公开(公告)号：CN1551978A

公开(公告)日：2004-12-01

申请号：CN02817331.7

申请日：2002-07-01

Applicant: 普莱克斯技术有限公司

Inventor： M·L·马尔楚斯基 ,  J·韦格尔兹恩 ,  W·D·马丁

IPC: G01J3/30

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/443

Abstract: 一种分析仪，用于在超高纯度应用中进行连续气体分析。分析仪包含弱光发射源和气体发射光谱仪(10)，所述光谱仪含有用作检测器的电荷耦合器件(CCD)二极管阵列。该CCD阵列替代通常用在光谱仪中的一个或者多个光电倍增管和窄带通滤光器。所述分析仪执行各种处理操作来评价和消除背景光强或者暗光谱的影响。

公开(公告)号：CN1502096A

公开(公告)日：2004-06-02

申请号：CN01817977.0

申请日：2001-10-26

Applicant: 科学应用国际公司

Inventor： 爱德华·维克托里·乔治 ,  罗杰·拉弗内·约翰逊 ,  艾伯特·迈伦·格林 ,  纽厄尔·孔韦尔·韦思

IPC: G09G3/10 ,  H01J1/62 ,  H01J63/04

CPC classification number: H01J11/18 ,  G01J1/4257 ,  G01J3/443 ,  G09G3/288 ,  G09G2300/0426 ,  G09G2300/0439 ,  G09G2300/08 ,  H01J17/49 ,  H01J61/30 ,  H01J61/305

Abstract: 本发明公开了一种改进的发光板，它具有多个微型部件(40)，所述微型部件至少部分地设置在插孔(30)内，并被夹在两衬底(10，20)之间。每个微型部件(40)都包括气体或气体混合物，在借助至少两个电极给微型部件施加电压时，所述气体或气体混合物能够电离。

公开(公告)号：CN1489685A

公开(公告)日：2004-04-14

申请号：CN01821887.3

申请日：2001-11-29

Applicant: 赖特温德公司

Inventor： 加里·鲍威尔 ,  理查德·L·哈泽德

IPC: G01J3/30 ,  G01J3/443 ,  G01N21/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/443 ,  G01N1/2226 ,  G01N21/15 ,  G01N21/68

Abstract: 本发明多个方面提供创新的方法和装置，用于对气体取样，激发取样的气体以发射射线，并根据发射的射线实时检测发射光谱的多个波带。可根据所检测的波带，调节用于激发取样气体的能量。可根据检测的波带，实时控制过程。可利用创新的界面，以显示检测的部分波带。一基准气体的已知流量可包含在基准气体的流量中，并确定未知流量气体的未知流量。

公开(公告)号：CN109211878A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201810711726.4

申请日：2018-07-03

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 本间紘次郎 ,  桐山健太郎 ,  山田泰史

IPC: G01N21/67 ,  G01N21/66 ,  H05H1/24

CPC classification number: G01N21/73 ,  G01J3/28 ,  G01J3/443 ,  G01J2003/2866 ,  G01N1/28 ,  G01N21/67 ,  G01N21/69 ,  G01N2001/2893 ,  G01N21/66 ,  H05H1/24

Abstract: 本发明提供等离子体分光分析方法。向检体添加与分析对象金属成分不同的对照用金属成分，以形成已知浓度，并向导入了该检体的测定容器中的一对电极施加电流，将上述检体中的分析对象金属成分及对照用金属成分浓缩到一个电极的附近，然后向上述一对的电极施加电流而产生等离子体，并检测所产生的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分的发光，并由通过该检测而得到的发光谱，利用与上述对照用金属成分对应的波长即对照波长中的净发光量即对照发光量来校正与上述分析对象金属成分对应的波长即分析波长中的净发光量即分析发光量，将该校正的值与在预先已知的浓度的分析对象金属成分的测定中得到的校准线比较，由此对该分析对象金属成分进行定量。

公开(公告)号：CN108303759A

公开(公告)日：2018-07-20

申请号：CN201711240504.0

申请日：2017-11-30

Applicant: 光行科技株式会社

Inventor： 元俊镐 ,  李道永 ,  崔庚鹤 ,  崔安植

IPC: G02B5/20 ,  G02B5/28 ,  B01L3/00 ,  B01L7/00 ,  G01N21/01 ,  G01N21/64 ,  C12M1/38 ,  C12M1/34 ,  C12M1/00

CPC classification number: G01N21/6428 ,  B01L3/50851 ,  C12Q1/686 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/468 ,  G01N21/21 ,  G01N2021/6471 ,  G02B5/223 ,  G02B5/20 ,  B01L3/5027 ,  B01L7/52 ,  B01L2200/10 ,  B01L2200/147 ,  B01L2300/0627 ,  G01N21/01 ,  G01N21/64 ,  G01N2021/6463 ,  G02B5/28

Abstract: 一种广角发射滤光器包括基质、光刻胶和着色剂。基质具有平坦的形状，并且包括透明材料。基质不会通过激发光产生荧光或磷光。光刻胶设置在基质中。光刻胶通过选自热硬化、光硬化和晾干中的至少一种方法固定为固态。着色剂设置在基质中，并且包括具有预定波长范围的光。广角发射滤光器无论激发光的入射角如何都过滤激发光。

公开(公告)号：CN107110769A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580071673.9

申请日：2015-12-04

Applicant: 赛默科技便携式分析仪器有限公司

Inventor： 王培栋 ,  李浩文 ,  孙嵘 ,  M·布什

IPC: G01N21/15 ,  G01N21/71

CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0262 ,  G01N21/15 ,  G01N21/718

Abstract: 一种用于激光诱导击穿光谱(LIBS)的设备(100)，包括：样本腔室(112)；激光源(115)，其连接到激发光学件组合件(120)，所述激发光学件组合件(120)连接到所述样本腔室(112)上的第一端口(132)；准直器组合件(125)，其连接到光谱仪(130)，所述准直器组合件(125)连接到所述样本腔室(112)上的第二端口(135)；以及定位在所述第一端口(132)上的第一透镜管(150)和定位在所述第二端口(135)上的第二透镜管(155)，所述第一透镜管(150)保护连接到所述激发光学件组合件(120)的所述第一端口(132)且所述第二透镜管(155)保护连接到所述准直器组合件(125)的所述第二端口(135)免受在来自所述激光源(115)的激光脉冲烧蚀目标样本(145)的表面并产生等离子体时发射的粒子的损害。所述保护可替代地由定位在所述第一端口(132)和所述目标样本(145)之间的透明分区(260)提供。

公开(公告)号：CN107107122A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580045277.9

申请日：2015-06-19

Applicant: TSI公司

Inventor： 史蒂文·G·巴克利 ,  达瑞克·L·尼库姆

IPC: B07C5/342 ,  B07C5/36 ,  G01N21/71 ,  G01J3/443

CPC classification number: G01N21/718 ,  B07C5/3425 ,  B07C5/365 ,  B07C2501/0018 ,  B07C2501/0036 ,  G01J3/443

Abstract: 文中描述了一种LIBS测量系统，该LIBS测量系统提供了位于大致V形的斜槽或套管中的孔口、孔或开口，所述孔口、孔或开口允许从所述斜槽的底部接近待分析的材料。激光束穿过所述孔对准，光电探测器组件收集穿过所述孔而返回的光（信号）。在收到启动信号之后，位于所述斜槽的输出端处的分流器设备使某些颗粒从所述斜槽分流。

公开(公告)号：CN105572102B

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610029402.3

申请日：2016-01-15

Applicant: 清华大学深圳研究生院

Inventor： 王希林 ,  王晗 ,  叶蔚安 ,  贾志东

IPC: G01N21/71

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01J3/443 ,  G01N21/952 ,  H01B3/28 ,  H01B3/46

Abstract: 一种复合绝缘材料老化状态检测方法，包括以下步骤：S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点，产生等离子体，并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度；S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息，由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标，其至少包括特征谱线的谱线强度特征；S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系；S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系，确定复合绝缘材料的老化状态信息，老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测，且避免以往所需的破坏性试验。

公开(公告)号：CN106461463A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580025951.7

申请日：2015-04-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 江浦茂 ,  铃木健吾 ,  池村贤一郎 ,  井口和也

IPC: G01J3/443 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/12753

Abstract: 光测量装置向配置有试样的积分球内输入激发光，使激发光以规定的光束截面照射至试样，并利用光检测器检测来自积分球的测量光而取得试样的强度数据。光测量装置包括：存储部，其存储有修正数据；及光特性计算部，其基于试样的强度数据及修正数据，计算出试样的光特性。修正数据基于对第1光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第1修正用强度数据、以及对第2光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第2修正用强度数据而计算出。规定的光束截面被第1光吸收构件覆盖并且覆盖第2光吸收构件。

公开(公告)号：CN106323947A

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201610876880.8

申请日：2016-10-08

Applicant: 浙江全世科技有限公司

Inventor： 刘文龙 ,  应仰威 ,  赖晓健 ,  陈挺 ,  郭淳

IPC: G01N21/73 ,  G01J3/443

CPC classification number: G01N21/73 ,  G01J3/443

Abstract: 本发明提供了一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法，包括：步骤1，对初测区域进行N个观测位置的待测波长光谱强度数据进行采集获得光谱强度初测矩阵R；根据所述观测位置的预设精度λ生成全观测区域的单位矩阵；步骤2，根据光谱强度初测矩阵R和全观测区域的单位矩阵A进行空间插值算法获得全观测区域内光谱强度预测模型M，所述M的每个元素包括一个坐标和对应坐标上的光谱强度值；步骤3，求解全观测区域内光谱强度预测模型M中光谱强度最大的元素MAX，根据该光谱强度最大的元素MAX获得的坐标为最佳观测位置。有效地提高了仪器的分析效率，减少了对标准样品、气体等资源消耗，有效降低了仪器的使用成本。