用於顯示器測試之色度測量系統
    62.
    发明专利
    用於顯示器測試之色度測量系統 审中-公开
    用于显示器测试之色度测量系统

    公开(公告)号:TW201643389A

    公开(公告)日:2016-12-16

    申请号:TW105104185

    申请日:2016-02-05

    Abstract: 本發明係關於一種用於顯示器測試之在標準化色空間中之空間解析色度及耀度測量的改良方法,其包括:- 將光之第一部分定向至RGB相機,其產生RGB顏色值之二維圖;- 將RGB顏色值變換為第一三激值以產生三激值之圖;- 將光之第二部分定向至色度計,其產生第二三激值;- 藉由比較第二三激值與第一三激值的至少一子集來導出三色校正;及- 將三色校正應用至第一三激值以產生三激值的經校正圖;及一種能夠對自樣本上之複數個位置發射之光的三激值進行二維、空間解析測量的成像色度計系統。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于一种用于显示器测试之在标准化色空间中之空间解析色度及耀度测量的改良方法,其包括:- 将光之第一部分定向至RGB相机,其产生RGB颜色值之二维图;- 将RGB颜色值变换为第一三激值以产生三激值之图;- 将光之第二部分定向至色度计,其产生第二三激值;- 借由比较第二三激值与第一三激值的至少一子集来导出三色校正;及- 将三色校正应用至第一三激值以产生三激值的经校正图;及一种能够对自样本上之复数个位置发射之光的三激值进行二维、空间解析测量的成像色度计系统。

    分光画像取得装置
    63.
    发明申请
    分光画像取得装置 审中-公开
    光谱图像采集装置

    公开(公告)号:WO2016110952A1

    公开(公告)日:2016-07-14

    申请号:PCT/JP2015/050242

    申请日:2015-01-07

    Inventor: 堀江 原

    Abstract:  被写体の動きに対応して位置ズレを抑制した分光画像を生成することを目的として、本発明に係る分光画像取得装置(1)は、複数のライン分光画像を取得するライン分光画像取得部(7)と、該ライン分光画像取得部(7)による撮影範囲を含み、ライン分光画像よりも少ない色信号を含む2次元のフレーム画像を取得するフレーム画像取得部(6)と、ライン分光画像取得部(7)により取得された各ライン分光画像と、フレーム画像取得部(6)の波長特性とに基づいて、比較画像をライン毎に推定する比較画像推定部と、該比較画像推定部により推定された各比較画像と、フレーム画像内における対応位置との位置ズレ量を検出するライン分光画像位置ズレ検出部と、該ライン分光画像位置ズレ検出部により検出された位置ズレ量に基づいて、フレーム画像内の対応位置に、各比較画像を推定するために使用された各ライン分光画像を当てはめる位置ズレ補正部とを備える。

    Abstract translation: 在本发明中,为了产生根据被摄体的移动来抑制位置偏移的光谱图像,该光谱图像获取装置(1)包括:线光谱图像获取单元(7),其获取 多条线谱图像; 帧图像获取单元(6),其获取包括由所述线谱图像获取单元(7)使用的图像拾取范围并且包括比所述线光谱图像少的颜色信号的2D帧图像; 比较图像估计单元,其基于由所述线谱图像获取单元(7)获取的每个线谱图和所述帧图像获取单元(6)的波长特性来估计每行的比较图像; 行频谱图像位置检测单元,其检测由所述比较图像估计单元估计的各比较图像与所述帧图像内的对应位置之间的位置偏移量; 以及位置偏移校正单元,其基于由所述线分光图像位置检测单元检测到的位置位移量,将用于估计每个比较图像的每个线谱图像应用于帧图像内的对应位置。

    モニター可能な分光計測装置
    64.
    发明申请
    モニター可能な分光計測装置 审中-公开
    可监测光谱测量装置

    公开(公告)号:WO2012057254A1

    公开(公告)日:2012-05-03

    申请号:PCT/JP2011/074783

    申请日:2011-10-27

    Abstract: モニター可能な分光計測装置は、測定対象Smから光学系30、スリット-ミラーブロック21のスリット部23を介して分光器本体25に到る第1の光路L1と、測定対象Smから光学系30、スリット-ミラーブロック21の鏡面22を介して2次元撮像装置40に到る第2の光路L2が設けられる。スリット部23と分光器本体25は一体となって分光部20を構成する。

    Abstract translation: 可监视光谱测量装置设置有通过光学系统(30)和光学系统(30)的狭缝部分(23)从被测量物体(Sm)延伸到光谱仪主体(25)的第一光路(L1) 狭缝镜块(21)和通过光学系统(30)从待测物体(Sm)延伸到二维成像单元(40)的第二光路(L2)和镜面(22) 的缝隙镜块(21)。 狭缝部(23)和光谱仪主体(25)彼此一体地形成光谱测量单元(20)。

    MULTI-SPECTRAL SENSOR
    65.
    发明申请
    MULTI-SPECTRAL SENSOR 审中-公开
    多光谱传感器

    公开(公告)号:WO2009106316A3

    公开(公告)日:2009-12-03

    申请号:PCT/EP2009001346

    申请日:2009-02-25

    Abstract: The invention relates to a multi-spectral image sensor having a two-dimensional array of super-pixels, wherein each super-pixel has at least five sensor elements (11), each comprising a pixel sensor (14), a filter structure (12) having at least one structured layer made of metal or polycrystalline semi-conductor material, which, in response to the electromagnetic radiation of a wavelength region, results in a higher transmission through the filter structure to the pixel sensor (14) than wavelengths surrounding the wavelength region, wherein the at least five sensor elements (12) are jointly integrated on a semi-conductor substrate (16) and are configured on different wavelength regions in pairs.

    Abstract translation: 具有超像素的二维阵列阿多光谱图像传感器,每个超像素具有至少五个传感器元件(11)各自具有金属或多晶半导体材料的至少一个图案化层,电磁辐射的响应的像素传感器(14),过滤器结构(12) 波长范围内产生较高的透射率通过过滤器结构的像素传感器(14),比周围的波长,其特征在于,该至少5个传感器元件(12)的半导体衬底(16)共同在被集成并成对地配置在不同的波长范围的波长范围。

    METHOD OF ANALYZING A REMOTELY-LOCATED OBJECT UTILIZING AN OPTICAL TECHNIQUE TO DETECT TERAHERTZ RADIATION
    66.
    发明申请
    METHOD OF ANALYZING A REMOTELY-LOCATED OBJECT UTILIZING AN OPTICAL TECHNIQUE TO DETECT TERAHERTZ RADIATION 审中-公开
    利用光学技术分析测定TERAHERTZ辐射的远程定位物体的方法

    公开(公告)号:WO2007079342A3

    公开(公告)日:2007-10-11

    申请号:PCT/US2006062091

    申请日:2006-12-14

    Abstract: A method of analyzing a remotely-located object includes the steps of inducing a volume of an ionized ambient gas (614) to emit pulsed terahertz radiation (615) directed toward a targeted object (616) by focusing an optical pump beam (612) in the volume and ionizing another volume of the ambient gas to produce a sensor plasma (626) by focusing an optical probe beam (624) in the other volume of ambient gas. The interaction, in the sensor plasma (626), of the focused optical probe beam (624) and an incident terahertz wave (618), which is produced by the targeted object (616) reflecting, scattering, or transmitting the pulsed terahertz radiation (615), produces a resultant radiation (628). Detecting an optical component of the resultant radiation (628) emitted by the sensor plasma (626) facilitates detection of a signature of the targeted object (616) imposed onto the incident terahertz radiation (618).

    Abstract translation: 一种分析位于远处的物体的方法包括以下步骤:通过将光泵浦光束(612)聚焦成电离环境气体(614)的体积来引发朝向目标物体(616)的脉冲太赫辐射(615) 通过将光学探针束(624)聚焦在另一体积的环境气体中来产生体积并电离另一体积的环境气体以产生传感器等离子体(626)。 传感器等离子体(626)中由目标物体(616)产生的聚焦光学探测束(624)和入射太赫兹波(618)的相互作用,反射,散射或透射脉冲太赫兹辐射( 615)产生合成辐射(628)。 检测由传感器等离子体(626)发射的合成辐射(628)的光学分量便于检测施加到入射太赫兹辐射(618)上的目标物体(616)的签名。

    SPECTROMETRY WITH REDUCED POLARIZATION AND MULTIPLE-ELEMENT DEPOLARIZER THEREFOR
    67.
    发明申请
    SPECTROMETRY WITH REDUCED POLARIZATION AND MULTIPLE-ELEMENT DEPOLARIZER THEREFOR 审中-公开
    具有降低偏振度和多元素分光光度的光谱

    公开(公告)号:WO2003062774A1

    公开(公告)日:2003-07-31

    申请号:PCT/US2003/000362

    申请日:2003-01-07

    Abstract: A birefringent plate depolarizer (71) functions as a polarization-scrambling element and varies polarization with wavelength. One such depolarizer comprises more than two (e.g., three) plates (73, 74, 75), where all the plates are of substantially different thickness and rotation angle (α1, α2) of their ordinary axis (77, 78, 79). A depolarizer (222) of this kind may be incorporated within a small-spot imaging, spectrometry instrument (200) between the polarization-introducing components of the system, such as the beamsplitter (215), and the microscope objective (224) of the system. Sinusoidal perturbation in the resulting measured spectrum can be removed by data processing techniques or, if the depolarizer is thick or highly birefringent, the perturbation may be narrower than the wavelength resolution of the instrument.

    Abstract translation: 双折射板去极化器(71)用作偏振加扰元件并且利用波长改变偏振。 一个这样的消偏振器包括多于两个(例如三个)板(73,74,75),其中所有板具有基本上不同于其普通轴(77,78,79)的厚度和旋转角(α1,α2)。 这种去极化器(222)可以并入系统的偏振引导部件(例如分束器215)和显微镜物镜(224)之间的小点成像,光谱仪器(200)内。 系统。 可以通过数据处理技术去除所得测量光谱中的正弦扰动,或者如果消偏振器是厚的或高度双折射的,则扰动可能比仪器的波长分辨率窄。

    HEMISPHERICAL DETECTOR
    69.
    发明申请
    HEMISPHERICAL DETECTOR 审中-公开
    化学检测器

    公开(公告)号:WO02040951A2

    公开(公告)日:2002-05-23

    申请号:PCT/US2001/048163

    申请日:2001-10-30

    Abstract: A hemispherical detector comprising a plurality of photodetectors (12) arranged in a substantially contiguous array, the array being substantially in the shape of a half-sphere, the half-sphere defining a closed end (50) and an open end (60), the open end (60) defining a substancially circular face. Also provided is a method for constructing a hemispherical detector comprising the steps of making a press mold of the desired shape of the hemispherical detector, pouring a material into the press mold to form a cast, finishing the cast to remove any defects, coating the cast with a coating material, and attaching a plurality of photodetectors to the cast.

    Abstract translation: 一种半球形检测器,包括以基本上邻接的阵列布置的多个光电检测器(12),该阵列基本上为半球形,半球限定封闭端(50)和开口端(60), 所述开口端(60)限定基本圆形的面。 还提供了一种用于构造半球形检测器的方法,包括以下步骤:制造半球形检测器所需形状的压模,将材料注入压模中以形成铸件,精加工铸件以除去任何缺陷,涂覆铸件 涂覆材料,并将多个光电检测器附接到铸件上。

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