes de celles auxquelles la source lumineuse primaire est soumise au niveau de chacun des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PSB1, PSB2. Lesdits systèmes sont en outre formés et agencés pour définir une trajectoire de faisceau lumineux secondaire de l'entrée (5) à la sortie (6) de sorte que la trajectoire de faisceau lumineux secondaire soit sensiblement amenée en alignement avec une jambe située en dehors de la trajectoire dudit faisceau primaire en amont de l'échatillon, par ledit premier système polariseur de fractionnement des rayons PBS1, et est séparé en retour hors d'une jambe de retour de la trajectoire dudit faisceau lumineux primaire en aval de l'échantillon par ledit second système polariseur de fractionnement des rayons PBS2. Cet agencement permet lors de l'utilisation (2) dans un microscope à lumière (1), de contrôler la surface d'incidence d'un faisceau lumineux

    Single photon semiconductor avalanche photodiode and active quenching circuit assembly
    63.
    发明公开
    Single photon semiconductor avalanche photodiode and active quenching circuit assembly 失效
    用于单光子半导体AVALANCHE光电的主动熄灭电路,适用于远程位置的光电转换操作

    公开(公告)号:EP0365095A3

    公开(公告)日:1991-02-06

    申请号:EP89202618.8

    申请日:1989-10-17

    Inventor: Cova, Sergio

    CPC classification number: H03K17/74 G01J1/44 G01J2001/4466 H03K17/941

    Abstract: The quenching circuit comprises a signal comparator (CP) having a first input connected to the photodiode (SPAD) under control and a second input connected to a balancing impedance (C) equal to that of the photodiode. At the output of the comparator (CP) there is connected a signal generator (M), which generates a quenching signal (S) having a predetermined duration each time there is an imbalance between the two inputs of the comparator. Circuital switching means (I1, I2, I3, I4) are provided, capable of holding the bias voltage of the photodiode normally high and of lowering it below the breakdown level following the generation and for the entire holding time of said quenching signal.

    半導体受光モジュール
    64.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2018063350A

    公开(公告)日:2018-04-19

    申请号:JP2016201558

    申请日:2016-10-13

    Inventor: 見上 洋平

    Abstract: 【課題】仕様モジュール長が異なる場合にもなるべく設計変更をしなくともよいように改良された半導体受光モジュールを提供する。 【解決手段】半導体受光モジュール10は、ステム12と、ステム12に被せられたキャップ14と、キャップ14に重ねられたホルダ16と、ホルダ16に差し込まれたレセプタクル18とを備えている。ホルダ16は、キャップ14のレンズ35に被せられた本体部を有している。ホルダ16の本体部には、キャップ14の反対側から本体部を貫通してレンズ35に達する開口16aが設けられている。固定ネジ20が、ホルダ16に設けられたネジ穴16bに差し込まれ、固定ネジ20におけるネジ本体部20aのネジ先がレセプタクル18の側面に当接している。 【選択図】図1

    Photon detector
    67.
    发明专利
    Photon detector 有权
    光电探测器

    公开(公告)号:JP2011252919A

    公开(公告)日:2011-12-15

    申请号:JP2011162998

    申请日:2011-07-26

    CPC classification number: G01J1/44 G01J2001/442 G01J2001/4466 H04B10/697

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem of a single photon detector, where a signal output by the detection of a single photon is often weak and, in some cases, it is difficult to discriminate it from another artifact output from the detector.SOLUTION: A photon detection system includes: a photon detector (APD 51) configured to detect single photons; a signal divider (a power distributor 55) to divide the output signal of the photon detector into a first part and a second part, where the first part is substantially identical to the second part; a delay means (a delay line 56) to delay the second part with respect to the first part; and a combiner (a hybrid coupler 61) to combine the first part and the delayed second part of the signal such that the delayed second part is used to cancel periodic variations in the first part of the output signal.

    Abstract translation: 要解决的问题:为了解决单个光子检测器的问题,其中通过单个光子的检测输出的信号通常较弱,并且在一些情况下难以将其与另一个伪影输出区分开 探测器。 解决方案:光子检测系统包括:被配置为检测单个光子的光子检测器(APD 51); 信号分配器(功率分配器55),用于将光子检测器的输出信号分成第一部分和第二部分,其中第一部分基本上与第二部分相同; 延迟装置(延迟线56),用于相对于第一部分延迟第二部分; 以及组合器(混合耦合器61),以组合信号的第一部分和延迟的第二部分,使得延迟的第二部分用于消除输出信号的第一部分中的周期性变化。 版权所有(C)2012,JPO&INPIT

    APPARATUS FOR DETECTING ILLUMINATION LEVELS
    69.
    发明公开
    APPARATUS FOR DETECTING ILLUMINATION LEVELS 有权
    检测照度水平的装置

    公开(公告)号:EP3287813A1

    公开(公告)日:2018-02-28

    申请号:EP16185753.7

    申请日:2016-08-25

    Abstract: An apparatus comprising: at least one single photon avalanche diode pixel configured to operate in a first mode to output a digital single photon detection event, the pixel comprising: a single photon avalanche diode; and at least one output transistor configured to provide an analogue output current from the single photon avalanche diode, such that the at least one single photon avalanche diode pixel is further configured to operate in a second mode to output the analogue output current indicating a level of illumination of the pixel.

    Abstract translation: 1。一种装置,包括:至少一个单光子雪崩二极管像素,被配置为以第一模式操作以输出数字单光子探测事件,所述像素包括:单光子雪崩二极管; 以及至少一个输出晶体管,被配置为提供来自单光子雪崩二极管的模拟输出电流,使得所述至少一个单光子雪崩二极管像素还被配置为以第二模式操作以输出模拟输出电流,所述模拟输出电流指示 像素的照明。

    AVALANCHE PHOTODIODE OPERATING VOLTAGE SELECTION ALGORITHM

    公开(公告)号:EP2556540A4

    公开(公告)日:2018-02-07

    申请号:EP11766774

    申请日:2011-04-08

    Abstract: An accurate and rapid method for characterizing the performance of an APD and setting its operating voltage Vop to an optimal value uses an on-board LED or other pulsed light source to measure APD responses at different operating voltages Vop. An estimated breakdown voltage Vb is determined by comparing the measured responses, and the Vop is adjusted to a new value at a fixed offset from the estimated Vb. The fixed offset is selected according to ambient light conditions, including the presence or absence of light background noise, and whether the sun is partially or fully in the field of view. The method is iterated until convergence, or until a maximum number of iterations is reached. In embodiments, a plurality of APD's having a common Vop can be adjusted, and the Vop is never set below a minimum value VopBW necessary to meet timing requirements for a missile guidance system.

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