用于使用时间延迟和积分传感器进行成像的时域复用

    公开(公告)号:CN102348965A

    公开(公告)日:2012-02-08

    申请号:CN201080011033.6

    申请日:2010-03-08

    Inventor: E·R·基夫特

    Abstract: 一种时间延迟积分(TDI)传感器(22),包括编号为1至N的一系列单元(42,44,42,44)。所述TDI传感器(22)配置为经由编号为2至N-1的单元将电荷从编号为1的单元转移至编号为N的单元。所述一系列单元中的每个单元(42;44)在以下意义上是敏感的或不敏感的:当所述TDI传感器(22)由具有第一光谱的光(46)均匀照明时,入射于任何不敏感单元(44)上的所述光(46)的强度最多为入射于任何敏感单元(42)上的所述光(46)的强度的90%。所述一系列单元(42,44,42,44)以下面顺序包括:第一敏感单元(42)、至少一个不敏感单元(44)、以及第二敏感单元(42)。还公开了包括TDI传感器的成像系统和对目标进行成像的方法。

    基于介质微球的荧光相关谱分析方法和装置

    公开(公告)号:CN102305782A

    公开(公告)日:2012-01-04

    申请号:CN201110228435.8

    申请日:2011-08-10

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G02B21/16 G01J3/0224 G01J3/4406 G01N21/6458

    Abstract: 本发明公开了一种基于介质微球的荧光相关谱分析方法和装置,该方法使用径向偏振光和切向偏振光分别作为荧光激发光束和荧光抑制光束,依次通过显微物镜的聚焦和介质微球的纳米喷射后,再作用于荧光样品并激发荧光信号,通过对荧光信号的收集和分析处理完成荧光相关谱分析。该装置依次包括:产生径向偏振光和切向偏振光的光源、第一显微物镜、介质微球、放置有荧光样品的样品架和第二显微物镜,还包括与第二显微物镜连接的荧光信号分析处理装置。第一显微物镜、介质微球、荧光样品和第二显微物镜均处于径向偏振光和切向偏振光的同轴光路上,且介质微球位于第一显微物镜的物方焦平面上。本发明可以有效应用于高浓度荧光分子样品中。

    自动分析装置
    78.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101939636A

    公开(公告)日:2011-01-05

    申请号:CN200980104361.8

    申请日:2009-05-01

    Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,即使在同时测定浓度水平不同的多个项目时,也可以对各个项目实施精度良好的分析。使用通过照射而激发的物质作为附着在测定对象上的标识,使其具有可变动照射强度的功能,对每个分析项目或分析容器(1)调整照射强度,以控制项目标识发出的发光量。另外,使其具有在照射中能够控制分析容器(1)的位置或角度中的至少任一种的功能,对每个分析项目调整照射光源和分析容器(1)的距离或角度中的至少任一种,以控制对测定对象的照射量。另外,使其具有可变动测光机构(2)的积分时间的功能,以对每个分析项目或分析容器(1)控制积分时间。

    用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法和设备

    公开(公告)号:CN101002082B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200580025163.4

    申请日:2005-07-27

    Abstract: 用于测量在光信号中引起的相位偏移的设备具有:第一光源,用于沿着包括例如荧光样本的样本的测量光径发射光信号;以及第二光源,用于沿着伪测量光径发射光信号。提供了测量电子电路,用于接收这些光信号,并且提供在时间上分离的、表示相应光信号的相位的输出。在使用时,由荧光样本在测量光径的光中引起相位偏移。提供了参考电子电路,用于接收表示由第一和第二光源发射的光信号的相位的信号。提供了电路,用于在第一光源的操作期间比较从这两个电路输出的光的相应相位,以提供表示第一测量相位差的输出。然后,通过在第二光源的操作期间进行类似的相位差测量并且比较这两个相位差来对该测量施加校正。

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