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公开(公告)号：KR1020150005702A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：KR1020147033943
申请日：2012-05-02
Applicant: 윌코아게
CPC classification number: G01N21/3504 , G01M3/226 , G01M3/38 , G01N21/031 , G01N33/0036 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697 , G01N2201/0698
Abstract: 본 발명은, 특히 3.30 내지 3.5 μm 범위의 레이저 광을 이용하여, 기상 샘플 내의 추진제의 존재를 검출하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다. 추진제는 프로판, n-부탄, i-부탄, 디메틸 에테르, 메틸 에틸 에테르, HFA 134a, HFA 227, 또는 필요한 파장 범위에서 흡수를 보이는 임의의 다른 추진제일 수 있다. 상기 추진제의 존재는 시험 광 펄스의 진폭을 기준 광 펄스의 진폭과 비교함으로써 검출된다. 본 발명은 또한, 현존하는 시험 방법을 대치할 수 있는 고속 높은 정확도의 누출 검출을 가능하게 하는, 에어로졸 또는 연료 캐니스터와 같은 추진제 포함 용기의 누출 시험에 이러한 방법을 적용하는 것에 관한 것이다.
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公开(公告)号：KR1020100099040A
公开(公告)日：2010-09-10
申请号：KR1020097013388
申请日：2007-12-06
Applicant: 록히드 마틴 코포레이션
Inventor： 로레인,피터윌리엄 , 하워드,도날드로버트 , 링거마체르,헨리이스라엘 , 두보이스,마크 , 드레이크,토마스이.주니어.
CPC classification number: G01N21/1717 , G01N21/1702 , G01N21/718 , G01N21/8851 , G01N25/72 , G01N29/228 , G01N29/2418 , G01N2021/1706 , G01N2021/8472 , G01N2201/0697 , G01N2291/0231
Abstract: 표적 물질(216)의 내부 구조를 검사하기 위해 검사 시스템(200)이 제공된다. 이 검사 시스템은 발생 레이저(210)와, 초음파 검출 시스템(220, 226, 228, 230)과, 열 이미징 시스템(234)과, 프로세서/제어 모듈(232)을 포함한다. 상기 발생 레이저(210)는, 표적 물질(216)에서 초음파 변위 및 열 과도부를 유도하는 펄스형 레이저 빔(212)을 생산한다. 초음파 검출 시스템은 표적 물질(216)에서 초음파 표면 변위를 검출한다. 상기 열 이미징 시스템(234)은 표적 물질(216)에서의 열 과도부를 검출한다. 프로세서(232)는 표적 물질(216)의 검출된 초음파 변위와 열 이미지 모두 분석하여, 표적 물질의 내부 구조에 관한 정보를 생산할 수 있다. 상기 표적 물질(216)은 복합 물질을 포함하는 것이 바람직하다.
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公开(公告)号：KR1020050109925A
公开(公告)日：2005-11-22
申请号：KR1020057013165
申请日：2004-01-11
Applicant: 네거브테크 리미티드
CPC classification number: G01N21/9501 , G01N21/8806 , G01N21/95607 , G01N21/95623 , G01N2021/479 , G01N2021/8825 , G01N2201/0697 , G01N2201/0826
Abstract: Fast on-line electro-optical detection of wafer defects by illuminating with a short light pulse from a repetitively pulsed laser, a section of the wafer while it is moved across the field of view of an imaging system, and imaging the moving wafer onto a focal plane assembly, optically forming a continuous surface of photo-detectors at the focal plane of the optical imaging system. The continuously moving wafer is illuminated by a laser pulse of duration significantly shorter than the pixel dwell time, such that there is effectively no image smear during the wafer motion. The laser pulse has sufficient energy and brightness to impart the necessary illumination to each sequentially inspected field of view required for creating an image of the inspected wafer die. A novel fiber optical illumination delivery system, which is effective in reducing the effects of source coherence is described. Other novel aspects of the system include a system for compensating for variations in the pulse energy of a Q-switched laser output, methods for autofocussing of the wafer imaging system, and novel methods for removal of repetitive features of the image by means of Fourier plane filtering, to enable easier detection of wafer defects.
Abstract translation: 通过用来自重复脉冲激光器的短光脉冲照射晶片缺陷的快速在线电光检测，晶片的一部分在成像系统的视场内移动，并将移动的晶片成像到 焦平面组件，在光学成像系统的焦平面处光学地形成光电检测器的连续表面。 持续移动的晶片被持续时间显着短于像素停留时间的激光脉冲照亮，使得在晶片运动期间实际上没有图像污迹。 激光脉冲具有足够的能量和亮度，以对于产生被检查的晶片管芯的图像所需的每个顺序检查的视场赋予必要的照明。 描述了一种有效减少源相干效应的新型光纤照明传输系统。 该系统的其他新颖的方面包括用于补偿Q开关激光输出的脉冲能量变化的系统，用于晶片成像系统的自动聚焦的方法，以及通过傅里叶平面去除图像的重复特征的新颖方法 过滤，以便更容易地检测晶片缺陷。
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公开(公告)号：KR1020180015354A
公开(公告)日：2018-02-13
申请号：KR1020160098732
申请日：2016-08-03
Applicant: 고려대학교 산학협력단
CPC classification number: H01S5/34313 , G01L1/24 , G01N21/27 , G01N21/77 , G01N2021/7756 , G01N2021/7769 , G01N2201/0612 , G01N2201/0697 , H01S5/0028 , H01S5/0071 , H01S5/0206 , H01S5/0217 , H01S5/028 , H01S5/041 , H01S5/105 , H01S5/187 , H01S5/34326 , H01S5/3434 , H01S5/42 , H01S3/0602 , G01B11/16 , G02B27/1026 , H01S3/0637
Abstract: 본발명은광결정구조레이저및 스트레인측정장치를제공한다. 이광결정구조레이저는배치평면에서매트릭스형태로 2차원적으로배열되는디스크형태의광결정구조; 및상기광 결정구조을지지하고적어도상기광 결정의측면을감싸도록배치된플랙서블기판을포함한다.
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公开(公告)号：KR1020170057672A
公开(公告)日：2017-05-25
申请号：KR1020150161054
申请日：2015-11-17
Applicant: 삼성전자주식회사 , 메사추세츠 인스티튜트 오브 테크놀로지
CPC classification number: A61B5/0075 , A61B5/725 , G01J3/44 , G01J2003/4424 , G01N21/65 , G01N2201/06113 , G01N2201/068 , G01N2201/0697 , G01N2201/12
Abstract: 라만신호측정장치및 방법에따르면, 피검체에여기광(exciting light)을조사할때, 라만산란광이발생하는타임스케일(time scale)과형광이발생하는타임스케일이다름을이용하여, 피검체로부터여기광에의한형광이발생하기전에, 피검체로부터산란된광을검출한다. 이에따라형광배경신호가최소화된라만신호를획득할수 있다.
Abstract translation: 根据拉曼信号测量设备和方法，当激发光照射到对象时，其中产生拉曼散射光的时间标度和发生荧光的时间标度彼此不同， 在通过激发光产生荧光之前检测从对象散射的光。 因此，可以获得具有最小化的荧光背景信号的拉曼信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020140049505A
公开(公告)日：2014-04-25
申请号：KR1020137023519
申请日：2012-03-07
Applicant: 바텐팔 에이 비
CPC classification number: G01N21/51 , F23N5/02 , F23N5/082 , G01K11/125 , G01K2011/322 , G01N21/53 , G01N21/65 , G01N2021/4709 , G01N2201/0697
Abstract: 본 발명은 레이저 펄스에 의해 발전 플랜트 또는 열병합 발전소의 연소실 내의 소정 위치에서 하나 이상의 가스 상태를 측정하기 위한 방법에 관한 것이다. 상기 가스 측정 방법은, 레이저 펄스를 상기 연소실 내에 방출하는 단계(S1), 레이저 펄스가 상기 연소실 내에 방출되는 제 1 시점을 측정하는 단계(S2), 상기 연소실 내의 소정 위치에서 가스 분자에 의해 후방 산란된 레이저 광원을 검출하는 단계(S3), 상기 가스 분자에 의해 후방 산란된 레이저 광원이 검출되는 제 2 시점을 측정하는 단계(S4), 상기 제 1 시점, 제 2 시점, 그리고 상기 레이저 펄스의 펄스 길이를 기초로 한 위치를 측정하는 단계(S5), 및 상기 제 2 시점에서 검출된 후방 산란 레이저 광원의 하나 이상의 특성을 기초로 하여 소정 위치에서 하나 이상의 가스 상태를 측정하는 단계(S6)를 포함한다. 또한 가스 측정 장치 및 연소 장치가 본 명세서에 제공된다.
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公开(公告)号：KR1020140039006A
公开(公告)日：2014-03-31
申请号：KR1020137034733
申请日：2012-06-11
Applicant: 케이엘에이-텐코 코포레이션
Inventor： 추앙융-호 , 암스트롱조셉제이. , 리우저스틴디안후안 , 드리빈스키블라디미르 , 브라운데이빗엘.
IPC: H01L21/66
CPC classification number: H01S3/0057 , G01N21/21 , G01N21/9501 , G01N2201/06113 , G01N2201/0683 , G01N2201/0697 , G02B5/0816 , G02B5/3083 , G02B27/281 , G02B27/283 , G02B27/286 , H01S3/083
Abstract: 펄스 증배기(pulse multiplier)는 편광 빔 스플리터(polarizing beam splitter), 파장판(wave plate), 및 한 세트의 거울들을 포함한다. 상기 편광 빔 스플리터는 입력 레이저 펄스를 받아 들인다. 상기 파장판은 상기 편광 빔 스플리터로부터 빛을 받아 들여 제 1 세트의 파장들 및 제 2 세트의 파장들을 발생시킨다. 상기 제 1 세트의 파장들은 상기 제 2 세트의 파장들과 서로 다른 편광을 가진다. 상기 편광 빔 스플리터, 상기 파장판, 및 상기 한 세트의 거울들은 고리형 공진기(ring cavity)를 생성시킨다. 상기 편광 빔 스플리터는 상기 제 1 세트의 펄스들을 상기 펄스 증배기의 출력으로서 투과시키고, 상기 제 2 세트의 펄스들을 상기 고리형 공진기로 반사시킨다. 이 펄스 증배기는 저렴한 비용으로, 최소한의 총 파워 손실로 초당 펄스들의 수를 증가시키면서 펄스당 피크 파워를 감소시킬 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020160142292A
公开(公告)日：2016-12-12
申请号：KR1020167025513
申请日：2015-03-19
Applicant: 오르보테크 엘티디.
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697
Abstract: 광학검사시스템으로서, 물체의다수의제2 영역을영상화하도록하는다수의제1 카메라; 다수의제3 조명소스; 그리고다수의제3 조명소스들로부터의조명을결합하도록하고그 다음이와같이결합된조명을다수의제2 영역으로향하도록하는하나이상의조명매니저를포함하며, 하나이상의조명매니저가비임디스트리뷰터를포함하여, 다수의비 상호간섭, 공간적으로집중된레이저펄스(non-mutually coherent, spatially concentrated laser pulses)의혼합입력비임을수신하고다수의비 상호간섭, 공간적으로집중된레이저펄스의혼합출력비임을다수의제2 영역에해당하는상응하는다수의공간적으로떨어져있는위치로향하도록하는광학검사시스템.
Abstract translation: 一种光学检查系统，包括第一多个摄像机，其操作以对物体上的第二多个区域进行成像，第三多个照明源和至少一个照明管理器，其操作以组合来自第三多个照明源的照明， 所述至少一个照明管理器包括光束分布器，其接收多个非相互相干的空间集中的激光脉冲的复合输入光束，并且引导多个非相干空间集中的激光脉冲的多个复合输出光束， - 相当一致的，空间上集中的激光脉冲到对应于第二多个区域的对应的多个空间不同的位置。
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公开(公告)号：KR1020160091897A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：KR1020167013056
申请日：2014-11-27
Applicant: 에프. 호프만-라 로슈 아게
Inventor： 알브레히트게르트루트 , 바우만에드가르 , 겐트너-리글러마르쿠스 , 칼페람슈테판 , 니스포렉크리슈티안 , 슈벤커카이-올리버 , 제어마르쿠스 , 베호브스키프레드리끄 , 베텡겔클라우스
CPC classification number: G01N21/75 , G01J3/433 , G01N21/274 , G01N21/4738 , G01N21/78 , G01N21/8483 , G01N33/48707 , G01N2021/7786 , G01N2201/0612 , G01N2201/0621 , G01N2201/0697 , G01N33/4875
Abstract: 체액 (112) 에서의적어도하나의분석물의농도를결정하기위한방법, 분석디바이스 (114), 및분석시스템 (110) 이개시되어있다. 방법은, a) 체액 (112) 의샘플을테스트캐리어 (116) 에도포하는단계; b) 적어도하나의광원 (127) 을이용함으로써테스트캐리어 (116) 를조명하는단계; c) 적어도하나의검출기 (132) 를이용함으로써테스트캐리어 (116) 에의해반송된광을수신하는단계; d) 검출기 (132) 에의해생성된적어도하나의검출기신호를평가함으로써분석물의농도를결정하는단계를포함한다. 적어도하나의광원 (127) 은적어도 2 개의변조주파수들을이용함으로써변조된다. 검출기신호는적어도 2 개의복조된검출기신호들을생성하기위하여적어도 2 개의변조주파수들로복조되고, 각각의복조된검출기신호는변조주파수들중의하나에대응한다. 방법은적어도 2 개의복조된검출기신호들의비교에기초한오류검출을포함한다.
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公开(公告)号：KR1020150119136A
公开(公告)日：2015-10-23
申请号：KR1020157024735
申请日：2014-02-10
Applicant: 콘티넨탈 테베스 아게 운트 코. 오하게 , 콘티 테믹 마이크로일렉트로닉 게엠베하
Inventor： 슈래블러,지크하르트 , 하트만,베른트 , 멘젤,마르크 , 마그누손,한스
IPC: B60T8/172 , B60W40/064 , B60W40/068 , G01N21/3554 , G01N21/55
CPC classification number: B60W40/06 , B60G2400/82 , B60G2401/14 , B60G2401/21 , B60T8/172 , B60T2210/12 , B60W40/064 , B60W40/068 , B60W2420/40 , B60W2420/52 , G01N21/3554 , G01N21/3563 , G01N21/55 , G01N2021/551 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697
Abstract: 본발명은, 차량전방에도로의상태를결정하는방법으로서, 본방법에따르면상기도로표면(113)을센서빔(106, 106')으로조명하고상기센서빔(106, 106 ')이상기도로표면(113)의상태에따라반사되고흡수되어상기반사된센서빔(115)에기초하여상기도로의상태를결정하는방법에관한것이다. 상기방법은주행방향으로차량전방에있는도로표면(113)이조명되는것을특징으로한다. 또한본 발명은대응하는빔 센서모듈에관한것이다.
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