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公开(公告)号：CN102901562A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210260839.X
申请日：2012-07-25
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 吉泽隆彦
IPC: G01J3/26
CPC classification number: G01J3/427 , B81C1/00007 , B81C1/00126 , B81C1/0015 , G01J3/0278 , G01J3/0291 , G01J3/513
Abstract: 本发明提供倾斜结构体、倾斜结构体的制造方法、以及分光传感器。倾斜结构体的制造方法包括：在基板的上方形成牺牲膜的工序（a）；在牺牲膜的上方形成第一膜的工序（b）；形成第二膜的工序（c），所述第二膜包括：与基板连接的第一部分、与第一膜连接的第二部分、位于上述第一部分和上述第二部分之间的第三部分；去除牺牲膜的工序（d）；在工序（d）之后使第二膜的上述第三部分弯曲，从而使第一膜相对于基板而倾斜的工序（e）。
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公开(公告)号：CN102893138A
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201180023902.1
申请日：2011-03-15
Applicant: 柯尼卡美能达精密光学仪器株式会社
Inventor： 鹤谷克敏
CPC classification number: G01J3/51 , G01J1/0242 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513 , G09G3/006
Abstract: 在本发明所涉及的测量探头（40）中，测量光在经由干涉膜滤光器（13A、14A、15A）由受光传感器（13B、14B、15B）接收之前，被入射到单线光纤（13C、14C、15C）。而且，干涉膜滤光器（13A、14A、15A）被形成为，根据相对于向该干涉膜滤光器（13A、14A、15A）入射的入射光的入射角度的强度分布的条件，得到与测量参数对应的透过率特性。由此，本发明的测量探头（40）使用干涉膜滤光器（13A、14A、15A），并且能够降低因其入射角度带来的透过率特性的偏差的影响。
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公开(公告)号：CN101371114B
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN200780002655.0
申请日：2007-01-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/51 , G01J3/513 , H05B33/0869
Abstract: 本发明涉及颜色受控的照明设备(1)，该照明设备具有不同原色的多个光发射器(例如LED)(L1、L2、L3、L4)。光电传感器(D1、D2、D3)包括覆盖了不同介质滤波层(21)的光电二极管(20)，其利用在整个相关光谱范围上延展的不同振荡灵敏度曲线来测量这些光发射器(L1、L2、L3、L4)的光输出。在控制单元(14)中，计算照明设备(1)的实际色点并且单独地调节所述光发射器(L1、L2、L3、L4)的发射，以便匹配以例如CIE三色刺激值给出的目标色点((X，Y，Z)目标)。
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公开(公告)号：CN102589693A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210005621.X
申请日：2012-01-10
Applicant: 奥林巴斯株式会社
Inventor： 福永康弘
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/513 , H04N5/2353 , H04N5/3537 , H04N9/045
Abstract: 本发明涉及测量像素的输出电平调整方法、颜色传感器和虚拟载片装置。测量像素的输出电平调整方法可以包括以下步骤：第一步骤，从多个先前确定的试样类型候选中选择对象试样的类型；第二步骤，基于入射在基准像素上的来自对象试样的光，测量基准像素的输出电平；第三步骤，从电平调整参数的多个候选中选择与在第一步骤中选择的对象试样相关联的电平调整参数，所述电平调整参数的多个候选与对象试样的类型相关联；第四步骤，计算测量像素的电平调整量；以及第五步骤，当测量与来自对象试样的光相对应的输出电平时，使用该电平调整量调整输出电平。
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公开(公告)号：CN101769784B
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN200810306576.5
申请日：2008-12-27
Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
Inventor： 陈杰良
IPC: G01D21/02
CPC classification number: G01C19/5628 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01P1/023 , G01P15/09 , G01P15/097 , Y10T74/12 , Y10T74/1218
Abstract: 本发明属于感测技术领域。公开一种多功能的感测器组合，它包括一基板，在基板上设置有互补金属氧化物半导体图像感测器、陀螺仪、加速度计、声音感测器及射频感测器。本发明具有图像感测、声音感测、射频感测、加速度测量、角速度测量的功能，可用于移动电话、导航仪、个人数字助手、游戏机手柄。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102213618A
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN201110079124.X
申请日：2011-03-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 山岸英一
IPC: G01J3/46
Abstract: 本发明提供一种颜色测定装置和颜色测定方法，该颜色测定装置包括：摄像部；信号产生部，其选择设定了多个测定区域的示教图像或者颜色测定用的测量图像来显示在显示装置中；照相机控制部，其控制摄像部来对显示在显示装置中的图像进行摄像；测定区域识别部，其对由摄像部摄像的示教图像进行图像处理来识别测定区域；以及颜色测定部，其测定在由摄像部摄像的测量图像中的与由测定区域识别部识别出的测定区域对应的每个测量区域的颜色。
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公开(公告)号：CN101231190B
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200810000232.1
申请日：2008-01-24
Applicant: 安华高科技ECBUIP(新加坡)私人有限公司
Abstract: 本发明公开了一种响应于混合光中的一个或多个其它光谱的感测强度估计混合光中的一个光谱的强度的设备和方法。在一个实施例中，从混合光过滤具有第一光谱的光。还从混合光过滤具有第二光谱的光，所述第二光谱不同于第一光谱。然后对具有第一光谱的光的强度以及具有第二光谱的光的强度进行感测。根据具有第一光谱的光和具有第二光谱的光的感测强度，来估计具有第三光谱的光的强度。
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公开(公告)号：CN101163438B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200680013670.0
申请日：2006-03-07
Applicant: 奥林巴斯医疗株式会社
IPC: A61B1/04
CPC classification number: G01J3/50 , A61B1/00009 , A61B1/00186 , A61B1/045 , A61B1/0638 , A61B1/0646 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/7242 , G01J3/32 , G01J3/501 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G01J2003/1221 , G01N21/255 , G02B23/24 , H04N2005/2255
Abstract: 本发明涉及用于生物体观测装置的信号处理装置，该信号处理装置能够将基于通过信号处理所得到的分光图像的生物体组织的希望深部的组织信息调整成适合于观察的色调的图像信息。矩阵运算部(436)的输出分别与累加部(438a～438c)连接，进行累加运算之后，利用调色部(440)对各个分光图像信号(∑F1～∑F3)进行颜色变换运算，由分光图像信号(∑F1～∑F3)生成分光颜色通道图像信号(Rch、Gch、Bch)，经由切换部(439)，将分光颜色通道图像(Rch、Gch、Bch)的图像发送到显示监视器(106)。
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公开(公告)号：CN102171544A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980139151.2
申请日：2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器，所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置，所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距，使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构，用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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公开(公告)号：CN102084228A
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：CN200880128023.3
申请日：2008-01-23
Applicant: 利兹法国产品公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0278 , G01J3/51 , G01J3/513
Abstract: 本发明涉及三维物体的空间色度测量设备与方法，以根据多个分析点对三维物体的平缓起伏和色度坐标进行数字化建模。为此，本发明的测量设备结合照明装置和至少四个光学探测装置，光学探测装置包括对基本相同的光波长范围敏感的至少两个双探测装置，以通过立体视觉效果确定被分析物体的平缓起伏。因此，本发明提出了一种三维物体(2)的空间色度测量设备，其包括探测头(4)，探测头(4)由物体的照明装置(14)和用于探测物体(2)反射的光的至少四个探测装置(16)组成，所述设备还包括用于处理由探测装置(16)接收的信息的处理单元(8)。至少两个双探测装置(16c，16e)对基本相同的光波长范围敏感。
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