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公开(公告)号：KR100810722B1
公开(公告)日：2008-03-07
申请号：KR1020070032742
申请日：2007-04-03
Applicant: (주)펨트론
IPC: G01B11/24
Abstract: An apparatus for measuring a surface profile and a control method thereof are provided to apply a field of view having different resolution depending on the size and disposition of electronic parts and soldering parts. An apparatus for measuring a surface profile includes a photographing part(20), and a controller(50). The photographing part includes a CCD camera(21), a condensing lens(22), a first actuator(23), and a second actuator(24). The condensing lens is disposed between an object to be measured and the CCD camera. The first actuator moves the CCD camera to adjust the distance between the CCD camera and the object. The second actuator moves the condensing lens to adjust the distance between the condensing lens and the CCD camera. The controller controls the first actuator and the second actuator to adjust the distances to vary resolution of a field of view.
Abstract translation: 提供一种用于测量表面轮廓的装置及其控制方法，以根据电子部件和焊接部件的尺寸和布置应用具有不同分辨率的视场。 用于测量表面轮廓的装置包括拍摄部分（20）和控制器（50）。 拍摄部分包括CCD照相机（21），聚光透镜（22），第一致动器（23）和第二致动器（24）。 聚光透镜设置在待测物体和CCD相机之间。 第一个执行器移动CCD摄像机来调整CCD摄像机和物体之间的距离。 第二个执行器移动聚光透镜来调节聚光透镜和CCD相机之间的距离。 控制器控制第一致动器和第二致动器以调整距离以改变视野的分辨率。
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公开(公告)号：KR100699317B1
公开(公告)日：2007-03-23
申请号：KR1020050008523
申请日：2005-01-31
Applicant: (주)펨트론
Abstract: 본 발명은 두께 및 형상 측정 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따른 두께 및 형상 측정 시스템은 광을 방출하는 광원과; 기준 미러와, 상기 광원으로부터의 광을 측정 대상물 및 상기 기준 미러로 분리 조사하는 광 분할부와, 상기 기준 미러와 상기 광 분할부 사이에 배치되어 다 파장 범위의 광을 투과하는 간섭 필터를 갖는 광 간섭모듈과; 상기 다 파장 범위를 포함하는 파장 분산 범위를 가지며, 상기 측정 대상물로부터 반사되는 광과 상기 기준 미러로부터 반사되는 광을 분광하는 분광부와; 상기 분광부에 의해 분광된 광이 결상되는 결상부와; 상기 결상부에 결상된 광의 파장 범위 중 상기 다 파장 범위를 제외한 파장 범위의 광에 기초하여 상기 측정 대상물의 두께에 대한 정보를 산출하고, 상기 산출된 두께에 대한 정보와 상기 결상부에 결상된 광 중 상기 다 파장 범위 내의 광에 기초하여 상기 측정 대상물의 형상에 대한 정보를 산출하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 두께 및 형상을 측정하는데 소요되는 시간을 감소시키면서도 제조 비용을 절감할 수 있다.
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：KR100625641B1
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：KR1020040030417
申请日：2004-04-30
Applicant: (주)펨트론
IPC: H05K13/08
Abstract: 본 발명은 X선 검사장치에 관한 것으로서, 대상물체가 안착되며 판면에 수직인 축을 회전축으로 하여 회전하는 테이블과, 상기 대상물체에 X선을 조사하는 X선 발생기와, 상기 X선 발생기가 상기 테이블의 회전평면과 소정의 각도를 이루는 평면상에서 이동하도록 형성된 X선 발생기 안내부와, 상기 대상물체를 통과한 X선을 검출하는 검출기와, 상기 검출기가 상기 테이블을 사이에 두고 상기 X선 발생기와 대향되게 동기 이동하도록 형성된 검출기 안내부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 인쇄회로 기판 상의 납땜부 등의 불량여부를 검사하기 위한 X선 검사장치를 간단하게 구성할 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020050104947A
公开(公告)日：2005-11-03
申请号：KR1020040030417
申请日：2004-04-30
Applicant: (주)펨트론
IPC: H05K13/08
CPC classification number: G01N23/043 , H05K3/341 , H05K13/08
Abstract: 본 발명은 X선 검사장치에 관한 것으로서, 대상물체가 안착되며 판면에 수직인 축을 회전축으로 하여 회전하는 테이블과, 상기 대상물체에 X선을 조사하는 X선 발생기와, 상기 X선 발생기가 상기 테이블의 회전평면과 소정의 각도를 이루는 평면상에서 이동하도록 형성된 X선 발생기 안내부와, 상기 대상물체를 통과한 X선을 검출하는 검출기와, 상기 검출기가 상기 테이블을 사이에 두고 상기 X선 발생기와 대향되게 동기 이동하도록 형성된 검출기 안내부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여 인쇄회로 기판 상의 납땜부 등의 불량여부를 검사하기 위한 X선 검사장치를 간단하게 구성할 수 있다.
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公开(公告)号：KR100495900B1
公开(公告)日：2005-06-16
申请号：KR1020020028386
申请日：2002-05-22
Applicant: (주)펨트론
Inventor： 전진환
IPC: G01N21/88
Abstract: 본 발명은 모아레 무늬를 이용한 전자부품 및 솔더 도포 검사장치에 있어서, 적어도 3 이상의 광원과; 상기 각 광원으로부터의 광에 의해 격자무늬를 생성하는 적어도 3 이상의 고정격자와; 상기 각 고정격자를 통과한 상기 격자무늬의 광들이 상호간에 위상 천이되어 각각 측정대상물에 투영되게 하는 광분할기와; 상기 광분할기를 통과한 광에 의해 상기 측정대상물에 형성된 모아레 무늬를 촬상하여 영상신호화하는 CCD 카메라와; 상기 광원들이 순차적으로 광을 조사하도록 제어하고, 상기 CCD 카메라로부터 상기 각 광원으로부터 순차적으로 조사된 광에 대응하는 적어도 3 이상의 영상신호를 수신하는 제어부와; 상기 제어부로부터 수신한 상기 3 이상의 영상신호를 이용하여 3 버킷 이상의 알고리즘을 적용하여 3차원 영상정보를 제작하는 신호 처리부를 포함하는 전자부품 및 솔더 도포 검사장치 를 포함한다. 이에 따라, 격자의 이송과 이에 따른 오차가 없으므로 전자부품에 대하여 신속하고 정밀도 높은 검사를 수행하고, 이에 따른 양/불을 판정하여 부품실장 시에 발생하는 불량을 감소하고 작업효율을 증대 할 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020030090317A
公开(公告)日：2003-11-28
申请号：KR1020020028386
申请日：2002-05-22
Applicant: (주)펨트론
Inventor： 전진환
IPC: G01N21/88
Abstract: PURPOSE: An apparatus for inspecting coating quality of an electronic part and a solder is provided to rapidly and precisely carry out an inspection process by generating a Moire pattern using a prismatic beam splitter. CONSTITUTION: An apparatus for inspecting coating quality of an electronic part and a solder includes at least one light source(10), at least one diffuser(20) for evenly diffusing light radiated from the light source(10) and at least one fixing lattice(30) for generating a lattice pattern. A beam splitter(40) is provided to allow light passing through the fixing lattice(30) to be projected on an object(1). A collimating lens(50) is provided to collect light passing through the beam splitter(40). A projection lens(60) is provided to form a Moire pattern of the object(1). The Moire pattern is converted into an image by a CCD camera(80). A signal processing section(90) makes 3-dimensional image information by processing an image signal of a control section(70).
Abstract translation: 目的：提供一种用于检查电子部件和焊料的涂层质量的装置，以通过使用棱镜分束器产生莫尔图案来快速且精确地执行检查过程。 构成：用于检查电子部件和焊料的涂层质量的装置包括至少一个光源（10），用于均匀地漫射从光源（10）辐射的光的至少一个扩散器（20）和至少一个固定格 （30），用于产生格子图案。 光束分离器（40）被设置成允许通过定影格（30）的光被投射在物体（1）上。 提供准直透镜（50）以收集通过分束器（40）的光。 提供投影透镜（60）以形成物体（1）的莫尔图案。 通过CCD照相机（80）将莫尔图案转换为图像。 信号处理部（90）通过处理控制部（70）的图像信号来进行3维图像信息。
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