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公开(公告)号：CN106802184A
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201710097593.1
申请日：2017-02-22
Applicant: 西安交通大学
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0256 , G01J3/0297
Abstract: 本发明公开一种快照式紧凑噪声免疫型光场成像全偏振光谱探测装置及方法，装置包括物镜、光场调制单元、微光学阵列、面阵探测器和数据采集处理显示系统；物镜、光场调制单元、微光学阵列和面阵探测器沿入射光向依次设置；光场调制单元置于物镜的孔径光阑位置，微光学阵列置于物镜的像面位置，面阵探测器置于微光学阵列的后焦面上，并与数据采集处理显示系统相连；光场调制单元包含偏振调制模块和光谱滤光片阵列。本发明的装置适用于探测动态或快变目标的全光信息、能有效地避免由目标变化、抖动噪声、或环境变化等因素所带来的负面影响，在天文观测、空间探测、地球遥感、机器视觉及生物医学诊断等领域具有潜在的应用价值。
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公开(公告)号：CN106768341A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611045927.2
申请日：2016-11-22
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447
Abstract: 一种广域多角度偏振光谱成像系统，由广角近远心成像镜组、准直扩束镜组、偏振光谱调制模块、中继成像镜组、狭缝阵列、传像模块、光栅成像光谱仪、面阵探测器组件和数据处理单元组成；入射光经过近远心成像镜组后实现第一次成像，再经过准直扩束镜组后，形成具有一定视场角的平行光束，平行光束入射到偏振光谱调制模块，实现对光束偏振态的调制，经过中继成像镜组实现第二次成像，狭缝阵列摆放在第二次成像的像面处，狭缝阵列的作用是实现多角度观测，利用传像模块将多个狭缝对应的像面重新排列，作为光栅成像光谱仪的输入，光栅成像光谱仪获取经过偏振调制的多种观测角度的光谱色散数据，经数据处理单元，解调出多种观测角度的偏振光谱成像数据。
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公开(公告)号：CN106574870A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580042720.7
申请日：2015-07-13
Applicant: 阿奇麦杰科技公司
Inventor： 麦杰·尼西利 , 埃里克·克里斯蒂安·布勒博瑞 , 亨利·莱翁
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/10 , G01J3/4338 , G01J2003/102
Abstract: 本发明涉及光谱装置，其包括用于接收样本的分析区域(2)；至少一个发光二极管(3)，其布置为向分析区域(2)发射具有在工作波长间隔内的发光强度光谱轮廓的光束(4)；部件(5)，其用于随时间改变由所述二极管(3)在所述二极管的工作波长间隔内发射的发光强度光谱轮廓；检测器(6、8、9)，其布置为在由所述二极管(3)发射的发光强度光谱轮廓随时间变化期间，接收由所述二极管(3)发射并且已经与分析区域(2)相交的光束(4)，并且提供对由所述二极管(3)发射并且由检测器接收的光束的检测信号(A′)，所述检测信号是以取决于表示所述发光二级管的发光强度光谱轮廓的至少一个特征的信号的形式。本申请涉及导数光谱法。
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公开(公告)号：CN105606219A
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201610088442.5
申请日：2016-02-17
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447
Abstract: 本发明涉及一种楔形波导层导模共振滤波片微型光谱仪，包括复合光源、准直扩束系统、偏振片、半透半反镜、楔形波导层导模共振滤波片、面阵探测器，复色光源出射光经过准直扩束系统后输出平行光，再经过偏振片输出偏振光，偏振光投射到45度倾斜角的半透半反镜上，反射光垂直打在楔形波导层导模共振滤波片上，经过楔形波导层导模共振滤波片反射回来的光再次经过半透半反镜透射出去，由面阵探测器接收被楔形波导层导模共振滤波片反射的波段范围内的连续光谱面信息，实现线偏振态下的光谱分析。本发明结构简单、体积小、价格低廉，可实现连续光谱信息的采集。同时，满足某些物质分析对偏振态下的需求，实现物质的精准分析。
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公开(公告)号：CN103162832A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201110427910.4
申请日：2011-12-19
Applicant: 中国科学院微电子研究所 , 北京智朗芯光科技有限公司
CPC classification number: G01J3/447 , G01B11/02 , G01B2210/56 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/42 , G01N21/21 , G01N2021/213 , G02B27/14 , G02B27/40
Abstract: 本发明提供的一种包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪包括光源、第一反射单元、第一聚光单元、第二聚光单元、偏振器、第一曲面反射镜、第一平面反射镜、第二反射单元和探测单元。本发明还提供一种光学测量系统。本发明提供的包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪实现了分光后的光束的完整结合，在提高光通效率的同时，还能保持光束的偏振状态，而且系统的复杂程度比现有技术低。
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公开(公告)号：CN1841030B
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200610068280.5
申请日：2006-03-27
Applicant: 欧姆龙株式会社 , 国立大学法人北海道大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明提供一种分光偏振测定法。在该沟槽分光偏振测定法中，有效消除了表示试样分光偏振特性的参数的测量误差，该误差是由于延迟器基于试样状态的各种延迟变化而引起的。关注的焦点是通过稳定透射过延迟器的光的入射方向可保持延迟器的延迟恒定；相对于该试样，该延迟器设置在光源这一侧，从而可有效消除与测量误差相关的影响，例如由于试样引起的光线方向变化。
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公开(公告)号：CN101487738A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200910001104.3
申请日：2009-01-22
Applicant: 北京高光科技有限公司 , 通用光讯光电技术(北京)有限公司
Inventor： 姚晓天
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/1895
Abstract: 本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置，属于光谱分析技术领域，该方法包括：使被测光进入DGD装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光；测量输出光与DGD值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生成被测光的光谱。该装置包括：一个DGD装置，通过改变DGD值，接收被测光并产生不同的群时延；一个光探测器，接收经过DGD装置的光信号，同时去测量输出光的偏振态和偏振度；一个数据处理装置，通过处理来自探测器的光偏振态和偏振度信息，获得被测光的光谱。本发明可以实现很快的测量速率，用来测量与时间函数有关的快速扫描激光。可以通过控制差分群时延值，获得最小频率间隔，提高光谱分辨率。
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公开(公告)号：CN1479154A
公开(公告)日：2004-03-03
申请号：CN03110065.1
申请日：2003-04-18
Applicant: 光联通讯技术有限公司
Inventor： 李世芳
CPC classification number: G01J3/1256 , G01J3/447 , H04J14/02 , H04J14/06
Abstract: 本发明公开了一种光通道监控器(OCM)或用于分析入射光的滤波器，这种入射光载有许多诸如波分复用(WDM)或密集波分复用(DWDM)信道的窄带信号通道。该光通道监控器(OCM)或滤波器使用一种声光可调谐滤波器(AOTF)，用来接收入射光和从入射光中折射出一个诸如含有一个具有中心频率νo的测试通道的折射光。第一、第二、第三3个双折射元件分别滤出第一、第二偏振光，再从第一偏振光滤出第一、第二偏振部分，以及从第二偏振光滤出第三、第四偏振部分，通过分析比较，可以用快速有效的方式得到测试通道的光强、中心频率νo和带宽Δνo。
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公开(公告)号：CN1394275A
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：CN01803459.4
申请日：2001-01-04
Applicant: 埃科斯弗电光工程公司
Abstract: 光谱分析仪包括：一个衍射光栅(DG)；一个偏振分解单元(PDM)，用于将输入光束分解成具有相互垂直的线偏振态的第一和第二光束；和两个输出端口(EP2/1，EP2/2)，每个输出端口用于在衍射光栅(DG)衍射之后，从光栅基本上只是接收相应的一个偏振光束(LR，LT)。在其线偏振态与衍射光线相应的衍射面成任何规定的角度的情况下，将每个线偏振光束导向衍射光栅。安排是这样的，即在分析仪工作频带内的任何特定波长下，光束的偏振态基本上不随时间而改变。分析仪还可以具有一个反射镜(RAM)，用于反射第一次衍射之后离开衍射光栅的光束，以便使它们返回到衍射光栅进行第二次衍射。
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