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公开(公告)号:CN104508457B
公开(公告)日:2017-05-24
申请号:CN201380040934.1
申请日:2013-07-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/0267 , G01J3/0291 , G01J3/108 , G01J3/42 , G01J2003/102
Abstract: 本发明提供容易使用终端装置的分光光度计。本发明的分光光度计(1)的特征在于,具有:具有光源的光学系统部(3)、与上述光学系统部(3)邻接地设置并对试样进行保持的试样保持部(4)、以及对上述光学系统部(3)以及上述试样保持部(4)进行收放的壳体(2),在形成上述壳体(2)的上表面的上表面部(21)具备至少能够供板状的部件载置且能够沿着从上述上表面部(21)分离的方向立起的支撑部件(22)。上述分光光度计(1)优选经由铰链(H)将上述支撑部件(22)的下端部(22u)安装于上述上表面部(21),优选在上述支撑部件(22)以及上述上表面部(21)具备将上述支撑部件(22)的立起角度固定为预先设定的角度的固定机构(23)。作为上述板状的部件,优选具备无线或者有线连接的终端装置(D)。
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公开(公告)号:CN106574869A
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201580044578.X
申请日:2015-07-09
Applicant: 光谱传感器公司
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/027 , G01J3/42
Abstract: 至少一个光源被配置成向吸收介质的样品体积中发射光束。另外,至少一个检测器被定位以检测由至少一个光源发射的至少部分光束。此外,至少一个光束调整元件被定位在所述至少一个检测器和所述至少一个光源之间,以选择性地改变由至少一个检测器检测到的、由至少一个光源发射的所述光束的(i)功率强度,或者(ii)形状中的至少一个。控制电路被耦合至所述光束调整元件。描述了相关装置方法、生产的物品、系统等等。
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公开(公告)号:CN103348270B
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201280008223.1
申请日:2012-02-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G02B5/0808 , B29C43/021 , B29C43/36 , B29D11/00769 , B29L2011/0016 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J2003/1852 , G02B5/00 , G02B5/10 , G02B5/18 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861 , Y10T428/24521
Abstract: 本发明的光学元件(1)具备于表面(2a)形成有凹部(3)的基材(2),及配置于基材(2)上的成形层(4)。成形层(4)具有自凹部(3)的深度方向观察的情形下位于凹部(3)内的本体部(5)、及在与本体部(5)连接的状态下位于基材(2)的表面(2a)上的攀爬部(6)。于本体部(5)中在与凹部(3)的底面(3b)对向的曲面(4b)上,设置有光学功能部(10)。
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公开(公告)号:CN103582805B
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201280018232.9
申请日:2012-03-27
Applicant: 努拜欧有限公司
IPC: G01J3/12
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0248 , G01J3/0291 , G01J3/06 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J3/4406 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N21/6456
Abstract: 本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件,其中该系统包括:包括色散元件的光具组;以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光,或在激发之后作为荧光从样品发射的光。
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公开(公告)号:CN105793706A
公开(公告)日:2016-07-20
申请号:CN201480064887.9
申请日:2014-10-09
Applicant: 新加坡国立大学
Inventor: 迪特尔·威廉·特劳
IPC: G01N33/543 , B01L3/02 , G01N33/53
CPC classification number: G01N21/0303 , G01J1/0422 , G01J3/0216 , G01J3/0291 , G01N21/8507 , G01N2021/0321 , G01N2021/0346 , G01N2201/0221 , G01N2201/08
Abstract: 一次性光度测量端头包括聚合物端头,聚合物端头具有毛细管填充通道、充当光输入耦合部的波导通道和充当光输出耦合部的波导通道,毛细管填充通道在聚合物端头的远端具有开口,每个波导通道在毛细管填充聚合物端头的近端具有开口,其中,毛细管填充通道、充当光输入耦合部的波导通道和充当光输出耦合部的波导通道彼此连接。
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公开(公告)号:CN105460366A
公开(公告)日:2016-04-06
申请号:CN201511001493.1
申请日:2015-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21F5/12 , F16P3/08 , G01J3/0291 , G01J3/44 , G01N21/35 , G01N21/65 , G01N2201/0225 , B65D43/20 , B65D43/22 , B65D85/68
Abstract: 本发明提供一种防护装置,其包括:滑门以及壳体,所述滑门与所述壳体构成密闭空间,其中,在所述壳体上设置导轨,所述滑门在所述导轨上滑动,使得所述密闭空间被打开或关闭。此外,本发明还提供一种包括上述防护装置的激光拉曼安检仪。
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公开(公告)号:CN102901562B
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:CN201210260839.X
申请日:2012-07-25
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 吉泽隆彦
IPC: G01J3/26
CPC classification number: G01J3/427 , B81C1/00007 , B81C1/00126 , B81C1/0015 , G01J3/0278 , G01J3/0291 , G01J3/513
Abstract: 本发明提供倾斜结构体、倾斜结构体的制造方法、以及分光传感器。倾斜结构体的制造方法包括:在基板的上方形成牺牲膜的工序(a);在牺牲膜的上方形成第一膜的工序(b);形成第二膜的工序(c),所述第二膜包括:与基板连接的第一部分、与第一膜连接的第二部分、位于上述第一部分和上述第二部分之间的第三部分;去除牺牲膜的工序(d);在工序(d)之后使第二膜的上述第三部分弯曲,从而使第一膜相对于基板而倾斜的工序(e)。
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公开(公告)号:CN105075252A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201380074856.7
申请日:2013-08-16
Applicant: LG电子株式会社
IPC: H04N9/64
CPC classification number: G09G3/006 , F16B47/00 , G01J3/0202 , G01J3/0291 , G01J3/506 , G06F3/04897 , G09G2320/0693 , G09G2360/145 , G09G2360/147
Abstract: 公开了一种被构造成对显示设备的屏幕的色彩进行校准的校准器,该校准器包括:由可变形材料形成的吸附板,该吸附板包括以真空吸附方法附装至所述显示设备的所述屏幕的底表面;控制部分,该控制部分被构造成使所述吸附板的第一部分从所述显示设备的所述屏幕离开而留出空间;固定部分,该固定部分被构造成将所述吸附板的第二部分紧密地挤压至所述显示设备的屏幕;旋转部分,该旋转部分被构造成在水平方向上以可旋转的方式联接至所述固定部分并且在其被旋转时使所述控制部分在所述显示设备的竖直方向上移动;以及电路单元,该电路单元安装在所述固定部分中以对所述显示设备的色彩进行校准,从而该校准器可以被固定在屏幕的精确位置中,并且能够精确地执行屏幕校准,并且该校准器能够甚至被附装至倾斜屏幕而广泛使用。
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公开(公告)号:CN104977273A
公开(公告)日:2015-10-14
申请号:CN201510162293.8
申请日:2015-04-07
Applicant: 仕富梅集团公司
Inventor: 瓦西里·卡西乌斯蒂克 , 马丁·洛佩斯
CPC classification number: G01J3/0237 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N2021/399 , G01N2201/024 , G01N2201/0612 , G01N2201/068 , G02B27/1006
Abstract: 本发明涉及用于光源、探测器与分析器的附接与对准装置,以及模块分析系统,并且提供了一种用于结合光学分析系统的两个或多个单独部件的设备,以使用跨越诸如栈、燃烧室、导管或管道的测量空间的光学测量的共同入口与出口穿孔,从而以从相应的光源到探测器的光学路径基本上相同的方式,使得在诸如温度与压力分布和背景物质浓度的等效周围环境条件的情况下能够在单个光学路径或紧密对准的光学路径上方进行多个光学测量。此设备与形成模块系统的一组相互可连接的设备是有用的,例如,在吸收光谱中,诸如用于测量在测量体积中的流体的化学组分的数量分数。
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公开(公告)号:CN104833634A
公开(公告)日:2015-08-12
申请号:CN201510303622.6
申请日:2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor: 石丸伊知郎
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光测量装置具备:分割光学系统,其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束;成像光学系统,其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉;光程差赋予单元,其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布;检测部,其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素;处理部,其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图,通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱;共轭面成像光学系统,其配置在被测量物与分割光学系统之间,具有与该分割光学系统共用的共轭面;以及周期性赋予单元,其配置于共轭面,对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。
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