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公开(公告)号：CN102879091B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201210310554.2
申请日：2012-08-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪、基于中阶梯光栅光谱仪的原子发射光谱仪、及原子发射光谱仪进行光谱测试的方法。本发明采用中阶梯光栅作为主色散元件；光源发出的光线经聚光镜聚焦在入射针孔，入射针孔出射光束经准直镜准直后入射到中阶梯光栅进行主色散，然后入射到交叉色散棱镜进行横向色散，交叉色散后经聚焦镜成像在CCD的像面上；通过改变交叉色散棱镜的入射角度，实现了200nm-900nm波段范围内的快速测量，具有宽波段、高分辨率、高灵敏度、低噪声、小体积的优点。实验结果表明本发明测试简便、灵敏度高、试样消耗量少、可实现宽波段多元素的快速测量。
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公开(公告)号：CN103852164A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201210506070.5
申请日：2012-11-30
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种获取光源光谱的方法，包括：通过利用多种已知波长的单色光源测量集成光波导电光调制器在不同波长下的半波电压，建立半波电压与波长的单调函数关系；把未知光源与同一集成光波导电光调制器光连接之后，测量集成光波导电光调制器随调制电压线性变化的干涉图谱，再对测得的干涉图谱进行傅里叶变换处理，得到入射光功率随半波电压的分布曲线，再利用已经建立的半波电压与波长的单调函数关系得出入射光功率随波长的分布曲线，由此获得未知光源的光谱。该方法无需确定集成光波导电光调制器的各种参数，操作简便、精确度高、抗干扰能力强，不仅能确定光源光谱，还可用于测量物质的可见-红外吸收光谱和荧光光谱。
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公开(公告)号：CN102778295B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201210297106.3
申请日：2012-08-21
Applicant: 南昌黄绿照明有限公司 , 南昌大学
IPC: G01J3/443
Abstract: 本发明公开了一种在线测量发光二极管外延片光致发光光谱装置，它包括反应室和控制系统，在反应室安装有MOCVD加热器、石墨衬底基座、外延片和，MOCVD喷头，特征是：在MOCVD喷头的石英棒孔中安装有石英棒和石英棒外套；激光光纤连接在激光器和激光发射准直头之间，复用光纤连接在激发接收准直头和石英棒之间，光谱光纤连接在光谱准直头和光纤光谱仪之间；控制系统对反应室、激光器和光纤光谱仪进行控制。本发明通过人为降低外延片的温度来提高光致发光的信号强度，再通过石英棒来激发和收集光致发光光谱，并在光纤光谱仪上显示出光致发光光谱。本发明具有实时监测外延片在反应室内的生长情况、保证外延片能够正常生长、减少经济损失等优点。
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公开(公告)号：CN103728020A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310731427.4
申请日：2013-12-23
Applicant: 西安理工大学
IPC: G01J3/443
Abstract: 本发明公开的检测生物超弱光子辐射光谱的方法，该方法首先准确采集活体生物样品在不同波长上的延迟发光曲线数据，然后依据细胞延迟发光的动力学方程，采用最小二乘法对各个波长下的测量数据分别进行拟合。在拟合获取的动力学方程参数中，包含了描述样品自发发光的参数ISL，此参数即为各波长下的自发发光强度。通过该方法，可以间接测量样品的自发光子辐射光谱。避免了样品自发光子辐射强度过低，无法直接探测其光谱的问题。
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公开(公告)号：CN103134779A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310039046.X
申请日：2013-01-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种快速检测II型红外超晶格界面质量的光谱方法和装置。该装置包括具有步进扫描功能的傅里叶变换红外测量系统、作为泵浦光源的激光器、变温变磁场样品测量系统、以及联接傅立叶变换红外光谱仪中探测器和电路控制板的锁相放大器、置于变温变磁场样品测量系统和激光器之间光路上的斩波器。本发明使用上述设备，通过测试II型红外超晶格的光致发光强度随磁场的衰减程度，快速检测II型红外超晶格的界面晶格质量。通过对分子束外延生长的红外波段InAs/GaSb II型超晶格的测试表明：本发明方法是一种快速便捷的检测II型超晶格界面的光学方法，其具有无损灵敏的优点，非常适用于红外II型超晶格界面微弱光学信号的检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101689222B
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN200880015308.6
申请日：2008-05-06
Applicant: 真实仪器公司
Inventor： 麦克·威伦 , 安德鲁·威克斯·昆尼 , 凯尼斯·C·哈飞 , 约翰·道格拉斯·柯莱斯
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/28 , G01J2003/2866
Abstract: 本发明涉及一种在故障检验和过程监测中使用的光谱设备辐射校准系统和方法。首先，将参考摄谱仪校准到本地基本标准(具有已知光谱强度和可追溯到参考标准的经校准的光源)。然后根据参考摄谱仪而非本地基本校准标准来校准其它摄谱仪。这通过用参考摄谱仪和待校准的摄谱仪两者观察光源来完成。来自待校准的摄谱仪的输出与参考摄谱仪的输出相比较，然后进行调整以与该输出一致。当前的校准过程能分两个阶段完成，第一阶段将摄谱仪校准到参考摄谱仪，然后在等离子腔室微调到窄带光源。作为替代，参考摄谱仪能校准到本地基本标准而光学耦合到等离子腔室。在此，本地基本标准校准光源临时定位在等离子腔室内、或者在沿着腔室内部布置的光腔室中，用于校准参考摄谱仪。当耦合到具有本地基本标准校准光源的等离子腔室时，其它摄谱仪能校准到参考摄谱仪，从而将整个光学路径中的每个组件校准到参考光源。
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公开(公告)号：CN101617219B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN200880005951.0
申请日：2008-02-22
Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司
CPC classification number: G01J3/12 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0283 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/0297 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/443 , G01N21/33 , G01N21/67 , G01N21/718 , G01N2201/0221
Abstract: 用于分析样本的成分的手持、自容式、电池供电的测试仪器包括用于激发样本的至少一部分的激发器、用于接收来自样本被激发部分的光信号的交叉色散光谱仪和用于处理关于来自光谱仪的光信号的光谱数据的处理器。激发器可包括火花发生器和反电极、激光或其他用于从样本的一部分生成光信号的设备。光谱仪具有足够宽的波长范围以使测试仪器能够探测并确定碳、磷、硫、锰、硅、铁和其他识别常见合金所必要的元素的相对含量。光谱仪包括由重量轻的材料制成的结构件，这种材料具有小的热膨胀系数(CTE)。光谱仪在期望的环境温度范围内结构稳定，不需要控制光谱仪的温度。
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公开(公告)号：CN102778295A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201210297106.3
申请日：2012-08-21
Applicant: 南昌黄绿照明有限公司
IPC: G01J3/443
Abstract: 本发明公开了一种在线测量发光二极管外延片光致发光光谱装置，它包括反应室和控制系统，在反应室安装有MOCVD加热器、石墨衬底基座、外延片和，MOCVD喷头，特征是：在MOCVD喷头的石英棒孔中安装有石英棒和石英棒外套；激光光纤连接在激光器和激光发射准直头之间，复用光纤连接在激发接收准直头和石英棒之间，光谱光纤连接在光谱准直头和光纤光谱仪之间；控制系统对反应室、激光器和光纤光谱仪进行控制。本发明通过人为降低外延片的温度来提高光致发光的信号强度，再通过石英棒来激发和收集光致发光光谱，并在光纤光谱仪上显示出光致发光光谱。本发明具有实时监测外延片在反应室内的生长情况、保证外延片能够正常生长、减少经济损失等优点。
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公开(公告)号：CN102213617B
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201110087894.9
申请日：2011-04-08
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种深紫外激光光致发光光谱仪，包括：一全固态深紫外激光器；一真空样品室与全固态深紫外激光器连接；一真空单色仪与真空样品室连接；一第一真空维持系统与真空样品室连接；一第二真空维持系统与真空单色仪连接；一低温系统和控温装置与真空样品室通过法兰连接；一样品架三维调整装置与真空样品室连接；一稳态发射谱探测系统与真空单色仪连接；一时间分辨光谱探测系统与真空单色仪连接；一真空泄漏安全系统的第一、第二控制端与第一真空维持系统连接，第三、第四控制端与第二真空维持系统连接，第五控制端与低温系统和控温装置连接；一计算机控制装置用于控制真空泄漏安全系统、真空单色仪、低温系统和控温装置、样品架三维调整装置、稳态发射谱探测系统和时间分辨光谱探测系统。
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公开(公告)号：CN102301594A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN200980155794.6
申请日：2009-12-04
Applicant: 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司
Abstract: 本发明提供了火花发生器，产生用于光学发射光谱分析(OES)的火花，其中，火花具有电流波形，该电流波形包括第一调制部分以及相对低电流和低陡度的第二调制部分，第一调制部分包括具有可变的幅值和/或峰间持续时间的多个相对高电流和高陡度峰，第二调制部分基本上没有调制的峰。火花优选地从两个或更多个可编程电流源产生。本发明还提供了包括该火花发生器的光学发射光谱仪以及使用该火花发生器的光学发射光谱分析的方法。
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