색조에 기초한 화학적 매개변수의 값을 결정하는 센서 장치 및 그 방법
    71.
    发明公开
    색조에 기초한 화학적 매개변수의 값을 결정하는 센서 장치 및 그 방법 审中-实审
    基于色调确定化学参数值的传感器装置和方法

    公开(公告)号:KR1020170036755A

    公开(公告)日:2017-04-03

    申请号:KR1020177005168

    申请日:2015-08-31

    Abstract: 화학적매개변수의값을결정하기위한장치와방법이제공될수 있다. 하나이상의발광기는광을하우징의구멍을통해서방출하도록하우징내부에위치될수 있다. 방출된광은하우징으로부터분리될수 있는구조물의색상영역, 예컨대테스트스트립, 인쇄된색상기준등을조명할수 있다. 컬러센서는반사광을포획하며반사광을색상영역의색조를결정하는데사용될수 있는초기디지털색 공간으로변환시키도록하우징내부에위치될수 있다. 반사광은예를들어, 적어도색상영역의치수(예를들어, 미리결정된크기, 형상등)와무관하게포획될수 있다.

    Abstract translation: 可以提供用于确定化学参数的值的设备和方法。 一个或多个发光器可定位在壳体内以通过壳体的孔发射光。 发出的光可以照亮结构的颜色区域,例如可以与壳体分离的测试条,打印的颜色参考等。 捕捉反射光的颜色传感器和反射光可以位于壳体内,从而将可用于确定色彩区域的色相的初始数字色彩空间。 例如,至少可以不考虑颜色区域的尺寸(例如,预定尺寸,形状等)来捕获反射光。

    곡면 소재 검사 장치
    75.
    发明公开
    곡면 소재 검사 장치 无效
    用于检查具有弯曲表面的玻璃的装置

    公开(公告)号:KR1020160083765A

    公开(公告)日:2016-07-12

    申请号:KR1020150000302

    申请日:2015-01-02

    Applicant: 안성룡

    Inventor: 안성룡

    Abstract: 본발명은곡면형상을가지는소재에대하여평면부분과곡면부분을모두정확하게검사할수 있는곡면소재검사장치에관한것으로서, 본발명에따른곡면소재검사장치는, 피검사대상곡면소재(1)를장착하는장착지그(110); 상기장착지그(110)를회동및 상하구동시키는지그구동부(120); 상기장착지그(110)의상측에설치되며, 상기장착지그(110)에장착된피검사대상곡면소재(1)를검사하는검사카메라(130); 상기장착지그(130)의주변에설치되며, 상기곡면소재(1)에조명을조사하는조명부(150); 상기장착지그(110)를상기곡면소재(1)의검사위치에따라상하구동및 회동시키면서상기검사카메라(130)를이용하여검사하는제어부(도면에미도시);를포함한다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种能够精确检查具有弯曲表面的材料的平坦部分和弯曲部分的弯曲表面材料的装置。 根据本发明的实施例的检查曲面材料的装置包括:保持检查对象弯曲材料(1)的安装夹具(110); 夹具驱动单元,用于使安装夹具旋转或升高; 安装在安装夹具(110)的上侧的检查照相机(130),用于检查安装在安装夹具(110)中的检查对象弯曲材料(1)。 安装在所述安装夹具(130)附近以照射所述弯曲表面材料(1)的照明单元(150); 以及控制单元(未示出),以通过根据检查位置升高或旋转安装夹具(110)来检查使用检查照相机(130)的弯曲表面材料(1)。

    테스트 표면의 광학 검사
    76.
    发明授权
    테스트 표면의 광학 검사 有权
    测试表面的光学检查

    公开(公告)号:KR101256390B1

    公开(公告)日:2013-04-25

    申请号:KR1020127021485

    申请日:2005-10-05

    Abstract: 하나의 양상에서, 가령 파로시아미터(Parosiameter)와 같이 스캐터로미터(100)로부터 얻어진 영상 세기 데이터를 저장 할 필요가 있는 데이터의 양은 상기 광도 데이터가 광도에 대한 변화에 따라 그리드의 다른 영역에서 사용되는 해상도를 변화시킴으로써 줄어든다. 또 다른 양상에서, 스캐터로미터는 상기 테스트 샘플에 대한 거울의 중심이 벗어난 배치에 의해 도입된 왜곡을 수정하기 위해 테스트 샘플(180)을 영상화하는 비구면 거울(170,900,1000)로 제공된다. 또 다른 양상에서, 광학 표면 검사 장치는 상기 테스트 표면상에 패턴 그리드(1410)를 투사하기 위하여 테스트 표면(1420)과 조명된 패턴 그리드(1410) 사이에 보조 렌즈(1440)를 사용한다. 카메라(1450)는 실제의 영상으로서 상기 테스트 표면상의 그리드에 초점이 맞춰진다.

    용기 경사를 광학 검사하는 장치
    78.
    发明公开
    용기 경사를 광학 검사하는 장치 有权
    集装箱轻质光学检测

    公开(公告)号:KR1020060110000A

    公开(公告)日:2006-10-23

    申请号:KR1020067016915

    申请日:2005-01-25

    CPC classification number: G01N21/9045 G01B11/26 G01N21/90 G01N2201/0635

    Abstract: Apparatus for inspecting lean of a container (34) includes a light source (50) positioned beneath a container (34) for directing light energy (60) onto the container bottom (62) as the container is held in position and rotated around an axis (A). A light sensor (54) positioned beneath the container (34) receives portions of the light energy from the source (50) reflected from the container bottom (62). An information processor (56) is coupled to the light sensor (54) for determining, as a combined function of the reflected light energy and container rotation, departure of the container bottom (62) from a plane perpendicular to the axis (A). The container (34) preferably is held in position and rotated around an axis by a drive roller (24) that urges the container (34) against axially spaced backup rollers (26, 28) so as to define an average axis of rotation as a suction of the geometry of the container (34) and spacing between the backup rollers (26, 28).

    Abstract translation: 用于检查容器(34)的倾斜的装置包括位于容器(34)下方的用于将光能(60)引导到容器底部(62)上的光源(50),当容器保持在适当位置并围绕轴 (一个)。 位于容器(34)下方的光传感器(54)容纳来自容器底部(62)反射的源(50)的光能的一部分。 信息处理器(56)耦合到光传感器(54),用于确定作为反射光能和容器旋转的组合函数,容器底部(62)与垂直于轴线(A)的平面的偏离。 容器(34)优选地被保持在适当位置并且通过驱动辊(24)保持在适当位置,所述驱动辊(24)将容器(34)推压抵靠轴向间隔开的支撑辊(26,28),以便将平均旋转轴线定义为 抽吸容器(34)的几何形状和支承辊(26,28)之间的间隔。

    다중빔 반사광 각도 측정을 통한 시료 표면 굴곡 측정 장치

    公开(公告)号:KR101912293B1

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:KR1020170065439

    申请日:2017-05-26

    Inventor: 이익희 안창준

    CPC classification number: G01N21/55 G01N2021/177 G01N2201/0635

    Abstract: 일실시예에따른굴곡측정장치는, 빛을방출하는광원; 상기광원으로부터방출되는빛을복수개의멀티빔으로분리및 회절시키는다중빔 분기장치; 상기다중빔 분기장치를통과한멀티빔을상호평행하게만들어주는시준렌즈; 상기시준렌즈를통과하여측정시료에반사된멀티빔을측정하는비전센서; 및상기비전센서상에조사되는멀티빔이형성하는스팟의위치를측정하여상기측정시료의굴곡을계산하는제어부를포함할수 있다.

    형광 검출 광학계 및 이를 포함하는 다채널 형광 검출 장치
    80.
    发明授权
    형광 검출 광학계 및 이를 포함하는 다채널 형광 검출 장치 有权
    荧光检测光学系统和包括其的多通道荧光检测装置

    公开(公告)号:KR101799518B1

    公开(公告)日:2017-11-21

    申请号:KR1020110041994

    申请日:2011-05-03

    Abstract: 서로다른 2 이상의파장에대한형광검출이가능하며, 자동초점기능을통해항상일정한초점위치를구현할수 있는형광검출광학계및 이를포함하는다채널형광검출장치가개시된다. 개시된형광검출광학계는미세유체소자에서반사된광을수광하여, 비점수차방식또는나이프에지방식으로초점을판단하는자동초점유닛및 자동초점유닛의제어에따라대물렌즈의위치를조절하는액추에이터를포함할수 있다. 또한, 개시된형광검출광학계는, 적어도 2개의광원에서방출된광을각각미세유체소자에제공하고미세유체소자에서발생한형광을광검출기로전달하기위하여, 다수의이중대역통과필터, 다이크로익소자등을포함할수 있다.

    Abstract translation: 可用荧光检测对于其他两个中的每个波长以上,并且包括能够实现,并且它总是公开通过自动聚焦功能的某些焦点位置的荧光检测光学系统的多通道荧光检测装置。 公开的荧光通过接收从微流控装置的反射光,根据自动对焦单元的控制和用于确定聚焦的像散法或者刀口法的自动对焦单元,其检测光学系统包括致动器,用于调整物镜的位置 可以。 此外,所公开的荧光检测光学系统,至少从在微流体装置分别设置在光源发射的第二光,并传输所述荧光光从微流体装置发射到光检测器中,多个双带通滤波器的,翼元件如二向色 。“

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