树脂识别装置
    63.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105842204A

    公开(公告)日:2016-08-10

    申请号:CN201610032448.0

    申请日:2016-01-18

    Inventor: 田中丰彦

    Abstract: 本发明提供一种可测定各种形状的试料的树脂识别装置。所述树脂识别装置设为如下构成:包括红外分光光度计及试料载置板(31)、试料载置板(32),所述红外分光光度计包括:红外光源部(10),对试料(S)照射红外光;红外光检测部(20),对从试料(S)反射的红外光的光强度信息进行检测;以及控制部(50),获取所述光强度信息;所述试料载置板(31)、试料载置板(32)包括开口(33);并且通过将试料(S)以堵塞开口(33)的方式载置在规定位置,使得红外光源部(10)对试料(S)的下表面照射红外光,红外光检测部(20)对通过试料(S)下表面而反射的红外光的光强度信息进行检测。

    ICP发光分光分析装置
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104931484A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510120573.2

    申请日:2015-03-19

    CPC classification number: G01N21/73 G01J3/0216 G01J3/024 G01J3/443

    Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种能够通过多个聚光部来除去存在于原子发光线周围的背景以谋求S/B比的提高的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)以及控制部(50)大致构成。聚光部(20)被配置在感应耦合等离子体发生部(10)与分光器(30)之间,具备第一聚光部(21)、第二聚光部(22)、在聚光部(20)与分光器(30)的边界部处的狭缝型入射窗(23)以及在第一聚光部(21)与第二聚光部(22)之间的入射狭缝(24)。通过设置至少两个聚光部(21、22)和入射狭缝(24),从而能够除去存在于原子发光线周围的背景以提高原子发光线的信号对背景之比(S/B)。

    测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计

    公开(公告)号:CN102859339B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201180019549.X

    申请日:2011-03-15

    Inventor: 鹤谷克敏

    Abstract: 本发明提供测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计。在本发明所涉及的测定探测器(40)中,利用第一扩散板(19)使测定光散射,当经由多个干涉膜滤光器(13A、14A、15A)而在多个受光传感器(13B、14B、15B)受光时,该光束经由第二扩散板(13C、14C、15C)而向各干涉膜滤光器(13A、14A、15A)入射。进而,这些干涉膜滤光器(13A、14A、15A)形成为,根据相对于朝向该干涉膜滤光器(13A、14A、15A)的入射光的入射角度的强度分布的条件,能够获得与测定参数对应的透过率特性。因此,本发明所涉及的测定探测器(40)能够使用干涉膜滤光器(13A、14A、15A),并能够降低基于其入射角度的对透过率特性的偏差的影响。

    测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计

    公开(公告)号:CN102859339A

    公开(公告)日:2013-01-02

    申请号:CN201180019549.X

    申请日:2011-03-15

    Inventor: 鹤谷克敏

    Abstract: 本发明提供测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计。在本发明所涉及的测定探测器(40)中,利用第一扩散板(19)使测定光散射,当经由多个干涉膜滤光器(13A、14A、15A)而在多个受光传感器(13B、14B、15B)受光时,该光束经由第二扩散板(13C、14C、15C)而向各干涉膜滤光器(13A、14A、15A)入射。进而,这些干涉膜滤光器(13A、14A、15A)形成为,根据相对于朝向该干涉膜滤光器(13A、14A、15A)的入射光的入射角度的强度分布的条件,能够获得与测定参数对应的透过率特性。因此,本发明所涉及的测定探测器(40)能够使用干涉膜滤光器(13A、14A、15A),并能够降低基于其入射角度的对透过率特性的偏差的影响。

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